一种印章真伪识别方法、系统技术方案

本发明专利技术公开一种印章真伪识别方法、系统，具体包括如下步骤：获取原始印章图样和待对比印章图样；对待对比印章图样进行取正操作；利用预设取样区进行局部比对筛查；对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作。本发明专利技术利用预设取样区进行局部比对筛查以及对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作的方式从多角度对待比对印章图样进行多次的筛查比对使得本申请的方案相比于现有的印章识别技术更加精准和成熟。现有的印章识别技术更加精准和成熟。现有的印章识别技术更加精准和成熟。

【技术实现步骤摘要】
一种印章真伪识别方法、系统


[0001]本专利技术应用于印章识别领域，具体是一种印章真伪识别方法、系统。

技术介绍

[0002]公章及个人印章的真伪识别技术现广泛应用于各行各业，但随着科技的发展，印章伪造技术也在不断精进，这就给了一些不法分子可乘之机，各类高仿公章、印章在各领域以及司法案件中层出不穷，给了司法鉴定和公司企业很大的技术障碍，造成了许多信任危机，而现如今较为普及的印章检测技术相对较为老旧，仅可从印章的整体大小、字体的样式尺寸等角度进行检测，使得伪造印章的检出率极低，造成了各类不必要的损失。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种印章真伪识别方法、系统。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术的一种印章真伪识别方法，具体包括如下步骤：
[0005]获取原始印章图样和待对比印章图样；
[0006]对待对比印章图样进行取正操作；
[0007]利用预设取样区进行局部比对筛查；
[0008]对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作。
[0009]作为一种可能的实施方式，进一步的，在进行所述获取原始印章图样和待对比印章图样步骤后进行预处理操作，所述预处理操作具体包括：
[0010]截取处理，截取待比对印章图样的印泥涂染部分；
[0011]尺寸调节，调节截取处理后的待比对印章图样的大小，直至其印泥涂染外圈外经与所述原始印章图样外圈外经相等。
[0012]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述对待对比印章图样进行取正操作的步骤具体包括如下方法：
[0013]识别定位待对比印章图样中央的五角星图案；
[0014]以五角星图案的中心为原点转动待对比印章图样；
[0015]在五角星图案转动过程中进行取样，取样时机为五角星图案各角转动至待对比印章图样中线且角尖朝上时，取得五张待取正印章图样；
[0016]将五张待取正印章图样依次和原始印章图样重合比对选取重合率最高的图样作为已取正的待对比印章图样。
[0017]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤具体包括如下方法：
[0018]以待对比印章图样中心为圆心以预设值为半径制定粗细度在0.5
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1mm的取样圈，且所述预设值小于待对比印章图样中心到其边缘的最小距离；
[0019]将取样圈分别与待对比印章图样和原始印章图样重合，使取样圈的圆心分别与待
对比印章图样中心和原始印章图样中心重合；
[0020]利用灰度识别模块识别并截取取样圈分别与待对比印章图样和原始印章图样重合时取样圈上的印泥涂染部分；
[0021]分别计算待对比印章图样和原始印章图样重合在取样圈上的印泥涂染长度；
[0022]对两次印泥涂染长度计算结果进行比对。
[0023]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤还包括：
[0024]判断计算结果的比对值是否处于预设合格阀值内，若是，则完成比对；若否，则先判断该待对比印章图样进行局部比对筛查操作的次数是否大于两次，若否，则以不同的预设值为半径重新进行局部比对筛查操作，若是，则输出待对比印章图样为伪造结果。
[0025]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤具体包括如下方法：
[0026]以待对比印章图样直径为边长，围绕待对比印章图样建立m*m的正方形坐标网格并分别覆盖待对比印章图样和原始印章图样使待对比印章图样与正方形坐标网格四条外边相切；
[0027]在m*m的正方形坐标网格中随机选取n个点，并利用n个点的连线构成封闭图形作为取样区，其中n大于或等于3；
[0028]利用灰度识别模块识别并截取取样区分别与待对比印章图样和原始印章图样重合时取样区上的印泥涂染部分；
[0029]分别计算待对比印章图样和原始印章图样重合在取样区上的印泥涂染面积；
[0030]对两次印泥涂染面积计算结果进行比对。
[0031]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤还包括：
