本发明专利技术涉及一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，包括阻值测试模块、绝缘耐压测试模块及接口模块，接口模块包括投切单元及与所述投切单元配合的第一接口与第二接口；所述第一接口用于连接所述第一器件及第二器件的输入接口，所述第二接口分别连接所述绝缘耐压测试模块和所述阻值测试模块，所述投切单元用于对所述第一接口和第二接口之间的电性连接进行通断控制；控制装置，分别连接所述接口模块、所述绝缘耐压测试模块、所述阻值测试模块，以控制其工作，并进行数据传输。将电路模块化设计，可自动完成测试程序中的电气开关的操作及各校验测试步骤，相对于传统技术降低了拆接线难度和测试风险，且提高检修效率。且提高检修效率。且提高检修效率。
【技术实现步骤摘要】
用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置及其测试方法
[0001]本专利技术涉及配电盘自动测试
，尤其涉及一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置及其测试方法。
技术介绍
[0002]中低压配电盘是集中、切换、分配电能的电气设备；其一般由柜体、电气开关(断路器)、保护装置、监视装置、电能计量表，以及其他二次元器件组成，安装在电站。
[0003]目前基于电站对电气设备保护与功能方面制定的检查标准，现场对于中低压配电盘开关操作测试均是在盘柜仓内进行，同时通过测量开关辅助节点来判断开关分合闸动作功能是否正常。这种测试方法涉及大量拆接线，不仅存在直流回路短路、错误接地以及接错线等风险，测试过程还需要多次在盘柜仓二次端子位置进行测量；由于空间狭窄且接线密集，信号测量异常困难，并有很大误碰、误测、短路、接地等隐患。
技术实现思路
[0004]本专利技术要解决的技术问题在于现有测试中低压配电盘性能中存在接线复杂、接线容易出错等问题，提供一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置及其测试方法。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，包括
[0006]阻值测试模块，用于检验中低压配电盘内第一器件的阻值；
[0007]绝缘耐压测试模块，用于测试所述中低压配电盘内第二器件的绝缘和/或耐压程度；
[0008]接口模块，包括投切单元及与所述投切单元配合的第一接口与第二接口；所述第一接口设有多个端口，分别用于连接所述第一器件及第二器件的输入接口，所述第二接口分别连接所述绝缘耐压测试模块和所述阻值测试模块，所述投切单元用于对所述第一接口和第二接口之间的电性连接进行通断控制；
[0009]控制装置，分别连接所述接口模块、所述绝缘耐压测试模块、所述阻值测试模块，以控制其工作，并进行数据传输。
[0010]优选地，所述阻值测试模块包括可调节并输出稳定电流的电流输出模块及电压采集模块；
[0011]所述电流输出模块与所述第一器件连接以向其输出稳定电流；所述电压采集模块分别连接所述第一器件的两端。
[0012]优选地，所述电流输出模块包括用于输出电压源的功率单元、用于起反馈作用的采样电阻RS、第一差分比较电路单元、第二差分比较电路单元、隔离单元及脉宽调制器；
[0013]所述功率单元的正负两端分别电连接所述第一差分比较电路单元的输入端，所述第一差分比较电路单元的输出端口通过所述隔离单元连接所述脉宽调制器的输入端，所述脉宽调制器的输出端连接所述功率模块；
[0014]所述功率单元的正极一端连接所述第一器件的第一端，所述第一器件的第二端通过与所述采样电阻RS串联后连接至所述电流输出模块负极一端；所述采样电阻RS的两端分别连接所述第二差分比较电路单元的输入端，所述第二差分比较电路单元的输出端连接所述第一差分比较电路单元。
[0015]优选地，所述第二差分比较电路单元包括第三运算放大器U3、第四运算放大器U4、第一电阻R1及第一二极管D1；所述采样电阻RS连接所述功率模块负输出端的第一端连接所述第三运算放大器U3的同相输入端，所述采样电阻RS的第二端连接所述第三运算放大器U3的反相输入端，所述第三运算放大器U3的输出端连接所述第四运算放大器U4的反相输入端，所述第四运算放大器U4的正向输入端接入基准电压Vr2，所述第四运算放大器U4的输出端连接所述第一二极管D1的阴极，所述第一二极管D1的阳极通过所述第一电阻R1连接至所述第一差分比较电路单元；
[0016]所述第一差分比较电路单元包括第一运算放大器U1、第二运算放大器U2及第二电阻R2，所述功率模块负输出端连接所述第一运算放大器U1的反相输入端，所述功率模块正输出端连接所述第一运算放大器U1的同相输入端，所述第一运算放大器U1的输出端连接所述第二运算放大器U2的反相输入端，所述第二运算放大器U2的同相输入端分别连接所述第一电阻R1及所述第二电阻R2的第一端；所述电阻R2第二端接地；所述第二运算放大器U2的输出端通过所述隔离单元连接所述所述脉宽调制器。
[0017]优选地，所述绝缘耐压测试模块包括第二控制器、数模转换器、放大电路及升压整流电路；
[0018]所述第二控制器的第一端与所述控制装置连接，其第二端通过所述数模转换器连接所述放大电路，其第三端连接所述升压整流电路；所述放大电路还与所述升压整流电路连接。
[0019]由所述控制装置控制所述第二控制器生成数字信号，经过所述数模转换器、所述放大电路及升压整流电路后输出高压信号至所述第二器件。
[0020]优选地，所述投切单元包括继电器矩阵；所述继电器矩阵电连接于所述第一接口和所述第二接口之间。
[0021]优选地，所述控制装置包括上位机，所述上位机电连接或者通信连接所述阻值测试模块、所述绝缘耐压测试模块与所述接口模块，用于向其发送控制信号。
