一种支架组件及具体该支架组件的噪声测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种支架组件及具有该支架组件的噪声测试系统，支架组件包括可沿Z轴方向旋转的第一支架本体和可沿Y轴方向旋转的第二支架本体，且所述第二支架本体转动连接于所述第一支架本体，所述第二支架本体用以供待测试件可拆卸地安装，以实现待测试件沿X轴方向的转动调节。上述支架组件可以增加两个方向的转动自由度，以及待测试件的转动调节，从而可以增加待测试件与声源的角度的影响因素，这样可以解决传统测试方案中噪声影响因素较为单一的问题；通过更精确定位噪声对待测试件的影响，有助于对待测试件噪声敏感度更深入的分析，从而可以提高待测试件噪声敏感度测试的准确性，有助于为实现降噪方案多样性提供有价值的指导。的指导。的指导。

【技术实现步骤摘要】
一种支架组件及具体该支架组件的噪声测试系统


[0001]本专利技术涉及硬件测试
，特别涉及一种支架组件。本专利技术还涉及一种具有该支架组件的噪声测试系统。

技术介绍

[0002]硬盘作为重要的存储设备，已经广泛应用于各种信息设备。随着数据容量的快速增加，硬盘制造技术也越来越精密，单体硬盘存储容量越来越大，硬盘可靠性及寿命也带来极大的挑战，其中噪声成为影响硬盘寿命的重要元素之一。
[0003]现有技术中，针对单体硬盘的噪声测试，普遍采用直接将单体硬盘放置于升降台上，通过调节升降台的高度来调节硬盘与声源之间的距离，从而完成硬盘噪声敏感度的测试。然而，上述方案仅仅考虑了硬盘与声源的距离的影响因素，测试的影响因素较为单一，测试的准确性和参考价值难以保证，以致对于降噪优化的指导也较为有限。
[0004]因此，如何避免由于测试的影响因素单一而导致影响测试的准确性，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种支架组件，可以提供两个方向的转动自由度并供待测试件沿其法向进行转本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种支架组件(1)，其特征在于，包括可沿Z轴方向旋转的第一支架本体(11)和可沿Y轴方向旋转的第二支架本体(12)，且所述第二支架本体(12)转动连接于所述第一支架本体(11)，所述第二支架本体(12)用以供待测试件(4)可拆卸地安装，以实现待测试件(4)沿X轴方向的转动调节。2.如权利要求1所述的支架组件(1)，其特征在于，所述第一支架本体(11)包括两个相对设置的支臂(111)，所述第二支架本体(12)分别通过两个沿Y轴方向设置的第一转轴转动连接于两个所述支臂(111)。3.如权利要求2所述的支架组件(1)，其特征在于，所述第一支架本体(11)还包括与两个所述支臂(111)垂直相连的连杆(112)，还包括沿Z轴方向设置并与所述连杆(112)转动连接的第二转轴。4.如权利要求3所述的支架组件(1)，其特征在于，还包括与所述第一转轴同轴设置的第一刻度盘(13)，及与所述第二转轴同轴设置的第二刻度盘(14)。5.如权利要求1
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4任意一项所述的支架组件(1)，其特征在于，所述第二支架本体(12)设有用以容置待测试件(4)的内腔(121)，还包括多个用以连接待测试件(4)和所述第二支架本体(12)、以供待测试件(4)安装于所述内腔(121)中的柔性连接件...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈强，王羽茜，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：