热敏电阻装置及其制造方法制造方法及图纸

技术编号:3104154 阅读:165 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种正温度特性热敏电阻装置具有绝缘壳体,正温度特性热敏电阻器件、平板端接件和弹性端接件。对两个热敏电阻器件中具有较低电阻的一热敏电阻器件进行配平,使之具有较高电阻,该电阻近于另一器件的电阻,使得两个热敏电阻器件具有基本相同的电阻(例如电阻差在±1Ω的范围内)。换句话说,利用激光束除去具有较低电阻的热敏电阻器件的部分电极。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及热敏电阻装置,更确切地说涉及一种用于保护通信设备例如电话交换机免受过电流损害的过电流保护。过电流保护用正温度特性的热敏电阻装置是已知的。该装置具有一个外壳中容有两个正温度特性的热敏电阻器件,以便保护通信设备例如电话交换机,使其免受由通信线路以及与电力线路之类的连接的线路侵入的雷电浪涌电压引起的过电流的损害。最好使两个正温度特性热敏电阻器件之间的电阻差趋近于0。这是因为在通信设备例如电话交换机中的通信电路中需要在发送和接收电路线路之间维持电阻匹配。在常规的正温度特性热敏电阻装置中,为了使两个正温度特性热敏电阻器件间的电阻差接近0,需要繁锁的作业。在大量的正温度特性热敏电阻器件之中,需要选择和组合两个具有基本相同电阻的两个正温度特性热敏电阻器件的作业。如果制造条件稍有差别,就会使正温度特性热敏电阻器件电阻有很大差别。可以考虑这样一种方法,根据电阻将正温度特性热敏电阻器件按组分类,以及将在某一组中的电阻组合。然而,假如在不同的时间测量两个正温度特性热敏电阻器件中的每一个的电阻,由于每次测量时环境温度的变化或者由于电阻测量仪老化使记录时间变化。测量数据可能不精确,因此,两个组合的热敏电阻器件间的电阻差变大。在最坏的情况下,不可能维持在发射和接收电路线路之间的电阻匹配。还可以考虑另一种方法,测量每个正温度特性热敏电阻器件的电阻,对太低电阻的器件进行配平具有较高的电阻,使所有的热敏电阻器件具有规定的阻值。假如在它们被配平之前,在不同的时间测量两个组合的热敏电阻器件的电阻,由于上述原因,可能使测量数据不精确,造成由该测量数据得到的两个热敏电阻器件间的电阻差不精确。因而,不能精确地进行配平,两个热敏电阻器件之间的电阻差变大。因此,本专利技术的一个目的是提供一种易于制造的热敏电阻装置,其中置入的两个热敏电阻器件具有很小的电阻差,以及提供该装置的制造方法。根据本专利技术的一个方面,如在权利要求1中所述的,即通过提供的热敏电阻装置包含一绝缘壳体;容纳在绝缘壳体中的两个热敏电阻器件;以及两对用于分别层夹两个热敏电阻器件的端接件,其中两种热敏电阻器件中的具有较小电阻的一个器件被配平而具有较高的电阻,基本上与两个热敏电阻器件中的具有较高电阻的另一个器件的电阻相同,以此实现上述目的。根据如在权利要求2中所述的本专利技术的另一个方面实现上述目的,即通过提供这样的一种热敏电阻装置的制造方法,该方法包含的步骤是准备一绝缘壳体,将两个热敏电阻器件容纳在绝缘壳体中,以及准备两对用于分别层夹两个热敏电阻器件的端接件;测量两个热敏电阻器件的电阻;以及配平两个热敏电阻器件中电阻较小的一个器件使之具有较高的电阻,该较高电阻基本上与两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一个器件的电阻相同。按照权利要求3所述的本专利技术的再一个方面实现上述目的,即通过提供热敏电阻装置的制造方法,该方法包含的步骤是准备一绝缘壳体,两个容纳在绝缘壳体中的热敏电阻器件,以及两对用于分别层夹两个热敏电阻器件的端接件;基本上同时测量两个热敏电阻器件的电阻;以及配平两个热敏电阻器件中具有较低电阻的一个器件使之具有较高的电阻,该较高电阻基本上与两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一个器件的电阻相同。按照权利要求4所述的本专利技术的再一个方面实现上述目的,即通过提供一种根据权利要求3的热敏电阻装置的制造方法,但其中在这样的条件下制造将两个热敏电阻器件容纳在一绝缘壳体内,基本上同时测量两个热敏电阻器件的电阻,以及对两个热敏电阻器件中具有较低电阻的一个器件配平使之具有较高的电阻,该较高的电阻基本上与两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一个器件的电阻相同。按照权利要求5的本专利技术的再一个方面,实现上述目的,即通过提供按照权利要求3的热敏电阻装置的制造方法,但其中在这样的条件下,其中将两个热敏电阻器件容纳在绝缘壳体中,基本上同时测量两个热敏电阻器件的电阻,以及利用一经过绝缘壳体的开孔入射的高能射束对两个热敏电阻器件中具有较低电阻的一个器件进行配平,使之具有较高的电阻,该较高的电阻基本上与两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一器件的电阻相同。