一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统技术方案

本发明专利技术提供了一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统，该测试方法包括：将被测设备的最差方向放置在远离接收天线的泡沫桌上，设置自动识别杂散信号的功率值阈值，分别设置接收天线的极化方向和垂直方向，并将天线高度从低到高升降，转台从0度到360度旋转，得到对应的3个不同的扫描曲线的结果图；获得功率值阈值的信号中功率最大的杂散信号所在的频率点，控制频谱分析仪将这个频点放大到100MHz或者50MHz的频带显示中，按照前述步骤以更慢的速度再次进行扫描，确定转台固定角度和接收天线固定高度，最后再次进行扫描，获得测试数据。本发明专利技术的技术方案提升测试效率，降低测试时间成本，进一步提高辐射杂散测试结果的准确性。进一步提高辐射杂散测试结果的准确性。进一步提高辐射杂散测试结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统


[0001]本专利技术涉及无线通信设备的辐射杂散测试
，尤其涉及一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统。

技术介绍

[0002]无线通信设备的辐射杂散是产生通信干扰的重要原因之一，它的存在严重恶化了电磁环境，进而降低频率资源的使用效率，干扰无线通信设备的正常运行。因此，辐射杂散测试一直是无线通信设备测试的主要内容之一。几乎所有的通信制式，在其标准中都对该系统设备的辐射杂散提出了明确的指标。同时辐射杂散测试是无线通信产品进行相关国家法规强制认证一项必测的项目，也是国家质检部门抽查时最主要的测试指标之一。
[0003]根据ITU
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R SM.329
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11建议书的内容，辐射杂散指的是在必要带宽之外的某个或某些频率的辐射发射，其发射电平可降低而不致影响相应信息的传输。它包括谐波发射、寄生发射、互调产物及变频产物，但带外发射除外。
[0004]目前最成熟的辐射杂散测试方法为远场测试，在现有的相关法规及标准中，认证级别的测试首选远场测试方法，通过在电波暗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多检波方式辐射杂散测试方法，其特征在于，其包括：步骤S1，通过测量被测设备所有方向上的发射功率，确定被测设备的最差方向，将被测设备的最差方向放置在远离接收天线的泡沫桌上；步骤S2，导入测试路径参数文件，控制频谱分析仪设置三个不同的扫描曲线进行扫描；步骤S3，设置参数，设置自动识别杂散信号的频率流程的功率值阈值；步骤S4，设置接收天线的为水平极化方向，天线高度从低升到高处，将放置被测设备的转台从0度到360度旋转，频谱分析仪保持测试状态，得到对应的3个不同的扫描曲线的结果图；步骤S5，设置接收天线的为垂直极化方向，天线高度从低到高升降，转台从0度到360度旋转，频谱分析仪保持测试状态，得到对应的3个不同的扫描曲线的结果图；步骤S6，识别步骤S4和步骤S5的测试结果中第一个扫描曲线超过步骤S5设置的功率值阈值的信号中功率最大的杂散信号所在的频率点；对于该频率点，控制频谱分析仪将这个频点放大到100MHz或者50MHz的频带显示中，频谱分析仪其他设置和全频段扫描保持一致；步骤S7，将天线切换到全频段扫描中找到的最大杂散信号所对应的极化，将天线采用慢于步骤S4中的升降速度从低升到高处，并进行扫描，找到最大杂散信号的值并记录下此时天线的高度，最后将天线固定在该高度。2.步骤S8，将转台用慢于步骤S4和步骤S5的速度从0度到360进行旋转，并进行扫描，找到最大杂散信号的值并记录下此时转台的角度，最后将转台固定在该角度；步骤S9，再次的将天线用慢于步骤S7中的升降速度从低升到高处，并进行扫描，找到最大杂散信号的值并记录下此时天线的高度，最后将天线固定在该高度；步骤S10，重新在频谱分析仪上同时设置与步骤S4相同的三个不同的扫描曲线进行扫描；步骤S11，测试完成后，保存测试结果图，在图中三个扫描曲线中分别标记出最大的杂散信号的功率或场强值，以及对应的频点；步骤S12，记录下最大的杂散信号值的测试数据，所述测试数据包...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹珺飞，黄开阳，梁勇，马守健，王磊，杨洪斌，
申请(专利权)人：北京智网信测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：