一种吹膜厚度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种吹膜厚度测量装置，包括框架、工作台、以及电容式传感器正极，其中，所述电容式传感器正极包括多个，安装在所述框架上，且多个所述电容式传感器正极均匀地分布在被测量物的宽度方向上，所述工作台位于所述框架的下方，用于承托所述被测量物，并作为电容式传感器的公共负极，所述被测量物从多个所述电容式传感器正极以及所述工作台之间穿过。将工作台作为电容式传感器的负极，并设置有多个电容式传感器正极，可以同时且实时测量被测量物不同位置的厚度，解除数据滞后性，能清楚地知道被测物每个点的实时数据，并且可以根据检测数据，对生产设备进行精确的调整，提升客户产品的质量，安全实用，维护成本低。维护成本低。维护成本低。

【技术实现步骤摘要】
一种吹膜厚度测量装置


[0001]本技术涉及薄膜生产领域，尤其涉及一种吹膜厚度测量装置。

技术介绍

[0002]在薄膜生产的过程中，通常需要对薄膜的厚度进行测量，以保证生产质量，现有的测量技术都是扫描测量，扫描测量的工作原理就是探头在被测物上方来回测量，对于流动的测量物无法做到点对点的实时测量，这样想了解同一点数据的真实性会有延后。而现在客户生产方面也开始有需求，希望把产品做的更好。
[0003]因此亟需一种吹膜厚度测量的装置，解除数据滞后性的问题，能够实时监测薄膜厚度。

技术实现思路

[0004]本技术克服了现有技术的不足，提供一种吹膜厚度测量装置。
[0005]为达到上述目的，本技术采用的技术方案为：一种吹膜厚度测量装置，其特征在于，包括框架、工作台、以及电容式传感器正极，其中，所述电容式传感器正极包括多个，安装在所述框架上，且多个所述电容式传感器正极均匀地分布在被测量物的宽度方向上，所述工作台位于所述框架的下方，用于承托所述被测量物，并作为电容式传感器的公共负极，所述被测量物从多个所述电容式传感器正极以及所述工作台之间穿过。
[0006]进一步的技术方案还可以是，位于同一且垂直于所述被测量物的前进方向的直线上的多个所述电容式传感器正极构成一组测量组，所述框架上包括多组所述测量组，多组所述测量组沿所述被测量物的前进方向等间距分布。
[0007]进一步的技术方案还可以是，所述电容式传感器正极垂直于所述工作台。
[0008]进一步的技术方案还可以是，还包括机架，所述框架滑动地安装在所述机架上，可在所述被测量物的宽度方向上来回移动。
[0009]进一步的技术方案还可以是，所述框架上设置有滑块，所述机架上设置有与所述滑块相配合的滑轨。
[0010]进一步的技术方案还可以是，所述框架的上部沿所述被测量物前进方向的前后两侧分别设置有耳部，所述耳部的底部设置有所述滑块，所述机架上与所述耳部相对应的位置设置有横梁，所述横梁上设置有所述滑轨。
[0011]进一步的技术方案还可以是，所述电容式传感器正极的底部突出于所述横梁的底面。
[0012]进一步的技术方案还可以是，所述机架上设置有丝杆，以及与所述丝杆连接并驱动其转动的伺服电机，所述框架上设置有与所述丝杆配合的丝母。
[0013]本技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷，本技术具备以下有益效果：
[0014]该吹膜厚度测量装置，将工作台作为电容式传感器的负极，并设置有多个电容式传感器正极，可以同时且实时测量被测量物不同位置的厚度，解除数据滞后性，能清楚地知
道被测物每个点的实时数据，并且可以根据检测数据，对生产设备进行精确的调整，提升客户产品的质量，安全实用，维护成本低。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0016]图1为本技术实施例中一种吹膜厚度测量装置的结构示意图（图中箭头方向为被测量物的运动方向）。
[0017]图2为本技术实施例中一种吹膜厚度测量装置的另一结构示意图。
[0018]图中：1框架、2工作台、3电容式传感器正极、4被测量物、5机架、51横梁、6滑块、7滑轨、8耳部、9丝杆、10丝母、11摄像头。
具体实施方式
[0019]为了能够更加清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本技术进行进一步的详细描述，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成，需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0020]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本技术还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本技术的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
[0021]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明所指示的技术特征的数量。因此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术创造的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0022]在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
[0023]如图1和图2所示，本技术公开了一种吹膜厚度测量装置，包括框架1、工作台2、以及电容式传感器正极3，其中，所述电容式传感器正极3包括多个，安装在所述框架1上，且多个所述电容式传感器正极3均匀地分布在被测量物4的宽度方向上，所述工作台2位于所述框架1的下方，用于承托所述被测量物4，并作为电容式传感器的公共负极，所述被测量物4从多个所述电容式传感器正极3以及所述工作台2之间穿过。所述电容式传感器正极3垂直于所述工作台2。
[0024]需要说明的是，所述框架1是为所述电容式传感器正极3提供安装位置，并起到支
撑固定所述电容式传感器正极3的作用。
[0025]需要说明的是，所述电容式传感器正极3位于所述被测量物4的上方，所述工作台2充当多个所述电容传感器的公共负极， 将被测量物4放置在两者之间，通过计算即可知道被测量物4对应位置的厚度。因此，当被测量物4在所述工作台2上移动时，即可得到该被测量物4的厚度变化曲线，若被测量物4的厚度固定，则该厚度变化曲线应当呈水平的直线。
[0026]需要说明的是，多个所述电容式传感器正极3均匀地分布在被测量物4的宽度方向上，分别对应被测量物4的一个位置，这样，一方面，可以检测所述被测量物4在宽度方向上的厚度均匀性，也可以检测所述被测量物4在长度方向上的厚度均匀性，并可根据检测数据，对生产设备进行精确的调整。
[0027]需要说明的是，在该实施例中，所述被测量物4，实际上为薄膜。
[0028]该吹膜厚度测量装置，将工作台2作为电容式传感器的负极，并设置有多个电容式传感器正极3，可以同时且实时测量被测量物4不同位置的厚度，解除数据滞后性，能清楚地知道被测物每个点的实时数据，并且可以根据检测数据，对生产设备进行精确的调整，提升客户产品的质量，安全实用，维护成本低。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种吹膜厚度测量装置，其特征在于，包括框架、工作台、以及电容式传感器正极，其中，所述电容式传感器正极包括多个，安装在所述框架上，且多个所述电容式传感器正极均匀地分布在被测量物的宽度方向上，所述工作台位于所述框架的下方，用于承托所述被测量物，并作为电容式传感器的公共负极，所述被测量物从多个所述电容式传感器正极以及所述工作台之间穿过。2.根据权利要求1所述的一种吹膜厚度测量装置，其特征在于，位于同一且垂直于所述被测量物的前进方向的直线上的多个所述电容式传感器正极构成一组测量组，所述框架上包括多组所述测量组，多组所述测量组沿所述被测量物的前进方向等间距分布。3.根据权利要求1所述的一种吹膜厚度测量装置，其特征在于，所述电容式传感器正极垂直于所述工作台。4.根据权利要求1所述的一种吹膜厚度测量装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国华，潘栩锋，冯伟球，冒涛，陈文铭，
申请(专利权)人：佛山市枫莱尔自动化技术有限公司，
类型：新型
国别省市：