在根据权利要求1的热敏电阻装置和根据权利要求2的热敏电阻装置的制造方法中,仅对两个热敏电阻器件中的一个进行配平而对另一个热敏电阻器件不需要进行配平。因此,与常规的热敏电阻装置相比,配平工作量减半。在根据权利要求3的制造热敏电阻器件的方法中,几乎同时测量两个热敏电阻器件的电阻,因而这种测量几乎不可能受到由于在测量电阻时由于环境温度变化以及由于电阻测量仪老化引起记录时间变化产生的不利影响。因此,精确地测量了两个热敏电阻器件之间的电阻差,及对具有较低电阻的热敏电阻器件进行精确的配平。在根据权利要求4的热敏电阻器件的制造方法中,由于配平和测量电阻基本同时和在这样一种条件下进行的,即其中将两个热敏电阻器件容纳在同一个壳体内,顺畅地进行组装,只有很少机会可能在热效电阻器件上产生裂纹或碎裂,故防止了电阻变化。在按照权利要求5的热敏电阻器件的制造方法中,由于在配平时使用高能射束,外部物质几乎不能进入壳内,提高了热敏电阻器件的可靠性。因此,得到了一种易于制造的热敏电阻装置,其在两个内置的热敏电阻器件中间只有很小的电阻差。附图说明图1是表示根据本专利技术的的第一实施例的局部剖开的正面图。图2是用在图1中所示的热敏电阻装置中的两个热敏电阻器件中的一个器件的透视图。图3是用在图1中所示的热敏电阻装置中的两个热敏电阻器件中的另一个器件的透视图。图4是表示根据本专利技术的的第二实施例的平面图。图5是沿图4中的线V-V所取的局部断面图。图6是表示图4中的热敏电阻装置的制造方法的步骤的平面图。图7是表示接着图6所示部分的制造方法的步骤的局部断面图。图8是接着图6所示部分的制造方法的步骤的局部断面图。图9是用于根据另一实施例的热敏电阻装置的热敏电阻器件的透视图。图10是用于再一实施例的热敏电阻装置的热敏电阻器件的透视图。图11是用于再一实施例的热敏电阻装置的热敏电阻器件的透视图。图12是用于再一实施例的热敏电阻装置的热敏电阻器件的透视图。下面参照各附图介绍根据本专利技术的的各优选实施例。第一实施例图1所示的正温度特性热敏电阻装置包含绝缘壳体1、盖2、两个正温度特性热敏电阻器件5和6,两个平板端接件10和11,两个弹性端接件12和13,以及绝缘平板15。绝缘壳体1在左手侧开孔处用盖2封密。适用于绝缘壳体1和盖2的材料包括热固性树脂例如酚(phenol)和热塑性树脂例如聚苯撑硫(polyphenylene sulfide)。正温度特性热敏电阻器件5和6呈圆形,如图2和3所示,由陶瓷例如BaTiO3制成。热敏电阻器件5和6在各自的前后平面具有电极5a、5b、6a和6b。对两个热敏电阻器件中具有较小电阻的一个器件进行配平,使之具有较高电阻,该较高电阻近于另外器件的电阻,使两个热敏电阻器件具有基本相同的电阻(例如,差在±1Ω之内)。在第一实施例中,利用激光进行配平,除去热敏电阻器件6的电极6a的一部分。绝缘平板15由一种具有良好导热性的材料制成,例如与绝缘壳体1整体构成。平板端接件10和11分别配置在绝缘平板15和热敏电阻器件5,以及绝缘平板15和热敏电阻器件6之间,并接触绝缘平板15的一个壁表面和热敏电阻器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种热敏电阻装置,包含: 一绝缘壳体; 两个热敏电阻器件,容纳在所述绝缘壳体中;以及 两对端接件,用于分别层夹所述两个热敏电阻器件; 其中对所述两个热敏电阻器件中具有较小电阻的一个器件进行配平,使之具有较高的电阻,该电阻基本上与所述两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一器件的电阻相同。

【技术特征摘要】
JP 1995-3-3 43697/951.一种热敏电阻装置,包含一绝缘壳体;两个热敏电阻器件,容纳在所述绝缘壳体中;以及两对端接件,用于分别层夹所述两个热敏电阻器件;其中对所述两个热敏电阻器件中具有较小电阻的一个器件进行配平,使之具有较高的电阻,该电阻基本上与所述两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一器件的电阻相同。2.一种热敏电阻装置的制造方法,包含的步骤是准备一绝缘壳体,两个要容纳在所述绝缘壳体中的热敏电阻器件,以及两对用于分别层夹所述两个热敏电阻器件的端接件;测量所述两个热敏电阻器件的电阻;对所述两个热敏电阻器件中的具有较低电阻的一个器件进行配平,使之具有较高电阻,该电阻基本上与所述两个热敏电阻器件中具有较高电阻的另一器件的电阻相同。3.一种热敏电阻装置的制造方法,包含的步骤是准备一绝缘壳体,两个要容纳在所述绝缘壳体中的热敏电阻器件,以及两对用于分别层夹所述两个热敏电阻器件的端接件;基本上同时测...

【专利技术属性】
技术研发人员:胜木隆与鹿间隆
申请(专利权)人:株式会社村田制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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