一种测试治具制造技术

本申请涉及电子器械技术领域，公开了一种测试治具，包括：基座；固定于基座上的背光板；固定于背光板背离基座一侧的测试转板；固定于测试转板背离背光板一侧的测试探针固定座，测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿测试探针固定座的探针孔；测试探针，测试探针固定于探针孔，以使测试探针的一端与测试转板接触，另一端探出探针孔；显示板固定模组，显示板固定模组用于固定安装影像显示板、并将影像显示板与测试探针固定座配合压紧，以使得测试探针与影像显示板上的测试点接触。本申请公开的测试治具，保证了测试影像没有被挡区域，从而保证了脏点测试没有盲区，很好地解决了成像有脏污的问题。污的问题。污的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具


[0001]本申请涉及电子器械
，特别涉及一种测试治具。

技术介绍

[0002]现有的测试治具(例如用于影像显示板的测试治具)，由于测试探针的长度较长，高于测试探针固定座2.5mm左右，测试探针会发生摆动的情况，而上述情况会导致测试取影的画面会有一部分被探针挡到，而被挡到的位置如果有脏污，就无法被检查出来，从而导致成像有脏污的风险。因此，如何解决成像有脏污的问题是本领域技术人员亟待解决的事情。

技术实现思路

[0003]本技术提供了一种测试治具，可有效解决现有技术中影像显示板在成像时产生脏污的问题。
[0004]为了达到上述目的，本技术提供了一种测试治具，包括：
[0005]基座；
[0006]固定于所述基座上的背光板；
[0007]固定于所述背光板背离所述基座一侧的测试转板；
[0008]固定于所述测试转板背离所述背光板一侧的测试探针固定座，所述测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿所述测试探针固定座的探针孔；
[0009]测试探针，所述测试探针固定于所述探针孔，以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括：基座；固定于所述基座上的背光板；固定于所述背光板背离所述基座一侧的测试转板；固定于所述测试转板背离所述背光板一侧的测试探针固定座，所述测试探针固定座具有多个沿厚度方向贯穿所述测试探针固定座的探针孔；测试探针，所述测试探针固定于所述探针孔，以使所述测试探针的一端与所述测试转板接触，另一端探出所述探针孔；显示板固定模组，所述显示板固定模组用于固定安装影像显示板、并将所述影像显示板与所述测试探针固定座配合压紧，以使得所述测试探针与影像显示板上的测试点接触。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括吸附装置，所述吸附装置用于当所述显示板固定模组安装影像显示板后使得所述显示板固定模组与所述基座吸附压紧。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述吸附装置包括固定于所述基座的多个第一磁吸部以及固定于所述显示板固定模组且与所述第一磁吸部一一对应的第二磁吸部。4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述显示板固定模组包括用于固定影像显示板的第一固定板和用于固定所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵朋肖，
申请(专利权)人：彩晶光电科技昆山有限公司，
类型：新型
国别省市：