[0032]判断计算结果的比对值是否处于预设合格阀值内，若是，则完成比对；若否，则先判断该待对比印章图样进行局部比对筛查操作的次数是否大于两次，若否，则再次随机选取n个点重新进行局部比对筛查操作，若是，则输出待对比印章图样为伪造结果。
[0033]作为一种可能的实施方式，进一步的，所述对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作步骤具体包括如下方法：
[0034]截取待比对印章图样的印泥涂染部分喂入置入异色背景；
[0035]利用灰度识别模块识别出所有灰度值存在差异的印泥涂染部分与异色背景的交界点；
[0036]随机取四个交界点进行两两连线获得一对检测直线；
[0037]利用OCR识别印章图样上的字体，利用在原始印章图样和待对比印章图样上识别到的字体按顺序在原始印章图样上获取与待对比印章图样上相对应的检测直线；
[0038]对获得的一对检测直线的长度以及二者的延长线相交夹角进行计算比较；
[0039]根据比较结果是否相等直接输出对应的待对比印章图样的真伪信息识别结果。
[0040]作为一种可能的实施方式，进一步的，其中所述印泥涂染长度、所述印泥涂染面积、所述检测直线的长度和所述延长线相交夹角的计算均采用ImageJ进行计算。
[0041]一种印章真伪识别系统，其包括：
[0042]图样获取模块，用于获取原始印章图样和待对比印章图样；
[0043]取正模块，用于对待对比印章图样进行取正操作；
[0044]筛查模块，用于利用预设取样区进行局部比对筛查；
[0045]比对模块，用于对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作。
[0046]本专利技术采用以上技术方案，具有以下有益效果：本专利技术利用预设取样区进行局部比对筛查以及对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作的方式从多角度对待比对印章图样进行多次的筛查比对使得本申请的方案相比于现有的印章识别技术更加精准和成熟。
附图说明
[0047]下面结合附图与具体实施方式对本专利技术做进一步详细的说明：
[0048]图1为本专利技术取正操作待取正印章图样示意图；
[0049]图2为本专利技术利用预设取样区进行局部比对筛查操作中的取样圈工作示意图；
[0050]图3为本专利技术利用n个点的连线构成封闭图形作为取样区示意图；
[0051]图4为本专利技术取特殊点的连线进行比对操作的示意图。
具体实施方式
[0052]为使本专利技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0053]如图1
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种印章真伪识别方法，其特征在于：具体包括如下步骤：获取原始印章图样和待对比印章图样；对待对比印章图样进行取正操作；利用预设取样区进行局部比对筛查；对印章图样进行取特殊点，利用特殊点的连线进行比对操作。2.根据权利要求1所述的一种印章真伪识别方法，其特征在于：在进行所述获取原始印章图样和待对比印章图样步骤后进行预处理操作，所述预处理操作具体包括：截取处理，截取待比对印章图样的印泥涂染部分；尺寸调节，调节截取处理后的待比对印章图样的大小，直至其印泥涂染外圈外经与所述原始印章图样外圈外经相等。3.根据权利要求1所述的一种印章真伪识别方法，其特征在于：所述对待对比印章图样进行取正操作的步骤具体包括如下方法：识别定位待对比印章图样中央的五角星图案；以五角星图案的中心为原点转动待对比印章图样；在五角星图案转动过程中进行取样，取样时机为五角星图案各角转动至待对比印章图样中线且角尖朝上时，取得五张待取正印章图样；将五张待取正印章图样依次和原始印章图样重合比对选取重合率最高的图样作为已取正的待对比印章图样。4.根据权利要求1所述的一种印章真伪识别方法，其特征在于：所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤具体包括如下方法：以待对比印章图样中心为圆心以预设值为半径制定粗细度在0.5
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1mm的取样圈，且所述预设值小于待对比印章图样中心到其边缘的最小距离；将取样圈分别与待对比印章图样和原始印章图样重合，使取样圈的圆心分别与待对比印章图样中心和原始印章图样中心重合；利用灰度识别模块识别并截取取样圈分别与待对比印章图样和原始印章图样重合时取样圈上的印泥涂染部分；分别计算待对比印章图样和原始印章图样重合在取样圈上的印泥涂染长度；对两次印泥涂染长度计算结果进行比对。5.根据权利要求4所述的一种印章真伪识别方法，其特征在于：所述利用预设取样区进行局部比对筛查步骤还包括：判断计算结果的比对值是否处于预设合格阀值内，若是，则完成比对；若否，则先判断该待对比印章图样进行局部比对筛查操作的次数是否大于两次，若否，则以不同的预设值为半径重新进行局部比对筛查操作，若是，则输出待对比印章图样为伪造结果。6.根据权利要求1所述的一种印章真伪识别方法，其特征在于：所述利用...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓园园，张秋水，季冲，
申请(专利权)人：厦门科路德科技有限公司，
类型：发明
国别省市：