[0022]优选地，所述第一器件包括设于所述中低压配电盘内的接触电阻、回路电阻或线圈绕组。
[0023]一种用于测试中低压配电盘性能的测试方法，采用上述的用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置；
[0024]用于测试中低压配电盘性能的测试方法包括：
[0025]S10：获取外部的控制指令；
[0026]S20：所述接口模块根据所述控制指令，使所述投切单元对所述第一接口和第二接口之间的电性连接进行对应通断控制；
[0027]S30：根据所述控制信号，选择启动阻值测试模块或绝缘耐压测试模块，并进行测试工作；
[0028]S40：发送测试结果。
[0029]优选地，还包括：S31：若所述控制指令包含多次测试工作，循环S20
‑
S30，直至完成测试工作。
[0030]实施本专利技术具有以下有益效果：通过接口模块将中低压配电盘内的器件分别与绝缘耐压测试模块和所述阻值测试模块连接，由控制装置控制投入和测试器件的绝缘耐压程度和/或阻值；该自动测试装置将电路模块化设计，可自动完成测试程序中的电气开关的操作及各校验测试步骤，相对于传统技术降低了拆接线难度和测试风险，且提高检修效率。
附图说明
[0031]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0032]图1是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置的逻辑框图；
[0033]图2是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置的电流输出模块的电路原理图；
[0034]图3是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置的阻值测试模块的电路原理图；
[0035]图4是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置的绝缘耐压测试模块的逻辑框图；
[0036]图5是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置的投切单元的电路原理图；
[0037]图6是本专利技术一种用于测试中低压配电盘性能的测试方法的程序流程图。
具体实施方式...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，其特征在于，包括阻值测试模块(300)，用于检验中低压配电盘内第一器件的阻值；绝缘耐压测试模块(400)，用于测试所述中低压配电盘内第二器件的绝缘和/或耐压程度；接口模块(200)，包括投切单元(203)及与所述投切单元(203)配合的第一接口(201)与第二接口(202)；所述第一接口(201)设有多个端口，分别用于连接所述第一器件及第二器件的输入接口，所述第二接口(202)分别连接所述绝缘耐压测试模块(400)和所述阻值测试模块(300)，所述投切单元(203)用于对所述第一接口(201)和第二接口(202)之间的电性连接进行通断控制；控制装置(100)，分别连接所述接口模块(200)、所述绝缘耐压测试模块(400)、所述阻值测试模块(300)，以控制其工作，并进行数据传输。2.根据权利要求1所述的用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，其特征在于，所述阻值测试模块(300)包括可调节并输出稳定电流的电流输出模块(310)及电压采集模块(320)；所述电流输出模块(310)与所述第一器件连接以向其输出稳定电流；所述电压采集模块(320)分别连接所述第一器件的两端。3.根据权利要求2所述的用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，其特征在于，所述电流输出模块(310)包括用于输出电压源的功率单元(311)、用于起反馈作用的采样电阻RS、第一差分比较电路单元(314)、第二差分比较电路单元(315)、隔离单元(312)及脉宽调制器(313)；所述功率单元(311)的正负两端分别电连接所述第一差分比较电路单元(314)的输入端，所述第一差分比较电路单元(314)的输出端口通过所述隔离单元(312)连接所述脉宽调制器(313)的输入端，所述脉宽调制器(313)的输出端连接所述功率模块；所述功率单元(311)的正极一端连接所述第一器件的第一端，所述第一器件的第二端通过与所述采样电阻RS串联后连接至所述电流输出模块(310)负极一端；所述采样电阻RS的两端分别连接所述第二差分比较电路单元(315)的输入端，所述第二差分比较电路单元(315)的输出端连接所述第一差分比较电路单元(314)。4.根据权利要求3所述的用于测试中低压配电盘性能的自动测试装置，其特征在于，所述第二差分比较电路单元(315)包括第三运算放大器U3、第四运算放大器U4、第一电阻R1及第一二极管D1；所述采样电阻RS连接所述功率模块负输出端的第一端连接所述第三运算放大器U3的同相输入端，所述采样电阻RS的第二端连接所述第三运算放大器U3的反相输入端，所述第三运算放大器U3的输出端连接所述第四运算放大器U4的反相输入端，所述第四运算放大器U4的正向输入端接入基准电压Vr2，所述第四运算放大器U4的输出端连接所述第一二极管D1的阴极，所述第一二极管D1的阳极通过所述第一电阻R1连接至所...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗真福，朱晓东，王明，吴超，宋振华，罗青生，李杰，沈阳，王科，刘欢，唐华，牛东元，
申请(专利权)人：中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。