一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法，系统包括：模头螺栓组、测厚仪扫描架以及数据处理装置，所述模头螺栓组包括多个模头螺栓，薄膜经模头螺栓组挤出后传送至测厚仪扫描架，所述测厚仪扫描架上设置有测厚仪，所述数据处理装置用于控制所述测厚仪采集所述薄膜的厚度数据；所述数据处理装置还用于接收所述厚度数据，根据所述厚度数据，识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并建立关于边缘收缩区域的指数函数，根据所述指数函数，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置；该系统能够有效的识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并实现边缘收缩区域的模头螺栓的自动对位。模头螺栓的自动对位。模头螺栓的自动对位。

【技术实现步骤摘要】
一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法


[0001]本专利技术涉及薄膜厚度测量
，尤其涉及一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法。

技术介绍

[0002]在薄膜生产中，薄膜原料经薄膜挤出机熔融后从底板和模头之间的空隙挤出，形成薄膜成品。对薄膜的厚度控制是通过调节螺栓的高度从而调节模头与底板之间的距离实现的，模头和螺栓固定连接，同步移动，模头位于螺栓的下方，将模头和螺栓合称模头螺栓。模头螺栓的数量为多个。测厚仪通过测量薄膜的截面获得薄膜厚度数据，在测量过程中，需要对测量的数据与模头螺栓进行对应，即对位。目前比较常规的对位方式为人工操作，薄膜成品挤出后，由人工在起始和结束两个模头螺栓对应的薄膜位置处划线做标记，薄膜成品经一段距离后到达测厚仪扫描架，测厚仪找到标记的位置，将它们之间的部分根据螺栓的宽度进行等距离划分，从而获得薄膜与螺栓的对应位置。
[0003]例如，专利文献CN111409244A公开了一种模头螺栓对位方法，具体公开了：将薄膜原料投入薄膜挤出机中熔解，从模头螺栓下方挤出熔融状的薄膜；用锐器在至少一个所述模头螺栓下方分割所述熔融状的薄膜，使之分裂成两边，熔融状的薄膜在其表面张力的作用下重新汇合在一起，汇集处形成一条划痕；划痕随熔融状的薄膜流至测量处，在测厚仪上将划痕的位置标记为对应的模头螺栓的位置。但是该方案只适用于熔融状的薄膜。
[0004]然而薄膜形成过程中必然存在边缘收缩现象，即边缘处薄膜宽度方向呈收缩状态，使得薄膜边缘处较厚，因此需要调整边缘处模头螺栓的高度，保证薄膜厚度的一致性，然而现有的等距离划分对位的方法，由于等距离划分包括了边缘收缩区的螺栓，使得对位偏差较大，造成后续调整模头螺栓高度不精确，影响薄膜厚度的一致性。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统及方法，能够有效提高模头螺栓组对位的准确性。
[0006]一种薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统，包括模头螺栓组、测厚仪扫描架以及数据处理装置，所述模头螺栓组包括多个模头螺栓，薄膜经模头螺栓组挤出后传送至测厚仪扫描架，所述测厚仪扫描架上设置有测厚仪，所述数据处理装置用于控制所述测厚仪采集所述薄膜的厚度数据；所述数据处理装置还用于接收所述厚度数据，根据所述厚度数据，识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并建立关于边缘收缩区域的指数函数，根据所述指数函数，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置。
[0007]进一步地，所述数据处理装置控制所述测厚仪按照预设的采样间隔采集所述薄膜的厚度数据。
[0008]进一步地，所述数据处理装置根据所述厚度数据，将平稳数据区间确定为薄膜的
非收缩区域，根据所述非收缩区域，确定边缘收缩区域。
[0009]进一步地，所述数据处理装置将所述非收缩区域两侧的区域分别确定为边缘收缩区域。
[0010]进一步地，所述数据处理装置还用于根据所述非收缩区域的长度信息和模头螺栓间隔，分别计算两侧的边缘收缩区域的长度和模头螺栓数量。
[0011]进一步地，所述系统还包括长度测量装置，用于测量所述非收缩区域与边缘收缩区域临界处相邻两个模头螺栓之间的薄膜长度；所述数据处理装置还用于根据所述边缘收缩区域的长度、边缘收缩区域模头螺栓数量和所述临界处相邻两个模头螺栓之间的薄膜长度，计算指数函数中的底数和指数偏移，获得关于边缘收缩区域的指数函数。
[0012]进一步地，所述边缘收缩区域的长度以及边缘收缩区域的模头螺栓数量通过以下公式进行计算：；；；其中，L为非收缩区域的长度，d为模头螺栓间距，Q为非收缩区域的模头螺栓数量，P为有效模头螺栓数量，q为边缘收缩区域的模头螺栓数量，为边缘收缩区域的长度。
[0013]进一步地，所述指数函数的形式为：；其中，x为边缘收缩区域的模头螺栓的编号，y为边缘收缩区域内的薄膜长度，a为底数，b为指数偏移；根据所述指数函数，计算边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜长度，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置。
[0014]进一步地，所述系统还包括调节机构，所述数据处理装置还用于确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置之后，生成螺栓调节控制信号控制所述调节机构调节对应的模头螺栓的高度。
