一种散射参数测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种散射参数测试系统，包括：测试治具，测试治具上设有测试放置位，测试放置位的旁侧设有第一测试接口；检测感应器，检测感应器用于检测被测物或外部环境的参数；网络分析仪，其设有第二测试接口，第二测试接口与第一测试接口电性连接；控制器，检测感应器和网络分析仪均与控制器信号连接，控制器可控制网络分析仪进行测试和检测感应器进行检测、以及采集检测感应器的检测数据和网络分析仪的测试数据。本技术除了测试产品的散射参数外，还通过在测试产品的旁侧设置检测感应器，可以检测产品或外部环境的信息参数，当产品出现问题时，这些信息参数提供了更多的可分析数据，从而有助于方便技术人员分析产生问题的原因。因。因。

【技术实现步骤摘要】
一种散射参数测试系统


[0001]本技术涉及无线测量
，特别涉及一种散射参数测试系统。

技术介绍

[0002]万物互联的时代以及5G移动通信的快速发展，引起了无线通信产品的迅猛增长，在无线通信产品的生产过程中需要对产品的散射参数进行测试。
[0003]由于产线测试样品的数量非常庞大，测试过程的不规范、环境变化、仪表误差等因素，难免造成产品性能参差不齐的情况。面对这种性能不一致的现象，依靠肉眼检查等人工方法是难以找到原因的，并且检查所需的工作量非常大。本领域技术人员希望有一种散射参数测试系统，可以记录可能影响测试结果的影响因素，更加方便技术人员在产品出现问题时寻找分析问题的原因。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的是提出一种散射参数测试系统，旨在解决现有技术中在产品出现问题时难以找到原因的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提出一种散射参数测试系统，包括：
[0006]测试治具，所述测试治具上设有测试放置位，所述测试放置位的旁侧设有第一测试接口；
[0007]检测感应器，其设于所述测试放置位的旁侧，所述检测感应器用于检测被测物或外部环境的参数；
[0008]网络分析仪，其设有第二测试接口，所述第二测试接口与所述第一测试接口电性连接；
[0009]控制器，所述检测感应器和所述网络分析仪均与所述控制器信号连接，所述控制器可控制所述网络分析仪进行测试和所述检测感应器进行检测、以及采集所述检测感应器的检测数据和所述网络分析仪的测试数据。
>[0010]待测试的产品放置在测试治具的测试放置位上，并把产品连接到第一测试接口，测试治具上的第一测试接口连接网络分析仪的第二测试接口；控制器控制网络分析仪通过第二测试接口和第一测试接口向产品发送测试信号，并接收产品返回的测试信号，然后网络分析仪把测试数据发送到控制器；检测感应器设置在测试放置位的旁侧，控制器控制检测感应器检测产品或外部环境的参数等，控制器采集检测感应器的检测数据。本技术除了测试产品的散射参数外，还通过在测试产品的旁侧设置检测感应器，可以检测产品或外部环境的参数，当产品出现问题时，这些信息参数提供了更多的可分析数据，从而有助于方便技术人员分析产生问题的原因。
[0011]优选地，所述测试治具的数量为多个，所述检测感应器的数量为多个，多个所述测试治具与多个所述检测感应器一一对应设置，所述散射参数测试系统还包括射频开关矩阵，所述射频开关矩阵设于所述第一测试接口与所述第二测试接口之间，所述射频开关矩
阵设有第三测试接口，所述第三测试接口与所述第二测试接口电性连接，所述射频开关矩阵内设有多个测试通道，所述测试通道的一端设有第四测试接口，所述第四测试接口与所述第一测试接口电性连接，多个所述测试通道的另一端均与所述第三测试接口电性连接，所述射频开关矩阵与所述控制器电性连接，所述控制器可控制所述测试通道的开合。
[0012]网络分析仪作为散射参数测试系统的重要仪表在微波测量中起到了关键作用。常见的网络分析仪仅有两个接口或者四个接口，对于大批量大规模测试的产线来说，极少数接口的网络分析仪是无法满足测试紧张的需求的。本技术设置射频开关矩阵，射频开关矩阵包括多个测试通道，每个测试通道对应连接一个测试治具，再通过控制器每次控制一个测试通道打开连接到网络分析仪，可以实现一个网络分析仪测试多个产品，满足大规模的测试需求。
[0013]优选地，所述控制器包括中央处理器、开关控制模块和数据采集模块，所述开关控制模块和所述数据采集模块均与所述中央处理器电性连接，所述开关控制模块与所述射频开关矩阵电性连接，所述开关控制模块用于控制多个所述测试通道的开合；所述数据采集模块与所述检测感应器电性连接，所述数据采集模块用于采集多个所述检测感应器的检测数据。
[0014]中央处理器为总控制核心，控制开关控制模块和数据采集模块动作，开关控制模块控制射频开关矩阵中的测试通道的开合，数据采集模块采集检测感应器的检测数据。
[0015]优选地，所述散射参数测试系统还包括多个显示屏，多个所述显示屏一一对应地匹配多个所述测试治具，所述控制器还包括分屏模块，所述分屏模块与所述中央处理器电性连接，多个所述显示屏均与所述分屏模块电性连接，所述分屏模块用于把每个所述测试治具的测试数据和检测数据显示于对应的所述显示屏上。
