一种基于BIM的测绘放样装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术适用于测绘技术领，提供了一种基于BIM的测绘放样装置，所述装置包括：支撑基座；角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所述调节机构用于调节所述装置的高度和水平度；固定吸盘，所述固定吸盘设置于所述支撑基座正下方；以及伸缩连接机构，所述伸缩连接机构一端与所述固定吸盘连通，所述伸缩连接机构另一端与所述支撑基座固定，实现体调节高度的同时，通过压强变化对面清洁，然后进行吸附固定，使装置不易倾倒。使装置不易倾倒。使装置不易倾倒。

【技术实现步骤摘要】
一种基于BIM的测绘放样装置


[0001]本技术属于测绘
，尤其涉及一种基于BIM的测绘放样装置。

技术介绍

[0002]BIM是指建筑信息模型是建筑学、工程学及土木工程的新工具。它是来形容那些以三维图形为主、物件导向、建筑学有关的电脑辅助设计。
[0003]目前，基于BIM的测绘放样装置大多功能齐全，能够调节测绘高度以及测绘角度，还能够调节水平度，使用方便。
[0004]但是现有的基于BIM的测绘放样装置依旧存在缺陷，即稳固程度不够，在受到外力作用下，很容易发生倾倒现象，扶起后还需要重新调节，费时费力。

技术实现思路

[0005]本技术实施例的目的在于提供一种基于BIM的测绘放样装置，旨在解决装置容易倾倒的问题。
[0006]本技术实施例是这样实现的，一种基于BIM的测绘放样装置，所述装置包括：
[0007]支撑基座；
[0008]角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；
[0009]调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述装置包括：支撑基座；角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所述调节机构用于调节所述装置的高度和水平度；固定吸盘，所述固定吸盘设置于所述支撑基座正下方；以及伸缩连接机构，所述伸缩连接机构一端与所述固定吸盘连通，所述伸缩连接机构另一端与所述支撑基座固定。2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述角度调节基座包括：转动轴，所述转动轴转动设置于所述支撑基座上，所述转动轴与所述支撑基座具有阻尼；以及固定座，所述固定座固定于所述转动轴远离所述支撑基座一端。3.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述伸缩连接机构包括：连接柱，所述连接柱固定于所述支撑基座上；阀芯，所述阀芯固定于所述连接柱远离所述支撑基座一端，所述阀芯外径大于所述连接柱；支撑套，所述支撑套与所述阀芯滑动连接，所述支撑套远离所述连接柱一端与所述固定吸盘连通；以及限位吸附组件，所述限位吸附组件固定于所述支撑套内，所述限位吸附组件位于所述支撑套远离所述阀芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐小卫，杜圣华，王涛，陈州，孙伟，陈萌，龚凯威，
申请(专利权)人：升维科技有限公司，
类型：新型
国别省市：