本实用新型专利技术属于干涉仪领域，具体涉及一种用于干涉仪的检测装置，包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台；干涉仪支撑台四角设置在底板上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上，旋转台设置在高度调节装置上；高度调节装置包括本体，本体中间滑动连接有立柱，立柱上纵向均匀开设有卡孔，本体的内部贯穿有插杆，且插杆的边侧连接有第一弹簧。解决了现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量的技术问题。能满足多角度测量的技术问题。能满足多角度测量的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
一种用于干涉仪的检测装置
[0001]本技术属于干涉仪
，具体涉及一种用于干涉仪的检测装置。
技术介绍
[0002]现光学行业使用检测表面平整度的工具干涉仪(F601F II倒立式富士干涉仪)主要包括布置在下的可调节检测平台，布置在上的镜头及布置在旁的显示器三大部分。其中，检测平台用于放置被检测镜片，由于被检测透镜的曲率半径(R)不一样，所以需要根据镜片R值来调节检测平台相对于镜头的高度从而找到被检测镜片的焦点(俗称猫眼OSO)，焦点的的位置可通过显示器显示出来。
[0003]但是现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量。
技术实现思路
[0004]本技术解决的技术问题：现在的干涉仪检测装置在高频率的调高过程中，调节装置的稳定性差，使得检测台轻微晃动，影响检测结果。另外现有的干涉仪的检测装置在调节高度的同时不能转动，不能满足多角度测量。
[0005]技术方案：为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案如下：
[0006]一种用于干涉仪的检测装置，包括底板、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台；干涉仪支撑台四角设置在底板上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台的中心下方并固定在底板上，旋转台设置在高度调节装置上；
[0007]所述高度调节装置包括本体，本体中间滑动连接有立柱，立柱上纵向均匀开设有卡孔，本体的内部贯穿有插杆，且插杆的边侧连接有第一弹簧。r/>[0008]进一步地，所述插杆的外端设置把手。
[0009]进一步地，所述旋转台包括转座、转盘和刻度；所述转座固定在立柱顶部，转座的中部设有转盘，转盘可在转座上沿轴心转动，转座的边缘设有刻度。
[0010]进一步地，所述转座的中间设有孔，转盘的底部设有转轴，孔内设有轴承，转轴设置在轴承内。
[0011]进一步地，所述转座的边缘设有凸缘，凸缘上设置刻度，对应的转盘上设置箭头标记；在所述箭头标记的一旁设置外端开口的沟槽，沟槽内设置可拨动的限位磁铁，限位磁铁高于转盘；所述凸缘为铁质凸缘。
[0012]进一步地，所述限位磁铁的后部设置复位弹簧。
[0013]进一步地，所述转轴的底部设置第二弹簧；所述转盘的底端面圆周均匀设置若干卡柱，转座上表面对应卡柱的位置设置卡槽；
[0014]所述卡柱与卡槽之间为卡合连接，卡合连接后第二弹簧处于初始状态。
[0015]进一步地，所述卡柱的底部为凸起的半球形，对应的卡槽为内凹的半球形卡槽。
[0016]有益效果：与现有技术相比，本技术具有以下优点：
[0017](1)本技术在检测平台下设置高度调节装置，其中立柱沿装置本体的内部上下滑动，对装置的高度进行调节，插杆与立柱内部开设的卡孔进行卡合，对高度进行固定，通过插杆的设置，保证高度可调的同时，对高度进行固定，避免使用过程中出现晃动，影响检测结果。
[0018](2)本申请的检测平台即转盘可转动，对物品进行多角度校测，使用更加方便。转盘与转座之间通过轴承连接，转动更加顺畅。
[0019](3)在转盘与转座之间设置沟槽、限位磁铁和凸起的铁质刻度可以保证转盘转动一定角度后锁紧固定，转盘固定后便于进行检测。
附图说明
[0020]图1是本技术整体结构示意图；
[0021]图2是旋转台结构剖视图；
[0022]图3是图2的俯视图；
[0023]图4是旋转台结构剖视图。
具体实施方式
[0024]下面结合具体实施例，进一步阐明本专利技术，实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行实施，应理解这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。
