图像化显示测点的方法、系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术提供一种图像化显示测点的方法、系统、设备及介质，该方法通过获取待测目标的类型信息、目标尺寸，根据类型信息确定标准尺寸及，进而确定各待测测点的测点状态，根据类型信息确定待测目标所对应的图像化显示模型，将待测测点绘制在图像化显示模型上，并根据测点状态对显示在图像化显示模型上的待测测点进行标识，以达到异常测点显示更加直观、定位更加方便简单，提升用户体验度的技术效果。提升用户体验度的技术效果。提升用户体验度的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
图像化显示测点的方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及计算机
，特别是涉及一种图像化显示测点的方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]车辆的车身在生产加工过程中，需要对车身的加工精度进行了解分析，通过对车身加工过程中若干个测点进行的尺寸分析，以期发现尺寸异常的异常测点，并及时调整，避免更大损失。
[0003]相关技术中，关于异常测点，往往需要工程师根据所找出的异常测点的测点名称进行比对后，进行位置查找，由于一个车身上可能有几千个测点，相关技术的异常测点的位置查找方式对于异常测点的定位不便，耗时耗力，用户体验度不好。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种图像化显示测点的方法、系统、设备及介质，用于解决相关技术中异常测点定位不便、耗时耗力、用户体验度不好的问题。
[0005]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种图像化显示测点的方法，所述方法包括：
[0006]获取待测目标的目标信息，所述目标信息包括类型信息和所述待测目标上各待测测点的目标尺寸；
[0007]根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的标准尺寸信息集，并确定所述待测测点的测点状态；
[0008]根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的图像化显示模型，并将所述待测测点显示在所述图像化显示模型上，对所述待测测点根据所述测点状态进行标识。
[0009]于本专利技术的一实施例中，所述目标尺寸包括多个维度上的尺寸，所述测点状态的确定方式包括：
[0010]获取所述标准尺寸信息集中所述待测测点所对应的标准尺寸阈值，所述标准尺寸阈值包括针对各维度的标准尺寸子阈值；
[0011]根据各维度上所述尺寸与标准尺寸阈值确定子尺寸差异度；
[0012]获取各维度所对应的维度影响因子，并根据所述维度影响因子和子尺寸差异度确定所述待测测点的尺寸差异度，并确定所述测点状态。
[0013]于本专利技术的一实施例中，所述方法还包括：
[0014]获取历史数据库中的历史目标信息，至少一部分所述历史目标信息包括类型信息及若干个历史测点的历史尺寸、历史异常信息、测点标识，所述异常信息包括检修建议和异常原因中至少之一；
[0015]获取目标测点的目标尺寸、类型信息和测点标识，所述目标测点包括所述测点状
态为异常的待测测点；
[0016]根据所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定异常信息。
[0017]于本专利技术的一实施例中，所述根据所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定异常信息包括：
[0018]根据所述测点标识从包括异常信息的所述历史目标信息中确定与所述对应车身信息，所述对应车身信息包括与所述待测测点具有相同测点标识的历史目标信息；
[0019]根据所述对应车身信息中所述历史尺寸和所述目标尺寸确定所述对应车身信息与目标信息的相似度；
[0020]若所述相似度高于预设相似度阈值，将所述对应车身信息中异常信息作为目标异常信息。
[0021]于本专利技术的一实施例中，所述方法还包括：
[0022]获取第一触发信息，所述第一触发信息包括选定测点，所述选定测点包括当前选定的所述目标测点；
[0023]显示所述选定测点的目标异常信息。
[0024]于本专利技术的一实施例中，所述目标信息包括若干组采用若干种测量方式的目标车身子信息，所述历史目标信息包括若干组采用若干种测量方式的目标车身子信息，所述根据所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定目标异常信息包括：
[0025]根据与所述目标信息的测量方式一致的所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定目标异常信息。
[0026]于本专利技术的一实施例中，将所述目标信息作为历史目标信息增加到所述历史数据库，所述方法还包括以下至少之一：
[0027]获取第二触发信息，所述第二触发信息包括类型信息、样本数量、测量方式和待统计测点的测点标识，在所述历史数据库中选取样本数量的所述类型信息和测量方式对应的历史目标信息，确定所述待统计测点的合格率，并显示；
