【技术实现步骤摘要】
直流电场作用下电极表面离子集聚的测量装置和方法
[0001]本专利技术涉及金具表面附水腐蚀
,特别涉及一种直流电场作用下电极表面离子集聚的测量装置和方法。
技术介绍
[0002]绝缘子金具腐蚀现象在超特高压直流输电线路中广泛存在,严重影响输电线路的安全运行。国内外相关学者开展了直流输电线路金具腐蚀问题的研究工作,认为泄漏电流引起的电解腐蚀是造成金具腐蚀的主要原因,但是随着直流输电线路的运行年限以及运行电压的升高,直流电场已经成为绝缘子金具腐蚀的重要因素,绝缘子金具表面吸附水滴后造成电化学腐蚀是绝缘子金具腐蚀的重要原因,但直流电场加速金具腐蚀的原理尚不明确。
[0003]事实上,溶液内部离子迁移很难直接测量,溶液内部在没有外力影响下也会存在无规则的布朗运动。在外加电场的作用下,阴阳离子会朝向相反的电位方向移动,在电极电解质界面离子的堆积效应会更加明显,空间电荷的积累伴随着自由电荷反复的入陷与脱陷,该过程造成的能量损失会导致宏观上电压的跌落,因此基于去极化电位检测法测量电极两端残压的变化,对于研究金具表面附水状态下 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种直流电场作用下电极表面离子集聚的测量装置,其特征在于,包括:升压回路和测量回路;所述升压回路包括:电源,变压器,整流装置、限流电阻和稳压电容;所述电源,变压器,整流装置和限流电阻从左到右依次串联;其中电源为220V,整流装置采用半波整流回路,稳压电容并联连接在输出端口两端,为测量回路提供稳定的直流电压;所述测量回路包括:玻璃器皿,试样溶液,铁棒电极,铁板电极和示波器;试样溶液倒入玻璃器皿内,玻璃器皿厚度为3mm,玻璃器皿的下底面与铁板电极直接接触,铁棒电极插入试样溶液内,铁棒电极一端连接升压回路中的高压端,另一端连接示波器的1:1000的衰减探头正极;铁板电极一端连接升压回路中的低压端并接地,另一端连接示波器的1:1000的衰减探头负极;通过半波整流回路将220V市电整流为直流电源,电压输出范围为0~10kV。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于:铁棒的直径为12mm,长度为12cm,放置于玻璃器皿之中,铁棒和铁板间距保持20mm。3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于:试样溶液类型为Nacl或Kcl溶液。4.根据权利要求1所述的测量装置的测量方法,其特征在于,包括以下几个步骤:步骤一,以220V市电作为激励源,通过变压器和整...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹晓斌,李瑞芳,何玉峰,杨世松,李涛,高晨霞,
申请(专利权)人:西南交通大学,
类型:发明
国别省市:
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