[0025]如图1所示，本申请的一种用于干涉仪的检测装置，包括底板1、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台4；干涉仪支撑台4四角设置在底板1上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台4的中心下方并固定在底板1上，旋转台设置在高度调节装置上。
[0026]高度调节装置包括本体21，本体21中间滑动连接有立柱22，立柱22上纵向均匀开设有卡孔23，本体21的内部贯穿有插杆24，且插杆24的边侧连接有第一弹簧25。
[0027]使用时，将插杆24拉出，然后升高或降低立柱22，完毕后将插杆24插入卡孔23内完成高度的调节。
[0028]为了便于使用，在插杆24的外端设置把手26。
[0029]旋转台包括转座31、转盘32和刻度33，转座31固定在立柱22顶部，转座31的中部设有转盘32，转盘32可在转座31上沿轴心转动，转座31的边缘设有刻度33。
[0030]转盘32转动到固定刻度33时，转盘32盘固定，所以转盘32和转座31之间的连接方式包括但不限于以下几种：
[0031]第一种：如图2、3所示，转座31的中间设有孔34，转盘32的底部设有转轴35，孔34内设有轴承36，转轴35设置在轴承36内。转座31的边缘设有凸缘37，凸缘37上设置刻度33，对应的转盘32上设置箭头标记38，箭头标记38用于对应刻度33，在箭头标记38的一旁设置外端开口的沟槽39，沟槽39内设置可拨动的限位磁铁391，限位磁铁391高于转盘32。上述的凸缘37为铁质凸缘。当转动转盘32到指定位置后，将限位磁铁391拨动至凸缘37一侧，限位磁铁391吸附凸缘37从而将转盘32固定。
[0032]在限位磁铁391的后部设置复位弹簧392，便于限位磁铁391的拨动。
[0033]第二种：如图4所示，转座31的中间设有孔34，转盘32的底部设有转轴35，孔34内设
有轴承36，转轴35设置在轴承36内；转轴35的底部设置第二弹簧351，第二弹簧351用于连接转轴35和孔34的底部；转盘32的底端面圆周均匀设置若干卡柱321，转座31上表面对应卡柱321的位置设置卡槽311。
[0034]卡柱321与卡槽311之间为卡合连接，卡合连接后第二弹簧351处于初始状态，需要转动时，抬起转盘32，使得卡柱321与卡槽311脱离，对角度进行调节后，将转盘32放下，第二弹簧351起到复位并固定的作用，卡柱321与卡槽311重新卡合，通过卡柱321的设置，使得转向角度可被固定。
[0035]转盘32直径小于转座31，转座31的边缘设置刻度33，转盘32的表面设置箭头标记38。
[0036]为了便于滑动，卡柱321的底部为凸起的半球形，对应的卡槽311为内凹的半球形卡槽311。
[0037]由于卡槽311和卡柱321的数量有限，所以第二种方式的调节角度范围不低于10
°
，所以相比于第一种方式，第二种方式的调节角度有限。但是可满足干涉仪检测装置使用。
[0038]以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于干涉仪的检测装置，其特征在于：包括底板(1)、高度调节装置、旋转台和干涉仪支撑台(4)；干涉仪支撑台(4)四角设置在底板(1)上，高度调节装置设置在干涉仪支撑台(4)的中心下方并固定在底板(1)上，旋转台设置在高度调节装置上；所述高度调节装置包括本体(21)，本体(21)中间滑动连接有立柱(22)，立柱(22)纵向均匀开设有卡孔(23)，本体(21)的内部贯穿有插杆(24)，且插杆(24)的边侧连接有第一弹簧(25)。2.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述插杆(24)的外端设置把手(26)。3.根据权利要求1所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述旋转台包括转座(31)、转盘(32)和刻度(33)；所述转座(31)固定在立柱(22)顶部，转座(31)的中部设有转盘(32)，转盘(32)可在转座(31)上沿轴心转动，转座(31)的边缘设有刻度(33)。4.根据权利要求3所述的用于干涉仪的检测装置，其特征在于：所述转座(31)的中间设有孔(34)，转盘(32)的底部设有转轴(35)，孔(34)内设有轴承(36)...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔王斌，
申请(专利权)人：南京格奥光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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