一种IMU的环模块检验工装制造技术

本实用新型专利技术提供了一种IMU的环模块检验工装，包括：底座，底座的上侧设有三个第一安装区和一个底盒安装槽，三个第一安装区与底盒安装槽呈阵列分布，三个第一安装区均设有若干固定孔；底盒，底盒内设有用于固定光源的光源安装区和用于固定耦合器的耦合器安装槽，底盒的底部设有圆形盘纤区，底盒的侧壁设有缺口；中盖，中盖内设有用于安装PIN管的PIN管安装区和用于固定电路板的电路板安装区，中盖的底部设有贯穿的尾纤孔和光源引脚线孔，中盖的侧壁设有凹槽；底盒上可拆卸地叠放中盖，底盒安装槽上固定底盒。本实用新型专利技术解决了现有的检测工装结构复杂不紧凑，且不标准化和准确的问题。且不标准化和准确的问题。且不标准化和准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种IMU的环模块检验工装


[0001]本技术涉及检验工装
，尤其涉及一种IMU的环模块检验工装。

技术介绍

[0002]光纤环与Y波导是IMU的重要组成部分，现有的IMU生产工序一般为：检验光纤环性能
→
装配光纤环
→
装配Y波导
→
进行其余装配工序
→
测试IMU。由于Y波导与光纤环都对IMU整体性能有至关重要的作用，而Y波导的关键指标较多且检验成本较高，因此常见的检验方式为将Y波导与光纤环分别进行检测，因此其生产效率较低；或者不检测Y波导而只检测光纤环，则很可能直到产品装配完毕进入测试阶段后才能发现问题，降低了产品的质量把控率，同时也增加了排故负担。与Y波导一样，光纤环也有许多关键性能指标，若一一检测也会极大地增加成本，故一般通过将待检验光纤环装入一套固定的工装，然后用检验成品的方式检验光纤环的性能。由此看来，为了降低工序数量、提高生产效率，可以将装配光纤环与装配Y波导这两道工序合成一道装配工序，并将光纤环与Y波导的组合称为环模块，而后直接检验环模块的全温性能。现有的检测工装结构复杂不紧凑，因此，需要一种结构简单、紧凑的工装实现标准化地、准确地进行环模块的全温性能检测。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中所存在的不足，本技术提供了一种IMU的环模块检验工装，其解决了现有的检测工装结构复杂不紧凑，且不标准化和准确的问题。
[0004]根据本技术的实施例，一种IMU的环模块检验工装，包括：
[0005]底座，所述底座的上侧设有三个第一安装区和一个底盒安装槽，三个所述第一安装区与所述底盒安装槽呈阵列分布，三个第一安装区均设有若干固定孔；
[0006]底盒，所述底盒内设有用于固定光源的光源安装区和用于固定耦合器的耦合器安装槽，底盒的底部设有圆形盘纤区，底盒的侧壁设有缺口；
[0007]中盖，中盖内设有用于安装PIN管的PIN管安装区和用于固定电路板的电路板安装区，中盖的底部设有贯穿的尾纤孔和光源引脚线孔，中盖的侧壁设有凹槽；
[0008]所述底盒上可拆卸地叠放所述中盖，底盒安装槽上固定底盒。
[0009]相比于现有技术，本技术具有如下有益效果：
[0010]通过工装的分区设置，将IMU三轴的三个环模块通过在固定孔内安装螺钉，将环模块分别安装到每个第一安装区，在底盒内安装光源和耦合器，在中盖内安装PIN管和电路板，光源分别与耦合器和电路板连接，耦合器还分别与PIN管和环模块连接，电路板与环模块和供电设备亦连接。圆形盘纤区域用于保证尾纤可以盘绕成圆形，以避免产生应力。底盒的缺口用于耦合器的尾纤的穿出；中盖的尾纤孔和光源引脚线孔将底盒与中盖之间的连接线进行分类引出，避免各种连接线的混乱和互相影响；中盖的凹槽用于电路板的供电连接线、电路板与Y波导的焊接线的穿出。由此，两层盒体的设计，不仅节约了工装的整体体积、使得工装结构紧凑，还进行了合理的分类与分区，使得环模块位于盒体和中盖的附近，减少
接线的距离。从而使得对环模块的全温性能检验过程标准化，也更加确保检验结果的准确性。在检验时，只需要将三个环模块固定到第一安装区便可以进行检验，检验完毕将环模块拆下流入下一工序，再安装新的环模块进行检验。对于光源、耦合器、PIN管和电路板等检测辅助元器件，只需要一次性安装到位，便可以进行多次检测，提高效率。
[0011]优选地，所述凹槽的数量为两个，两个凹槽在中盖的侧壁上呈对称布置，其中一个凹槽和缺口的位置均位于靠近三个第一安装区的一侧；所述光源引脚线孔位于电路板安装区内，所述尾纤孔位于所述圆形盘纤区的上方。
[0012]通过设置两个凹槽，用于将电路板的供电连接线和电路板与Y波导的焊接线分开。将其中一个凹槽和缺口的位置设于靠近三个第一安装区的一侧，便于缩短连接线或者尾纤的长度，同时避免各类导线的相互缠绕。
[0013]优选地，所述耦合器安装槽的数量为四个，PIN管的数量为三个，耦合器包括一只1
