一种外场光电探测系统镜头灰尘污渍辐射透过率检测方法技术方案

本发明专利技术提供了一种外场光电探测系统镜头灰尘污渍辐射透过率检测方法。为保证光电探测系统目标辐射数据的一致性，需检测镜头上的灰尘污渍对探测系统辐射透过率的影响量。本发明专利技术将晴天天空背景光作为外场光电探测系统的短时间内稳定面辐射源，将光电探测系统固定对准远离太阳的某一方向，探测系统在灰尘污渍去除前后分别进行数据采集，比较探测系统在相同天空区域的辐射差异，从而精确计算镜头灰尘污渍对探测系统辐射透过率影响。该测试方法将晴空背景作为短期辐射稳定光源，外场使用条件要求较低，使用设备较为简单，有效地提高了光学系统外场辐射检测的效率及其适用性。统外场辐射检测的效率及其适用性。统外场辐射检测的效率及其适用性。

【技术实现步骤摘要】
一种外场光电探测系统镜头灰尘污渍辐射透过率检测方法


[0001]本专利技术涉及外场光学辐射测量
，特别是涉及一种外场光电探测系统镜头灰尘污渍辐射透过率检测方法。

技术介绍

[0002]在外场光学辐射测量
，光电探测系统状态的长期一致性是保证整个测量周期数据准确性的关键。光学仪器在运输、装调以及外场长时间使用过程中，光电探测系统镜头会附着一定量的灰尘、污渍及沙土等，这必会影响系统在外场使用中的目标探测及反演，为保证光电探测系统测量数据的一致性与准确性，需检测镜头上的灰尘污渍对探测系统辐射透过率的影响量。
[0003]目前辐射检测方法主要采用稳定面光源系统进行光学辐射测量，主要包括积分球系统和标准灯
‑
漫反射板系统以及太阳
‑
漫反射板等光源，例如，基于LED的光谱分布可调的光源系统(专利CN100590350C)。虽然这些测量方法及手段较为成熟，但其对待被测量的光电探测系统的口径、视场等指标的较高要求，均对光学系统野外测量具有较大限制，难以满足野外辐射检测的便捷性和实时性的要求，限制了光学系统本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种外场光电探测系统镜头灰尘污渍辐射透过率检测方法，所述的检测方法采用的天空背景辐射测量装置包括：机械固定装置，待测光电探测系统以及计算机控制系统，待测光电探测系统工作波段覆盖350nm～1100nm，待测光电探测系统视场小于5度，其特征在于，所述的检测方法包括以下步骤：步骤Ⅰ：选取光电探测系统白天测试时间、测试位置、光轴指向方向及天空选择区域，天空背景区域应为无云、无风及晴空，观测区域周围无遮挡，利用机械固定装置将光电探测系统指向远离太阳的某一天空区域，光电探测系统光轴指向方向应为背对太阳一侧，在光电探测系统天空辐射测量时，探测系统光轴指向与太阳之间的夹角应大于40度，光轴指向与太阳方位角间的夹角应大于90度，太阳天顶角应小于80度；步骤Ⅱ：根据步骤Ⅰ中光电探测系统指向位置，在灰尘污渍去除前，光电探测系统进行暗背景测量，然后光电探测系统对天空固定区域连续数据采集，每隔2分钟采集1次，共采集5次，并记录数据相应的采集时刻，其光电探测系统的响应值C(λ,T
i
)为：C(λ,T
i
)＝C
信
(λ,T
i
)
‑
C
暗
(λ,T
i
)
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(1)其中，T
i
是第i次观测的时刻，λ是观测波长，C
信
(λ,T
i
)是光电探测系统测量的信号码值，C
暗
(λ,T
i
)是光电探测系统测量的暗背景码值；步骤Ⅲ：在步骤Ⅱ光电探测系统数据采集后，立即将镜头灰尘污渍去除，使其镜头干净，干燥，镜头灰尘污渍去除时间间隔应控制在1分钟内，然后光电探测系统对相同天空区域进行数据采集，每隔2分钟采集1次，共采集5次...

【专利技术属性】
技术研发人员：王阳，胡秀清，钮新华，江丰，熊千千，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：