[0016]每个测试治具均对应设置一个显示屏，显示屏可以实时地显示产品的散射参数测试数据，以及检测感应器的检测数据，方便观看。
[0017]优选地，所述检测感应器为温度传感器、湿度传感器、摄像头、电磁干扰测量仪、ID识别传感器或重量传感器等传感器。温度传感器、湿度传感器和电磁干扰测量仪可以分别检测环境的温度、湿度、电磁场，ID识别传感器和重量传感器可以识别产品和检测产品的重量，还可以设置其他检测传感器，采集可能影响散射参数测试的因素。
[0018]优选地，所述散射参数测试系统还包括终端数据分析系统，所述终端数据分析系统包括数据处理器和数据存储器，所述数据处理器和所述数据存储器均与所述网络分析仪和所述控制器电性连接，所述数据处理器用于把所述网络分析仪测试的测试数据和所述检测感应器检测的检测数据进行分析处理，所述数据存储器用于保存所述网络分析仪测试的测试数据和所述检测感应器检测的检测数据。
[0019]产品的测试数据和检测传感器的检测数据发送到终端数据分析系统。数据处理器对数据进行记录和分析，可根据需要做分类整理等；数据存储器可保存数据，用于回溯数据。
[0020]优选地，所述散射参数测试系统还包括服务器，所述服务器与所述控制器和所述终端数据分析系统信号连接。终端数据分析系统的数据上传到服务器，服务器可以保存数据，或从远端对测试系统进行监控等。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0022]图1为本技术的结构示意图；
[0023]图2为本技术中射频开关矩阵、网络分析仪和测试治具的连接示意图；
[0024]图3为本技术的系统框架图；
[0025]图4为本技术中控制器、显示屏、测试治具和射频开关矩阵的连接示意图。
[0026]附图中：1
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测试治具、11
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测试放置位、12
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第一测试接口、13
‑
射频电缆、2
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检测感应器、3
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网络分析仪、31
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第二测试接口、4
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控制器、5
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射频开关矩阵、51
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第三测试接口、52
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测试通道、53<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种散射参数测试系统，其特征在于，包括：测试治具，所述测试治具上设有测试放置位，所述测试放置位的旁侧设有第一测试接口；检测感应器，其设于所述测试放置位的旁侧，所述检测感应器用于检测被测物或外部环境的参数；网络分析仪，其设有第二测试接口，所述第二测试接口与所述第一测试接口电性连接；控制器，所述检测感应器和所述网络分析仪均与所述控制器信号连接，所述控制器可控制所述网络分析仪进行测试和所述检测感应器进行检测、以及采集所述检测感应器的检测数据和所述网络分析仪的测试数据。2.如权利要求1所述的散射参数测试系统，其特征在于，所述测试治具的数量为多个，所述检测感应器的数量为多个，多个所述测试治具与多个所述检测感应器一一对应设置，所述散射参数测试系统还包括射频开关矩阵，所述射频开关矩阵设于所述第一测试接口与所述第二测试接口之间，所述射频开关矩阵设有第三测试接口，所述第三测试接口与所述第二测试接口电性连接，所述射频开关矩阵内设有多个测试通道，所述测试通道的一端设有第四测试接口，所述第四测试接口与所述第一测试接口电性连接，多个所述测试通道的另一端均与所述第三测试接口电性连接，所述射频开关矩阵与所述控制器电性连接，所述控制器可控制所述测试通道的开合。3.如权利要求2所述的散射参数测试系统，其特征在于，所述控制器包括中央处理器、开关控制模块和数据采集模块，所述开关控制模块和所述数据采集模块均与所述中央处理器电...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁家军，吴伟，巫钊，黄艳虎，王强，
申请(专利权)人：玉林师范学院，
类型：新型
国别省市：