×
3耦合器和三只1
×
2耦合器，所述1
×
3耦合器的输入端与光源连接，1
×
3耦合器的输出端与三只所述1
×
2耦合器的输入端连接，每只1
×
2耦合器的输出端穿过所述尾纤孔均各与一个PIN管的尾纤相熔接；1
×
3耦合器的尾纤通过所述缺口与环模块连接，光源的引脚线通过所述光源引脚线孔与电路板连接，电路板和PIN管的连接线从所述凹槽引出盒体。
[0014]通过耦合器安装槽和PIN管的数量设置，使得本工装可以同时对三个环模块进行检验，对于三轴的IMU，只测一次就可以完成检验，提高了整体的检验效率。
[0015]优选地，所述底盒和中盖的形状均为顶部敞口的圆筒状，底盒安装槽的形状与底盒相适配。
[0016]通过将底盒和中盖设置为圆筒状，耦合器的尾纤可以直接在底盒的侧壁内盘绕成圆形。
[0017]优选地，所述中盖的底部同轴向中心线固定连接有环形凸台，所述环形凸台转动内接于底盒的顶部。
[0018]通过设置环形凸台，便于中盖与底盒的对接限位，同时可以通过转动中盖调整凹槽的位置。
[0019]优选地，所述底盒的底部内侧固定有可拆卸的光源安装凸台，所述光源安装凸台位于耦合器安装槽的一侧。
[0020]通过设置光源安装凸台固定光源位置，在更换或者调整光源时，可以通过拆下光源安装凸台实现。
[0021]优选地，所述中盖的底部内侧环形阵列有多个螺柱，多个所述螺柱用于安装电路板，同时为电路板提供支撑。
[0022]优选地，本技术提供了一种IMU的环模块检验工装，还包括：
[0023]顶盖，所述顶盖可拆卸地扣接在中盖的顶部。
[0024]通过设置顶盖，用以保护中盖内的元件。
[0025]优选地，本技术提供了一种IMU的环模块检验工装，还包括：
[0026]把手，所述把手的数量为两个，两个所述把手分别固定于底座的两侧。
[0027]通过设置把手，方便工装在使用过程中的挪动。
附图说明
[0028]图1为本技术的整体结构示意图；
[0029]图2为本技术的底座的示意图；
[0030]图3为本技术的盒体的示意图；
[0031]图4为本技术的中盖的示意图；
[0032]图5为本技术的中盖的另一角度的示意图；
[0033]图6为本技术的环模块的安装座的示意图；
[0034]图7为本技术的部分IMU光路示意图；
[0035]图8为本技术的环模块全温检验示意图；
[0036]上述附图中：1、底座；11、第一安装区；12、底盒安装槽；2、底盒；21、缺口；22、耦合器安装槽；23、光源安装区；3、中盖；31、尾纤孔；32、光源引脚线孔；33、凹槽；34、螺柱；35、环形凸台；4、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IMU的环模块检验工装，其特征在于，包括：底座(1)，所述底座(1)的上侧设有三个第一安装区(11)和一个底盒安装槽(12)，三个所述第一安装区(11)与所述底盒安装槽(12)呈阵列分布，三个第一安装区(11)均设有若干固定孔；底盒(2)，所述底盒(2)内设有用于固定光源的光源安装区(23)和用于固定耦合器的耦合器安装槽(22)，底盒(2)的底部设有圆形盘纤区，底盒(2)的侧壁设有缺口(21)；中盖(3)，中盖(3)内设有用于安装PIN管的PIN管安装区和用于固定电路板的电路板安装区，中盖(3)的底部设有贯穿的尾纤孔(31)和光源引脚线孔(32)，中盖(3)的侧壁设有凹槽(33)；所述底盒(2)上可拆卸地叠放所述中盖(3)，底盒(2)安装槽上固定底盒(2)。2.如权利要求1所述的一种IMU的环模块检验工装，其特征在于：所述凹槽(33)的数量为两个，两个凹槽(33)在中盖(3)的侧壁上呈对称布置，其中一个凹槽(33)和缺口(21)的位置均位于靠近三个第一安装区(11)的一侧；所述光源引脚线孔(32)位于电路板安装区内，所述尾纤孔(31)位于所述圆形盘纤区的上方。3.如权利要求2所述的一种IMU的环模块检验工装，其特征在于：所述耦合器安装槽(22)的数量为四个，PIN管的数量为三个，耦合器包括一只1
×
3耦合器和三只1
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2耦合器，所述1
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3耦合器的输入端与光源连接，1
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3耦...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓盛兰，潘阳，祝露峰，邹伟，唐小华，
申请(专利权)人：重庆自行者科技有限公司，
类型：新型
国别省市：