[0015]一种采用上述系统的薄膜厚度测量中模头螺栓的对位方法，所述方法包括：数据处理装置控制测厚仪采集所述薄膜的厚度数据；数据处理装置接收所述厚度数据，根据所述厚度数据，识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并建立关于边缘收缩区域的指数函数，根据所述指数函数，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置。
[0016]本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统及方法，至少包括如下有益效果：（1）能够有效的识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并实现边缘收缩区域的模头螺栓的自动对位；（2）通过建立指数函数计算边缘收缩区域的每个模头螺栓对应于薄膜的位置，提
高对位精度；（3）提高对位精度，从而提高后续调整模头螺栓高度的准确性，提高薄膜厚度控制的精度，保证薄膜厚度的一致性，减少薄膜边缘材料的浪费，降低生产成本。
附图说明
[0017]图1为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统一种实施例的结构示意图。
[0018]图2为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统中采集的厚度数据一种实施例的示意图。
[0019]图3为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统中非收缩区域和边缘收缩区域一种实施例的示意图。
[0020]图4为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统中指数函数一种实施例的示意图。
[0021]图5为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统另一种实施例的结构示意图。
[0022]图6为本专利技术提供的薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位方法一种实施例的流程图。
具体实施方式
[0023]为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案做详细的说明。
[0024]参考图1，在一些实施例中，提供一种薄膜厚度测量中模头螺栓组的对位系统，包括模头螺栓组101、测厚仪扫描架102以及数据处理装置103，模头螺栓组101包括多个模头螺栓101a，薄膜100经模头螺栓组101挤出后传送至测厚仪扫描架102，测厚仪扫描架102上设置有测厚仪102a，数据处理装置103用于控制测厚仪102采集薄膜100的厚度数据；数据处理装置103还用于接收所述厚度数据，根据所述厚度数据，识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并建立关于边缘收缩区域的指数函数，根据所述指数函数，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓组对应的薄膜位置。
[0025]具体地，作为一种可选的实施方式，数据处理装置103控制测厚仪按照预设的采样间隔采集所述薄膜100的厚度数据。
[0026]其中，采样间隔可以设置为螺栓间隔的整数倍，采样间隔设置的越小，则误差越小，例如，当螺栓间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种薄膜厚度测量中模头螺栓的对位系统，其特征在于，包括模头螺栓组、测厚仪扫描架以及数据处理装置，所述模头螺栓组包括多个模头螺栓，薄膜经模头螺栓组挤出后传送至测厚仪扫描架，所述测厚仪扫描架上设置有测厚仪，所述数据处理装置用于控制所述测厚仪采集所述薄膜的厚度数据；所述数据处理装置还用于接收所述厚度数据，根据所述厚度数据，识别薄膜的非收缩区域和边缘收缩区域，并建立关于边缘收缩区域的指数函数，根据所述指数函数，确定所述边缘收缩区域内每个模头螺栓对应的薄膜位置。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置控制所述测厚仪按照预设的采样间隔采集所述薄膜的厚度数据。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置根据所述厚度数据，将平稳数据区间确定为薄膜的非收缩区域，根据所述非收缩区域，确定边缘收缩区域。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置将所述非收缩区域两侧的区域分别确定为边缘收缩区域。5.根据权利要求1或3所述的系统，其特征在于，所述数据处理装置还用于根据所述非收缩区域的长度信息和模头螺栓间隔，分别计算两侧的边缘收缩区域的长度和模头螺栓数量。6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述系统还包括长度测量装置，用于测量所述非收缩区域与边缘收缩区域临界处相邻两个模头螺栓之间的薄膜长度；所述数据处理装置还用于根据所述边缘收缩区域的长度、边缘收缩区域模头螺栓数量和所述临界处相邻两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏娜，刘波，郑建，
申请(专利权)人：浙江双元科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：