光检测芯片、图像处理装置及其运作方法制造方法及图纸

技术编号:31233412 阅读:32 留言:0更新日期:2021-12-08 10:11
一种光检测芯片、图像处理装置及其运作方法。该光检测芯片包含:光检测组件,该光检测组件用于以第一曝光时间检测光并输出第一图像;以及处理器,该处理器电性连接所述光检测组件以接收所述第一图像,并用于根据所述第一图像相关的图像参数判断运作模式,其中当判断所述运作模式为强光模式时,所述处理器输出所述第一图像,及当判断所述运作模式为弱光模式时,控制所述光检测组件以第二曝光时间检测光并输出第二图像,其中所述第二曝光时间比所述第一曝光时间长,及使用预存的学习模型将所述第二图像转换为转换后图像,再输出所述转换后图像。像。像。

【技术实现步骤摘要】
光检测芯片、图像处理装置及其运作方法
[0001]本申请是申请号为201911011986.1、申请日为2019年10月23日、名称为“光检测芯片、图像处理装置及其运作方法”的中国专利技术专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术有关一种图像处理技术,更特别有关一种适用于低照度环境的图像处理装置及其运作方法。

技术介绍

[0003]已知的图像获取装置具有可调的曝光时间。强环境光下,所述图像获取装置以短曝光获取图像。弱环境光下,所述图像获取装置以长曝光获取图像,藉以增加所获取图像中的图像特征以利正确进行物体判断。
[0004]然而,当这种图像获取装置应用于在弱环境光下获取移动物体的物体图像时,则会产生问题。由于曝光时间大幅延长了,在延长的曝光时间内移动物体与图像获取装置之间的相对移动会反映在所获取的图像中而产生模糊的物体影像,甚至在快速相对移动的情境下,有可能在某些图像中根本无法获取物体图像。
[0005]有鉴于此,一种即使在低照度环境下仍能够获取有效图像,以提高判断精确度的图像处理装置实为所需。r/>
技术实现思路
<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测芯片,该光检测芯片包含:光检测组件,该光检测组件用于以第一曝光时间检测光并输出第一图像;以及处理器,该处理器电性连接所述光检测组件以接收所述第一图像,并用于根据所述第一图像相关的图像参数判断运作模式,其中当判断所述运作模式为强光模式时,所述处理器输出所述第一图像,及当判断所述运作模式为弱光模式时,控制所述光检测组件以第二曝光时间检测光并输出第二图像,其中所述第二曝光时间比所述第一曝光时间长,及使用预存的学习模型将所述第二图像转换为转换后图像,再输出所述转换后图像。2.根据权利要求1所述的光检测芯片,其中所述学习模型是使用所述光检测组件以比所述第一曝光时间长的曝光时间获取的原始图像通过数据网络架构学习产生真实图像所产生。3.根据权利要求1所述的光检测芯片,其中所述转换后图像的图像质量、对比度、清晰度高于所述第二图像,或所述转换后图像的模糊度低于所述第二图像。4.根据权利要求1所述的光检测芯片,其中所述图像参数包含图像亮度、增益值、自动曝光的收敛时间及图像质量至少其中一者。5.根据权利要求1所述的光检测芯片,其中所述弱光模式下所述处理器不输出所述第一图像。6.根据权利要求1所述的光检测芯片,其中当所述第二图像的模糊度高于模糊度阈值时,所述处理器还用于缩短所述第二曝光时间。7.一种图像处理装置,该图像处理装置包含:光检测芯片,该光检测芯片用于以第一曝光时间检测光并输出第一图像;以及电子装置,该电子装置耦接所述光检测芯片,并包含处理器用于根据所述第一图像相关的图像参数判断运作模式,其中当判断所述运作模式为强光模式时,所述处理器使用所述第一图像进行物体判断,及当判断所述运作模式为弱光模式时,控制所述光检测芯片以第二曝光时间检测光并输出第二图像,其中所述第二曝光时间比所述第一曝光时间长,及使用预存的学习模型将所述第二图像转换为转换后图像,再使用所述转换后图像进行物体判断。8.根据权利要求7所述的图像处理装置,其中所述学习模型是...

【专利技术属性】
技术研发人员:王国振
申请(专利权)人:原相科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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