固定装置和测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种固定装置和测试装置，该固定装置在主平台上设置固定平台，通过固定平台固定测试模组，主平台上固定支撑架，支撑架上固定马达，马达连接杆与马达连接，马达连接杆在马达的驱动下轴向移动，马达连接杆的轴向朝向固定平台上设置的测试模组，以根据马达连接杆轴向移动压力将待测芯片压入测试模组的对应安装位，主平台上还设置有马达控制器，控制马达的输出压力。本发明专利技术的固定装置可准确控制马达连接杆对待测芯片的下压压力，保障待测芯片可稳定可靠地压入测试模组的对应安装位，保障对待测芯片的测试的可靠性，提高测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
固定装置和测试装置


[0001]本专利技术涉及测试平台
，具体地，涉及固定装置和测试装置。

技术介绍

[0002]在产品开发时，都需要在实验室中对其各种指标进行大量测试，对产品的性能、稳定性、可靠性等进行测试，合格后才能投入量产。
[0003]在现有技术中，将芯片安装至测试模组中进行测试，芯片通过压入安装固定，固定块的下压通过旋钮手动控制，其下压的压力根据操作员的感觉控制，对芯片安装的稳固性缺乏保障，测试结果的可靠性低。

技术实现思路

[0004]鉴于上述问题，本专利技术的目的在于提供一种固定装置和测试装置，从而提高对芯片的固定效果，提高测试的可靠性。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供一种固定装置，用于测试模组的固定，所述测试模组用于待测芯片的测试，其中，所述固定装置包括：
[0006]主平台；
[0007]固定平台，设置在所述主平台上，用于固定放置所述测试模组；
[0008]支撑架，固定在所述主平台上；
[0009]马达，固定在所述支撑架上，且位于所述固定平台上方；
[0010]马达连接杆，与所述马达连接，以根据所述马达的驱动而轴向移动，所述马达连接杆的轴向朝向所述固定平台上放置的所述测试模组；
[0011]马达控制器，设置在所述主平台上，用于控制所述马达的输出压力，控制所述马达连接杆对待测芯片的压力，按照预设压力将待测芯片压入所述测试模组的对应安装位。
[0012]可选地，还包括：
[0013]软垫，设置在所述马达连接杆的朝向所述固定平台的一端。
[0014]可选地，所述固定平台的上表面上设置有卡具，所述卡具在所述固定平台上表面形成有围夹区域，用于围夹固定所述测试模组。
[0015]可选地，所述固定平台还包括第一滑轨，所述卡具的至少部分可沿所述第一滑轨移动，以调节所述围夹区域沿所述第一滑轨的延伸方向的尺寸。
[0016]可选地，所述夹具还包括第二滑轨，所述第二滑轨通过固定件固定至所述低滑轨，所述夹具可沿所述第二滑轨的延伸方向相对所述固定件移动，以调节所述围夹区域在所述第二滑轨的延伸方向的尺寸，所述第二滑轨的延伸方向与所述第一滑轨的延伸方向交叉。
[0017]可选地，还包括：
[0018]垫片，设置在所述卡具的内侧边，位于所述卡具与所述测试模组之间。
[0019]可选地，还包括：
[0020]第一位置调节杆，设置在所述主平台上，与所述固定平台匹配设置，用于控制所述
固定平台在所述主平台上表面的第一方向上移动，调节所述固定平台的位置。
[0021]可选地，还包括：
[0022]位置锁扣，设置在所述固定平台上，用于固定所述固定平台在所述主平台上表面的位置。
[0023]可选地，还包括：
[0024]第二位置调节杆，设置在所述主平台上，与所述固定平台匹配设置，用于控制所述固定平台在所述主平台上表面的第二方向上移动，调节所述固定平台的位置，所述第二方向与所述第一方向交叉。
[0025]可选地，还包括：
[0026]线条夹具，设置在所述主平台上，用于固定所述测试模组的数据线或测试线。
[0027]根据本专利技术的另一方面，提供一种测试装置，包括本专利技术提供的固定装置。
[0028]本专利技术提供的固定装置用于测试模组的固定，该测试模组用于待测芯片的测试，该固定装置在主平台上设置固定平台，通过固定平台固定测试模组，主平台上固定支撑架，支撑架上固定马达，马达连接杆与马达连接，马达连接杆在马达的驱动下轴向移动，马达连接杆的轴向朝向固定平台上设置的测试模组，以根据马达连接杆轴向移动压力将待测芯片压入测试模组的对应安装位，主平台上还设置有马达控制器，控制马达的输出压力，便于准确控制马达连接杆对待测芯片的下压压力，保障待测芯片可稳定可靠地压入测试模组的对应安装位，保障对待测芯片的测试的可靠性，提高测试效率。