[0028]获取第三触发信息，所述第三触发信息包括类型信息、样本数量和测量方式，在所述历史数据库中选取样本数量的所述类型信息和测量方式对应的历史目标信息，确定所述历史目标信息中测点状态包括异常的历史测点数量，并显示。
[0029]本专利技术还提供一种图像化显示测点的系统，所述系统包括：
[0030]获取模块，用于获取待测目标的目标信息，所述目标信息包括类型信息和所述待测目标上各待测测点的目标尺寸；
[0031]确定模块，用于根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的标准尺寸信息集，并确定所述待测测点的测点状态；
[0032]显示模块，用于根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的图像化显示模型，并将所述待测测点显示在所述图像化显示模型上，对所述待测测点根据所述测点状态进行标识。
[0033]本专利技术还提供一种图像化显示测点的设备，包括处理器，所述处理器和存储器耦合，所述存储器存储有程序指令，当所述存储器存储的程序指令被所述处理器执行时实现
上述实施例中任一项所述的方法。
[0034]本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，包括程序，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如上述实施例中任一项所述的方法。
[0035]如上所述，本专利技术提供一种图像化显示测点的方法、系统、设备及介质，该方法通过获取待测目标的类型信息、目标尺寸，根据类型信息确定标准尺寸及，进而确定各待测测点的测点状态，根据类型信息确定待测目标所对应的图像化显示模型，将待测测点绘制在图像化显示模型上，并根据测点状态对显示在图像化显示模型上的待测测点进行标识，以达到异常测点显示更加直观、定位更加方便简单，提升用户体验度的技术效果。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本专利技术于一实施例中的图像化显示测点的方法的一种流程示意图；
[0038]图2和图3为本专利技术于一实施例中对于合格率和测点状态包括异常的历史测点数量的图形表示的一种示例；
[0039]图4为本专利技术于一实施例中图像化显示测点的方法的一种具体的流程示意图；
[0040]图5为本专利技术于一实施例中历史数据采集并存入历史数据库的一种的流程示意图；
[0041]图6为本专利技术于一实施例中历史数据库的一种结构示意图；
[0042]图7为本专利技术于一实施例中将待测测点拟合在预设模型上的一种示意图；
[0043]图8为本专利技术于一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像化显示测点的方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测目标的目标信息，所述目标信息包括类型信息和所述待测目标上各待测测点的目标尺寸；根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的标准尺寸信息集，并确定所述待测测点的测点状态；根据所述类型信息确定所述待测目标所对应的图像化显示模型，并将所述待测测点显示在所述图像化显示模型上，对所述待测测点根据所述测点状态进行标识。2.如权利要求1所述的图像化显示测点的方法，其特征在于，所述目标尺寸包括多个维度上的尺寸，所述测点状态的确定方式包括：获取所述标准尺寸信息集中所述待测测点所对应的标准尺寸阈值，所述标准尺寸阈值包括针对各维度的标准尺寸子阈值；根据各维度上所述尺寸与标准尺寸阈值确定子尺寸差异度；获取各维度所对应的维度影响因子，并根据所述维度影响因子和子尺寸差异度确定所述待测测点的尺寸差异度，并确定所述测点状态。3.如权利要求1所述的图像化显示测点的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取历史数据库中的历史目标信息，至少一部分所述历史目标信息包括类型信息及若干个历史测点的历史尺寸、历史异常信息、测点标识，所述异常信息包括检修建议和异常原因中至少之一；获取目标测点的目标尺寸、类型信息和测点标识，所述目标测点包括所述测点状态为异常的待测测点；根据所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定异常信息。4.如权利要求3所述的图像化显示测点的方法，其特征在于，所述根据所述历史目标信息及所述目标测点的目标尺寸、测点标识、类型信息确定异常信息包括：根据所述测点标识从包括异常信息的所述历史目标信息中确定与所述对应车身信息，所述对应车身信息包括与所述待测测点具有相同测点标识的历史目标信息；根据所述对应车身信息中所述历史尺寸和所述目标尺寸确定所述对应车身信息与目标信息的相似度；若所述相似度高于预设相似度阈值，将所述对应车身信息中异常信息作为目标异常信息。5.如权利要求3所述的图像化显示测点的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取第一触发信息，所述第一触发信息包括选定测点，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓虎，周念念，凌黎可，罗刚，
申请(专利权)人：浙江吉利控股集团有限公司，
类型：发明
国别省市：