动态分析系统、校正装置、程序以及动态拍摄装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供动态分析系统、校正装置、程序以及动态拍摄装置。能够减轻拍摄动态图像的拍摄者和被拍摄的被拍摄体双方的负担，并且诊断者能够基于动态图像进行正确的诊断。动态分析系统(100)对通过进行与被拍摄体(S)的活动相关的动态拍摄而获取到的动态图像进行处理，在动态拍摄中，通过放射线照射装置(1)对被拍摄体(S)照射放射线(R)并由探测器(2)进行检测，动态分析系统(100)对动态图像进行针对被拍摄体(S)的与探测器平面(2a)垂直的方向上的活动的位置校正处理。的位置校正处理。的位置校正处理。

【技术实现步骤摘要】
动态分析系统、校正装置、程序以及动态拍摄装置


[0001]本专利技术涉及动态分析系统、校正装置、程序以及动态拍摄装置。

技术介绍

[0002]在透视图像的拍摄中，以往校正像的畸变、有效视场的偏差。
[0003]例如，在专利文献1中，记载了一种X射线诊断装置，具备：X射线管；X射线透视图像检测器；以及显示由X射线透视图像检测器检测出的X射线透视图像的图像显示单元，求出投影到X射线透视图像检测器的X射线传感器的X射线透视图像的图像放大率，指定在图像显示单元的画面上映出的X射线透视图像上的任意点，基于所求出的图像放大率和所指定的两个点的位置信息，计算与透射X射线图像上的两个指定点间的距离对应的在被检体上的实际尺寸，并且显示计算出的尺寸。
[0004]另外，在长尺寸拍摄中，以往也对所合成的各放射线图像的重叠部处的被拍摄体的放大率进行校正。
[0005]例如，在专利文献2中，记载了一种X射线拍摄装置，具备：X射线管；X射线检测器；为了变更X射线的照射角度而使X射线管旋转移动的X射线管驱动单元；对X射线管驱动单元进行驱动控制的控制单本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态分析系统，对通过进行与被拍摄体的活动相关的动态拍摄而获取到的动态图像进行处理，在所述动态拍摄中，由放射线照射装置对被拍摄体照射放射线并由探测器进行检测，其中，对所述动态图像进行针对所述被拍摄体的与探测器平面垂直的方向上的活动的位置校正处理。2.根据权利要求1所述的动态分析系统，其中，在所述位置校正处理中，还执行如下处理：识别构成所述动态图像的各帧中的映现有所述被拍摄体的特定区域，分别测定识别出的所述特定区域的大小，基于测定出的所述特定区域的大小，放大或者缩小映现于一个所述帧的图像，以使得一个所述帧中的所述特定区域的大小接近成为基准的其他所述帧中的所述特定区域的大小。3.根据权利要求1所述的动态分析系统，其中，产生所述放射线的放射线源构成为能够在与所述探测器平面垂直的方向上移动，在所述位置校正处理中，在拍摄所述被拍摄体的期间，使所述放射线源从所述探测器平面向在与所述探测器平面垂直的方向上分离第一距离的第一位置和分离比所述第一距离大的第二距离的第二位置移动，识别构成所述动态图像的各帧中的映现有所述被拍摄体的特定区域，基于在所述放射线源位于所述第一位置时生成的帧中的所述特定区域、和在所述放射线源位于所述第二位置时生成的帧中的所述特定区域，生成在所述放射线源位于距所述探测器平面无限远的位置的情况下的映现有所述特定区域的内插帧，将所述动态图像中的在所述放射线源位于所述第二位置时生成的帧置换为所述内插帧。4.根据权利要求3所述的动态分析系统，其中，所述动态分析系统具备监视单元，所述监视单元监视与所述探测器平面垂直的方向上的所述被拍摄体的位移的有无，在所述监视单元检测出与所述探测器平面垂直的方向上的所述被拍摄体的位移时，使所述放射线源向所述第二位置移动。5.根据权利要求1至4中的任一项所述的动态分析系统，其中，所述动态分析系统还具备保存单元，所述保存单元保存在所述位置校正处理中校正后的所述动态图像。6.根据权利要求1至5中的任一项所述的动态分析系统，其中，所述动态分析系统还具备显示单元，所述显示单元显示在所述位置校正处理中校正后的所述动态图像。7.根据权利要求1至6中的任一项所述的动态分析系统，其中，所述被拍摄体是附着于特定部位或者所述特定部位的附近的标记。8.根据权利要求7所述的动态分析系统，其中，所述特定部位是关节。
9.一种校正装置，对通过进行与被拍摄体的活动相关的动态拍摄而获取到的动态图像进行处理，在所述动态拍摄中，由放射线照射装置对被拍摄体照射放射线并由探测器进行检测，其中，对所述动态图像进行针对所述被拍摄体的与探测器平面垂直的方向上的活动的位置校正处理。10.一种程序，由校正装置的控制部执行，所述校正装置对通过进行与被拍摄体的活动相关的动态拍摄而获取到的动态图像进行处理，在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：长束澄也，川名祐贵，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：