一种金相试样研磨抛光辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术是一种金相试样研磨抛光辅助装置，结构由底板、主轴、挡环、弹簧、加长套管、弹力绳、弯臂、夹紧装置组成。先将金相试样夹持在夹紧装置上，然后用手向下压弯臂，通过加长套管在主轴上垂直下降，使试样底面与磨盘接触，通过人手感知金相试样受力的大小，继续下压或抬起弯臂进行控制的过程中，通过弹簧和弹力绳的缓冲作用，控制下压力的平缓稳定变化，柔性控制试样下压力的大小，保证试样研磨抛光质量。由于采用了上述技术方案，此柔性辅助装置结构合理，在用机械将试样夹紧的同时可柔性的控制试样下压力的大小，减少了劳动强度，同时保证试样质量。时保证试样质量。时保证试样质量。

【技术实现步骤摘要】
一种金相试样研磨抛光辅助装置


[0001]本技术适用于金相试样研磨抛光时，对试样的夹持和柔性控制装置，具体为一种金相试样研磨抛光辅助装置。

技术介绍

[0002]对金属材料性能的研究，需要制备大量的金相试样用于微观组织和化学成分的研究。金相试样的研磨抛光是金相试样制备中的一个关键环节，很大程度上关系着试样制备的质量。一般采用人手直接握紧试样在磨盘上研磨抛光，这样会给操作人员带来很大的劳动强度，还会因为一时没有握紧或者试样底部倾斜造成试样脱手高速飞出造成人员受伤。这就需要一种可夹持试样、同时人手可感知试样下压力而进行柔性控制的辅助装置。

技术实现思路

[0003]本技术为解决目前金相试样研磨抛光时，容易发生人手因为没有握紧或者试样底部倾斜造成试样脱手的技术问题，提供一种金相试样研磨抛光辅助装置。
[0004]本技术是采用如下技术方案实现的：一种金相试样研磨抛光辅助装置，包括底板、竖直固定在底板上的主轴以及安装在主轴顶部的顶板；主轴上活动套设有一个加长套管，加长套管的一侧水平连接有一个弯臂，弯臂另一端连接有夹紧装置；主轴上在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种金相试样研磨抛光辅助装置，其特征在于，包括底板（1）、竖直固定在底板（1）上的主轴（2）以及安装在主轴（2）顶部的顶板（9）；主轴（2）上活动套设有一个加长套管（5），加长套管（5）的一侧水平连接有一个弯臂（7），弯臂（7）另一端连接有夹紧装置（8）；在主轴（2）上，在加长套管（5）下方和底板（1）之间套设有弹簧（4），在加长套管（5）顶部和顶板（9）之间连接有弹力绳（6）。2.如权利要求1所述的一种金相试样研磨抛光辅助装置，其特征在于，加长套管（5）与主轴（2）采用H8/e8窄间隙配合。3.如权利要求1或2所述的一种金相试样研磨抛光辅助装置，其特征在于，主轴（2）上在...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵瑞，刘瑞，贾贝贝，刘国庆，
申请(专利权)人：山西阳煤化工机械集团有限公司，
类型：新型
国别省市：