[0029]本专利技术的测试装置包括本专利技术提供的固定装置，提高了芯片下压压力的一致性和芯片固定的可靠性，提高了测试结果的稳定性和可靠性。
附图说明
[0030]通过以下参照附图对本专利技术实施例的描述，本专利技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：
[0031]图1示出了根据本专利技术实施例的固定装置的结构示意图；
[0032]图2示出了根据本专利技术实施例的固定装置的固定平台的结构示意图。
具体实施方式
[0033]以下将参照附图更详细地描述本专利技术的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。
[0034]下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。
[0035]图1示出了根据本专利技术实施例的固定装置的结构示意图。
[0036]参照图1，本专利技术实施例的固定装置100包括主平台110、固定平台120、支撑架134、马达133、马达连接杆131、软垫132、马达控制器135、线体夹具111。
[0037]固定平台120设置在主平台110上，用于固定测试模组(图中未示出，用于芯片测试，例如为集成电路板)，马达控制器135和支撑架134固定设置在主平台上110，支撑架134用于支撑固定马达133，并使马达133位于固定平台120的上方，马达133连接马达连接杆131，马达连接杆131的轴向朝向固定平台120，以在马达133的驱动下轴向运动，将芯片向测试模组中的安装位按压固定。马达控制器135根据预设压力控制马达133的驱动力，使马达
连接杆131对芯片的压力为标准的预设压力，保障芯片的固定的稳固性，保障芯片各引脚与测试模组的有效连接，保持测试的可靠性。且芯片下压压力统一，还可提高测试的一致性，降低不同的压力对芯片测试结果的影响，提高测试结果的稳定性。
[0038]其中，马达连接杆131为单点或多点下压。马达控制器135例如采用编程模块控制马达133的驱动，对下压时间也进行控制。
[0039]马达连接杆131的朝向固定平台120的一端还设置有软垫132，可防止硬性的马达连接杆131对芯片的损伤。
[0040]线体夹具111设置在主平台110上，对固定平台120上固定的测试模组的数据线、测试线等进行固定，避免测试中的线体的晃动带来的连接稳定性问题，保障可有效获得测试数据。
[0041]图2示出了根据本专利技术实施例的固定装置的固定平台的结构示意图。
[0042]参照图2，本专利技术实施例的固定装置100的固定平台120的主体结构121的上表面设置有四个腰形的夹具122，主体结构121上设置有平行的四条第一滑轨123，夹具122的一条腰上设置有第二滑轨1241，第二滑轨1241与第一滑轨123垂直，固定件124连接第一滑轨123和第二滑轨1241，在固定件124锁定之前，固定件124可沿第一滑轨123移动，夹具122可沿第二滑轨1241的延伸方向移动，以分别本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固定装置，用于测试模组的固定，所述测试模组用于待测芯片的测试，其特征在于，所述固定装置包括：主平台；固定平台，设置在所述主平台上，用于固定放置所述测试模组；支撑架，固定在所述主平台上；马达，固定在所述支撑架上，且位于所述固定平台上方；马达连接杆，与所述马达连接，以根据所述马达的驱动而轴向移动，所述马达连接杆的轴向朝向所述固定平台上放置的所述测试模组；马达控制器，设置在所述主平台上，用于控制所述马达的输出压力，控制所述马达连接杆对待测芯片的压力，按照预设压力将待测芯片压入所述测试模组的对应安装位。2.根据权利要求1所述的固定装置，其特征在于，还包括：软垫，设置在所述马达连接杆的朝向所述固定平台的一端。3.根据权利要求1所述的固定装置，其特征在于，所述固定平台的上表面上设置有卡具，所述卡具在所述固定平台上表面形成有围夹区域，用于围夹固定所述测试模组。4.根据权利要求3所述的固定装置，其特征在于，所述固定平台还包括第一滑轨，所述卡具的至少部分可沿所述第一滑轨移动，以调节所述围夹区域沿所述第一滑轨的延伸方向的尺寸。5.根据权利要求4所述的固定装置，其特征在于，所述夹具还包括第二滑轨，所述第二滑轨通过固定件固定至所述低滑轨，...

【专利技术属性】
技术研发人员：滕成园，岳奎元，
申请(专利权)人：北京普能微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：