计算机软硬件开发性能测试用装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了计算机软硬件开发性能测试用装置，涉及计算机软硬件测试技术领域，本实用新型专利技术包括箱体和活动设置在箱体内部的测试装置本体以及升降板，测试装置本体设置在升降板的上方。本实用新型专利技术为计算机软硬件开发性能测试用装置，通过设置固定组件，将测试装置本体放置升降板上，通过向固定块方向移动测试装置本体，直至固定块上的移动柱与卡槽相卡合，再通过拧动调节螺杆，使得调节螺杆转动，从而带动移动块沿第二滑槽进行移动，直至移动块与测试装置本体的侧面相贴合，从而完成对测试装置本体的固定，其中，弹性杆和移动柱的设置，能够进一步固定测试装置本体，防止测试装置本体在移动或碰撞过程中发生偏移。体在移动或碰撞过程中发生偏移。体在移动或碰撞过程中发生偏移。

【技术实现步骤摘要】
计算机软硬件开发性能测试用装置


[0001]本技术涉及计算机软硬件测试
，特别涉及计算机软硬件开发性能测试用装置。

技术介绍

[0002]计算机由运算器、控制器、存储器、输入设备和输出设备等五个逻辑部件组成，向计算机输入数据和信息的设备，是计算机与用户或其他设备通信的桥梁，输入设备是用户和计算机系统之间进行信息交换的主要装置之一，而输入设备主要有键盘鼠标扫描仪等。
[0003]计算机硬件在开发后需要对其进行性能检测，因此需要一种计算机软硬件开发性能测试用装置。现有的计算机软硬件开发性能测试用装置在使用后不便对其进行收纳，容易导致灰尘等杂质进入设备内部，造成设备在检测时不精确，此外，现有的计算机软硬件开发性能测试用装置在收纳时不能够对装置进行固定，碰撞容易造成设备的损坏。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供计算机软硬件开发性能测试用装置，可以有效解决
技术介绍
中计算机软硬件开发性能测试用装置不便收纳和装置收纳时固定不便的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：计算机软硬件开发性能本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.计算机软硬件开发性能测试用装置，其特征在于：包括箱体(1)和活动设置在箱体(1)内部的测试装置本体(2)以及升降板(3)，所述测试装置本体(2)设置在升降板(3)的上方，所述升降板(3)通过升降组件和箱体(1)连接，所述测试装置本体(2)的侧面设置有固定组件；所述升降组件包括活动设置在箱体(1)内部的丝杆(4)和活动连接在升降板(3)底部的转动杆(5)，所述丝杆(4)的表面活动设置有滑块(6)，且所述丝杆(4)活动设置在滑块(6)内部且在滑块(6)内部转动；所述固定组件包括活动设置在升降板(3)顶部的活动块(7)和活动设置在活动块(7)侧面的调节螺杆(8)，所述升降板(3)顶部靠近活动块(7)的位置固定安装有定位板(9)，所述调节螺杆(8)远离活动块(7)的一端贯穿定位板(9)的内部。2.根据权利要求1所述的计算机软硬件开发性能测试用装置，其特征在于：所述箱体(1)的内底壁开设有第一滑槽，所述滑块(6)的底部活动设置在第一滑槽内部且在第一滑槽内部滑动。3.根据权利要求1所述的计算机软硬件开发性能测试用装置，其特征在于：所述升降板(3)顶部远离活动块(7)的一侧固定安装有固...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋艳，王本菊，谷昕澜，
申请(专利权)人：上海琦恒物联网科技有限公司，
类型：新型
国别省市：