气体分析仪制造技术

本发明专利技术提供一种气体分析仪。所述气体分析仪包含：光源(110)；分光器(150)，其将由所述光源发射的光分为测量光和参考光；测量臂(510)和参考臂(530)，其中待测量的气体填充于所述测量臂中，参考气体填充于所述参考臂中，所述测量光以传播方式穿过所述测量臂，且所述参考光以传播方式穿过所述参考臂；光学检测器(750)，其接收以传播方式穿过所述测量臂的光和以传播方式穿过所述参考臂的光，且将所述所接收的光转换成电信号；以及编码器(300)，其安置于所述分光器与所述测量臂和所述参考臂之间，其中所述编码器被配置成对所述测量光和所述参考光中的一者进行编码且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。因此，所述气体分析仪的结构可简化。仪的结构可简化。仪的结构可简化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】气体分析仪


[0001]本专利技术涉及一种气体分析仪。

技术介绍

[0002]一种气体分析仪，也被称为气体分析仪器，可被配置成分析气体成分。举例来说，作为气体分析仪，光学气体分析仪通过使用气体中特定成分在特定波长的光上具有不同吸收率的特征来分析气体成分。具体来说，光可首先照射待分析的气体。接着，可借助于光电传感器接收以透射方式穿过待分析的气体的光，以获得以透射方式穿过待分析的气体的光的强度。待分析的气体中的成分吸收特定波长的光，且以透射方式穿过待分析的气体的光的强度变小，且因此，举例来说，通过比较以透射方式穿过待分析的气体的光的减小的强度与参考光的强度，可确定待分析的气体中的成分和其内容。

技术实现思路

[0003]本专利技术将解决前述和/或其它技术问题并且提供一种气体分析仪。
[0004]根据示范性实施例，一种气体分析仪包含：光源；分光器，其将由所述光源发射的光分为测量光和参考光；测量臂和参考臂，其中待测量的气体填充于所述测量臂中，参考气体填充于所述参考臂中，所述测量光以传播方式穿过所述测量臂，且所述参考光以传播方式穿本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种气体分析仪，其包括：光源(110)；分光器(150)，其将由所述光源发射的光分为测量光和参考光；测量臂(510)和参考臂(530)，其中待测量的气体填充于所述测量臂中，参考气体填充于所述参考臂中，所述测量光以传播方式穿过所述测量臂，且所述参考光以传播方式穿过所述参考臂；光学检测器(750)，其接收以传播方式穿过所述测量臂的光和以传播方式穿过所述参考臂的光，且将所述所接收的光转换成电信号；以及编码器(300)，其安置于所述分光器与所述测量臂和所述参考臂之间，其中所述编码器被配置成对所述测量光和所述参考光中的一者进行编码且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。2.根据权利要求1所述的气体分析仪，其包括：光栅(130)，其安置于所述光源与所述分光器之间，其中所述光栅(130)被配置成将从所述光源发射的所述光分离成具有不同波长的多个光束。3.根据权利要求1所述的气体分析仪，其包括透镜单元(710)、光学耦合器(730)和位置调节器(770)，其中所述透镜单元被配置成引导以传播方式穿过所述测量臂的所述光和以传播方式穿过所述参考臂的所述光，以进入所述光学耦合器，所述光学耦合器被配置成引导由所述透镜单元引导的所述光，以照射所述光学检测器；并且所述位置调节器被配置成调节所述光学检测器的位置，使得所述光学检测器位于所述光学耦合器的焦点处。4.根据权利要求1所述的气体分析仪，其中所述编码器包括：编码图案，其被配置成允许所述测量光或所述参考光中的一者的至少一个部分以透射方式穿过所述编码图案且传播到所述测量臂或所述参考臂，以对所述光束进行编码；以及遮光图案，其被配置成阻挡所述测量光或所述参考光中的另一者以透射方式穿过所述遮光图案。5.根据权利要求4所述的气体分析仪，其中所述编码图案包括彼此不同的多个编码图案，且所述编码器被配置成借助于彼此不同的所述多个编码图案中的一者在预设时间对所述测量光或所述参考光中的一者进行编码，且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。6.根据权利要求4所述的气体分析仪，其中所述编码图案包括彼此不同的多个编码图案，且所述编码器被配置成借助于彼此不同的所述多个编码图案中的多个编码图案在预设时间段对所述测量光或所述参考光中的一者进行编码，且阻挡所述测量光和所述参考光中的另一者。7.根据权利要求4所述的气体分析仪，其中所述编码图案包括遵守沃尔什
‑
哈达玛(Welsh
‑
Hadamard)算法的编码图案，且所述编码器被配置成借助于...

【专利技术属性】
技术研发人员：王同舟，李冬，杨晓波，张传雨，康尧磊，张健勇，
申请(专利权)人：西门子股份公司，
类型：发明
国别省市：