能量辐射装置的幅面亮度检测方法、系统、及3D打印设备制造方法及图纸

本申请涉及3D打印技术领域，公开了一种能量辐射装置的幅面亮度检测方法、系统、及3D打印设备，亮度检测方法包括：令所述能量辐射装置向位于其投影方向上的一成像装置投影一检测图案；其中，所述检测图案中包括若干相同的检测点；令一摄像装置拍摄检测图案在所述成像装置上的成像以得到检测图像，并通过校正数据对所述检测图像进行校正，以得到校正图像；其中，所述校正数据是通过对摄像装置进行标定操作而得到的，所述校正图像中包括若干对应于所述检测点的亮度区域；分析所述校正图像中各亮度区域的成像亮度，以作为所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据。该幅面亮度检测方法可一次性获取面曝光的整个幅面各个点的出光光强，提高操作效率。高操作效率。高操作效率。

【技术实现步骤摘要】
能量辐射装置的幅面亮度检测方法、系统、及3D打印设备


[0001]本申请涉及3D打印
，具体地涉及一种能量辐射装置的幅面亮度检测方法、能量辐射装置的幅面亮度检测系统、能量辐射装置的标定方法、3D打印的前处理方法、及3D打印设备。

技术介绍

[0002]光固化3D打印设备通过能量辐射装置提供光能量以使打印材料成型，然而在面曝光的打印设备中，能量辐射装置的投影面经常存在亮度不均匀的情况，即使投影一纯色图案，其幅面依然会有亮度不均匀的情况，例如中间亮周围暗，或者明暗交错等。由于能量辐射装置的投影亮度直接关系着打印材料所接收到的能量，因此幅面的亮度不均匀会使在打印过程中，能量辐射装置所投影的切片图案投影在打印材料上时，不能以预期的能量成型，从而影响打印质量。

技术实现思路

[0003]鉴于以上所述相关技术的缺点，本申请的目的在于提供一种能量辐射装置的幅面亮度检测方法、能量辐射装置的幅面亮度检测系统、能量辐射装置的标定方法、3D打印的前处理方法、及3D打印设备，用以通过检测能量辐射装置各区域的幅面亮度，为能量辐射装置的幅面标定提供数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述能量辐射装置用于3D打印设备，所述亮度检测方法包括以下步骤：令所述能量辐射装置向位于其投影方向上的一成像装置投影一检测图案；其中，所述检测图案中包括若干相同的检测点；令一摄像装置拍摄检测图案在所述成像装置上的成像以得到检测图像，并通过校正数据对所述检测图像进行校正，以得到校正图像；其中，所述校正数据是通过对摄像装置进行标定操作而得到的，所述校正图像中包括若干对应于所述检测点的亮度区域；分析所述校正图像中各亮度区域的成像亮度，以作为所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据。2.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述对摄像装置进行标定操作的步骤包括：令一摄像装置拍摄一纯色均匀光源的成像以得到第一标定图像；对所述第一标定图像中的有效区域进行图像处理，以得到校正数据；其中，所述校正数据用于对所述第一标定图像进行校正，以使所述有效区域中各子区域的亮度差在阈值范围内。3.根据权利要求2所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，还包括对所述纯色均匀光源的亮度和/或所述摄像装置的拍摄参数进行调整，以使所述摄像装置的曝光量与所述纯色均匀光源的亮度相匹配。4.根据权利要求2所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，还包括检验校正数据的步骤：重复拍摄所述纯色均匀光源的成像以得到第二标定图像；利用所述校正数据校正第二标定图像；检测校正后的第二标定图像中有效区域的各子区域的亮度差是否在所述阈值范围内；若是，则确定该校正数据；若否，则重复执行对摄像装置进行标定操作的步骤，直到所得到的校正数据能够使第二标定图像中有效区域的各子区域的亮度差在所述阈值范围内。5.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述通过校正数据对所述检测图像进行校正，以得到校正图像的步骤还包括：基于所述检测图像中多个检测点的实际成像位置和理论成像位置，确定所述检测点的实际成像位置和理论成像位置之间的转换关系；根据各检测点的实际成像位置、所述转换关系、以及校正数据，对所述检测图像进行校正，以得到所述校正图像。6.根据权利要求5所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述根据各检测点的实际成像位置、所述转换关系、以及校正数据，对所述检测图像进行校正的步骤包括：基于所述各检测点的实际成像位置、所述转换关系，确定第一校正图像；其中，所述第一校正图像中包括各检测点的理论成像位置；通过所述校正数据对所述第一校正图像进行校正，以得到第二校正图像；其中，所述第二校正图像中各亮度区域的成像亮度用以作为所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据。7.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述亮度区
域包括至少一标定点对应的成像区域。8.根据权利要求7所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述分析校正图像中各亮度区域的成像亮度的步骤包括：将每一所述亮度区域中各选定像素的灰度值相加，以作为该亮度区域的成像亮度。9.根据权利要求8所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述选定像素的选定标准包括灰度阈值。10.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，还包括对所述能量辐射装置的出光强度进行调整，以使投影出的所述检测图案的亮度与所述摄像装置的曝光量相匹配。11.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述摄像装置的拍摄面尺寸大于所述能量辐射装置的幅面尺寸。12.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述摄像装置的拍摄面尺寸小于所述能量辐射装置的幅面尺寸。13.根据权利要求12所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，通过校正图像中各所述亮度区域的参数，计算能量辐射装置的幅面超出摄像装置的拍摄面部分中各亮度区域的参数，以确定所述能量辐射装置整个幅面的亮度检测数据。14.根据权利要求12所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述能量辐射装置的幅面包括多个拍摄区域，在每一拍摄区域中分别执行所述亮度检测的步骤，以确定所述能量辐射装置整个幅面的亮度检测数据。15.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，还包括：重复执行所述亮度检测的步骤，并将每次执行所获取的所述能量辐射装置的幅面亮度检测数据进行处理以减少误差。16.根据权利要求1所述的能量辐射装置的幅面亮度检测方法，其特征在于，所述检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：荣左超，
申请(专利权)人：上海联泰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：