一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统制造方法及图纸

技术编号:31088191 阅读:20 留言:0更新日期:2021-12-01 12:46
本发明专利技术公开了一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统。该测试资源复用装置包括脚本划分单元、规划调度单元以及测试执行单元。该测试资源复用系统包括测试资源复用模块、测试设备以及用户交互模块。通过根据测试设备的设备状态确定并同时执行一个或多个第一测试任务,并将第一测试任务对应的第一测试设备的设备状态修改为不可用,该测试资源复用方法、装置及系统提升了嵌入式设备的测试资源利用率。利用率。利用率。

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统


[0001]本专利技术涉及嵌入式设备的测试资源复用领域,涉及一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]嵌入式系统由硬件和软件组成.是能够独立进行运作的器件。其软件内容只包括软件运行环境及其操作系统。硬件内容包括信号处理器、存储器、通信模块等在内的多方面的内容。
[0003]在现有技术中,嵌入式测试通常通过测试平台在4个阶段上进行,即模块测试、集成测试、系统测试、硬件/软件集成测试;其中,前3个阶段适用于任何软件的测试,硬件/软件集成测试阶段是嵌入式软件所特有的,目的是验证嵌入式软件与其所控制的硬件设备能否正确地交互。
[0004]但是,现有技术仍存在测试资源利用率低下的缺点。嵌入式设备在做自动化测试时会被占用,不能被其他测试任务所使用,在设备资源紧缺的情况下会影响测试和版本发布进度。
[0005]因此,当前需要一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统,从而解决现有技术中存在的上述问题。

