【技术实现步骤摘要】
一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置
[0001]本专利技术涉及图像处理
,尤其是涉及一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法、计算机设备与装置。
技术介绍
[0002]随着社会的发展,面板需求量在手机、教育、车载等不同领域急剧增加。AMOLED作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性,与LCD相比,AMOLED具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点,但是,亮度均匀性和残像仍然是它目前面临的两个主要难题,要解决这两个问题,除了工艺的改善,就不得不提到补偿技术。解决良率问题成为各个面板厂重中之重,Demura设备能够大幅度优化AMOLED面板的Mura不良,提高面板厂出货良率。
[0003]Demura设备已成为各个面板厂核心技术设备,该设备主要分为光学采样、图像算法处理、机构控制等模块,其中图像算法处理是该设备的核心与技术难点,具体包括亚像素级像素定位、像素级亮度提取、像素级亮度补偿等算法模块。其中对亚像素级像素定位的技术一直存在改进的空间,希望其具有耗时其短、鲁棒性 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法,其特征在于:包括:基于面板的参数信息生成圆环阵列图,并对圆环阵列图进行点亮处理;获取相机对面板采样的参数信息以及相机对点亮后的圆环阵列图采样的图像信息,参数信息包括面板屏幕坐标系下的圆环半径、圆环圆心坐标及圆环个数;基于相机对点亮后的圆环阵列图采样的图像信息,对图像信息进行预处理;对预处理的图像进行初定位,获取相机坐标系下的圆环轮廓;基于相机坐标系下圆环的圆环轮廓对预处理的图像进行亚像素定位,获取相机坐标系下的圆环圆心坐标;基于面板屏幕坐标系和相机坐标系在同一圆环下的圆心坐标,获取二者之间的透视变化系数M;基于透视变化系数M,获取面板屏幕坐标系中所有像素点在相机坐标系中的亚像素定位结果。2.根据权利要求1所述的一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法,其特征在于:基基于面板的参数信息生成圆环阵列图的步骤包括:获取面板的分辨率、SPR信息和RGB子像素规律;基于面板的分辨率、SPR信息和RGB子像素规律生成圆环阵列图。3.根据权利要求1所述的一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法,其特征在于:获取相机对面板采样的参数信息以及相机对圆环阵列图采样的图像信息的步骤包括:通过高解析度工业相机对面板和圆环阵列图进行光学采样。4.根据权利要求1所述的一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法,其特征在于:对图像信息进行预处理的步骤包括:若图像存在噪音信号和/或干扰信号;采用高斯降噪法消除图像中的噪音信号;采用大津算法对图像进行二值化处理;对图像进行形态学处理,所述形态学处理步骤至少包括腐蚀、膨胀、开运算及闭运算等。5.根据权利要求1所述的一种基于圆环阵列图的亚像素定位方法,其特征在于:对预处理的图像进行初定位的步骤包括:对圆环边缘进行检测,获取圆周梯度以及圆周线;在预设的二维霍夫空间内,绘制所有圆环的梯度直线,若干梯度直线相交而成坐标点;获取某坐标点对应的梯度直线数量,若梯度直线数量大...
【专利技术属性】
技术研发人员:何赟,吴红君,欧阳生运,
申请(专利权)人:广东江粉高科技产业园有限公司,
类型:发明
国别省市:
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