技术实现思路

[0006]针对现存的上述技术问题,本专利技术的目的在于提供一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统,从而提升嵌入式设备的测试资源利用率。
[0007]本专利技术提供了一种嵌入式设备的测试资源复用方法,包括:根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区;其中,每个所述测试分区包括一个或多个测试任务;根据各个测试设备的设备状态以及所述多个测试分区,确定当前可执行的一个或多个第一测试任务;其中,所述设备状态包括可用和不可用,每个测试设备的初始的设备状态均为可用;执行所有第一测试任务,并将各个第一测试任务执行所需的各个第一测试设备的设备状态修改为不可用。
[0008]在一个实施例中,所述测试资源复用方法还包括:分别在每个第一测试任务执行完毕后,将执行完毕的第一测试任务对应的第一测试设备的设备状态修改为可用。
[0009]在一个实施例中,所述根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区,具体为:获取预设的测试脚本,并确定所述测试脚本所需的测试设备,并根据每个所述测试设备建立测试分区;判断测试脚本的各个测试任务所需的测试设备,并分别将各个测试任务加入对应所需的测试设备的测试分区中;其中,同一测试分区中的多个测试任务根据各自的优先级排序。
[0010]在一个实施例中,所述根据各个测试设备的设备状态以及所述多个测试分区,确定当前可执行的一个或多个第一测试任务,具体为:分别获取各个测试分区中排在首位的
优先测试任务,并分别确定执行各个优先测试任务所需要的优先测试设备组;所述优先测试设备组包括对应的优先测试任务所需的一个或多个测试设备;分别判断各个优先测试设备组两两之间是否存在资源占用冲突;若不存在,则将两个优先测试设备组所对应的优先测试任务均确定为第一测试任务;若存在,则在两个优先测试设备组所对应的优先测试任务中,选择优先级更高的优先测试任务确定为第一测试任务。
[0011]本专利技术还提供了一种嵌入式设备的测试资源复用装置,所述测试资源复用装置包括脚本划分单元、规划调度单元以及测试执行单元,其中,所述脚本划分单元用于根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区;其中,每个所述测试分区包括一个或多个测试任务;所述规划调度单元用于根据各个测试设备的设备状态以及所述多个测试分区,确定当前可执行的一个或多个第一测试任务;其中,所述设备状态包括可用和不可用,每个测试设备的初始的设备状态均为可用;所述执行调度单元用于执行所有第一测试任务,并将各个第一测试任务执行所需的各个第一测试设备的设备状态修改为不可用。
[0012]在一个实施例中,所述测试资源复用装置还包括资源释放单元,所述资源释放单元用于执行所有第一测试任务,并将各个第一测试任务执行所需的各个第一测试设备的设备状态修改为不可用。
[0013]本专利技术还提供了一种嵌入式设备的测试资源复用系统,所述测试资源复用系统包括测试资源复用模块、测试设备以及用户交互模块,所述测试设备以及用户交互模块分别与所述测试资源复用模块通信连接,其中,所述测试资源复用模块用于通过所述测试设备,根据如前所述的嵌入式设备的测试资源复用方法进行测试,从而获取测试结果;所述用户交互模块用于将所述测试结果发送给用户以及接收用户输入的用户指令。
[0014]在一个实施例中,所述用户交互模块包括可触摸/不可触摸显示屏、输入键盘、虚拟键盘、指示灯以及上述一种或多种的组合。
[0015]相比于现有技术,本专利技术实施例具有如下有益效果:
[0016]本专利技术提供了一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统,通过根据测试设备的设备状态确定并同时执行一个或多个第一测试任务,并将第一测试任务对应的第一测试设备的设备状态修改为不可用,该测试资源复用方法、装置及系统提升了嵌入式设备的测试资源利用率。
[0017]进一步地,本专利技术提供的一种嵌入式设备的测试资源复用方法、装置及系统还通过在第一测试任务执行完毕后,将对应的第一测试设备的测试状态修改为可用来释放测试资源以供其他测试任务使用,从而实现测试设备的自动复用。
附图说明
[0018]下文将结合说明书附图对本专利技术进行进一步的描述说明,其中:
[0019]图1示出了根据本专利技术的一种嵌入式设备的测试资源复用方法的一个实施例的流程图;
[0020]图2示出了根据本专利技术的一种嵌入式设备的测试资源复用装置的一个实施例的结构图;
[0021]图3示出了根据本专利技术的一种嵌入式设备的测试资源复用系统的一个实施例的结构图。
具体实施方式
[0022]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0023]具体实施例一
[0024]本专利技术实施例首先描述了一种嵌入式设备的测试资源复用方法。图1示出了根据本专利技术的一种嵌入式设备的测试资源复用方法的一个实施例的流程图。
[0025]如图1所示,该方法包括如下步骤:
[0026]S1:根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区。
[0027]由于在做自动化测试时,整个测试脚本相关的测试设备从始至终都被占用,从而导致一些测试设备无法得到充分利用。因此,本专利技术实施例通过将预设的测试脚本,根据需要占用测试设备的情况划分为多个测试分区,从而保证测试设备在自动化测试过程中最大限度地投入测试。其中,每个测试分区包括一个或多个测试任务,每个测试分区中的一个或多个测试任务的执行均需占用该测试分区所对应的测试设备。
[0028]在一个实施例中,步骤S1具体为:获取预设的测试脚本,并确定所述测试脚本所需的测试设备,并根据每个所述测试设备建立测试分区;判断测试脚本的各个测试任务所需的本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式设备的测试资源复用方法,其特征在于,包括:根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区;其中,每个所述测试分区包括一个或多个测试任务;根据各个测试设备的设备状态以及所述多个测试分区,确定当前可执行的一个或多个第一测试任务;其中,所述设备状态包括可用和不可用,每个测试设备的初始的设备状态均为可用;执行所有第一测试任务,并将各个第一测试任务执行所需的各个第一测试设备的设备状态修改为不可用。2.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试资源复用方法,其特征在于,所述测试资源复用方法还包括:分别在每个第一测试任务执行完毕后,将执行完毕的第一测试任务对应的第一测试设备的设备状态修改为可用。3.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试资源复用方法,其特征在于,所述根据所需的测试设备将预设的测试脚本划分为多个测试分区,具体为:获取预设的测试脚本,并确定所述测试脚本所需的测试设备,并根据每个所述测试设备建立测试分区;判断测试脚本的各个测试任务所需的测试设备,并分别将各个测试任务加入对应所需的测试设备的测试分区中;其中,同一测试分区中的多个测试任务根据各自的优先级排序。4.根据权利要求1所述的嵌入式设备的测试资源复用方法,其特征在于,所述根据各个测试设备的设备状态以及所述多个测试分区,确定当前可执行的一个或多个第一测试任务,具体为:分别获取各个测试分区中排在首位的优先测试任务,并分别确定执行各个优先测试任务所需要的优先测试设备组;所述优先测试设备组包括对应的优先测试任务所需的一个或多个测试设备;分别判断各个优先测试设备组两两之间是否存在资源占用冲突;若不存在,则将两个优先测试设备组所对应的优先测试任务均确定为第一测试任务;若存在,则在...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈海滨
申请(专利权)人:厦门亿联网络技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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