测量点坐标标定方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:30895059 阅读:16 留言:0更新日期:2021-11-22 23:37
本发明专利技术公开了一种测量点坐标标定方法,该方法包括获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离和基于至少两个测量点获取第一标定点与第二标定点的测量相对距离;进而根据真实相对距离和测量相对距离获得测量误差,再通过改变第一标定点与第二标定点的位置坐标,循环上述测量误差的获取步骤;最后通过最小化测量误差总和,获得测量点优化坐标。本发明专利技术还公开了一种测量点坐标标定装置、设备及存储介质。本发明专利技术利用两个标定点对测量点进行标定,通过综合标定点在不同位置时的测量误差,获得测量误差总和最小时对应测量点的优化坐标,将测量点的原始坐标替换为优化坐标,进而获得测量系统中更精确的测量点坐标,最终达到提高测量系统的测量精度的效果。统的测量精度的效果。统的测量精度的效果。

【技术实现步骤摘要】
测量点坐标标定方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测量系统标定领域,尤其涉及一种测量点坐标标定方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在测量系统中,一般可通过至少两个已知测量点对待测量点的位置坐标进行测量,在测量过程中需要获取每个已知测量点的精确坐标,以此来获得每个待测量点与已知测量点的距离,进而根据已知测量点的坐标和每个待测量点与已知测量点的距离计算出待测量点的位置坐标。这样的测量系统必须提前准确的测量各个已知测量点的精确坐标。为了提高测量系统的精度,如果各个已知测量点的坐标不够精确,那么就需要对已知测量点的位置坐标进行标定。
[0003]因此,如何对测量系统中已知测量点的位置坐标进行标定,以提高测量系统对待测量点的测量精度,是一个亟需解决的技术问题。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种测量点坐标标定方法、装置、设备及存储介质,旨在解决现有技术中存在的因测量点位置坐标不够精确,影响测量系统对待测量点的测量精度的技术问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提出一种测量点坐标标定方法,所述测量点坐标标定方法包括以下步骤:
[0007]获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离;
[0008]利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离;
[0009]根据所述真实相对距离和所述测量相对距离,获取测量点的测量误差;
[0010]改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差;
[0011]基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标。
[0012]可选的,利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离,具体包括:
[0013]利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在一维坐标系下的测量相对距离;或
[0014]利用至少三个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在二维坐标系下的测量相对距离;或
[0015]利用至少四个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点在三维坐标系下的
测量相对距离。
[0016]可选的,利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离,具体包括:
[0017]基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标;
[0018]根据所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离。
[0019]可选的,基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标,具体包括:
[0020]测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值;
[0021]根据每个测量点的位置坐标和所述测量点到所述第一标定点的距离值,以及所述测量点到所述第二标定点的距离值,分别获得所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标。
[0022]可选的,测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值,其中:所述距离值的测量方式包括超声波测距、激光测距或红外测距。
[0023]可选的,改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差,具体包括:
[0024]在保持所述第一标定点与所述第二标定点的真实相对距离不变的基础上,改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标;
[0025]返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的测量误差。
[0026]可选的,基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标,具体包括:
[0027]根据获取的所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的测量误差,获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和;
[0028]采用LM算法迭代所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和,获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和的最小值;
[0029]根据所述第一标定点与所述第二标定点的测量点的测量误差总和的最小值获得所述至少两个测量点的优化坐标。
[0030]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种测量点坐标标定装置,所述测量点坐标标定装置包括:
[0031]第一获取模块,用于获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离;
[0032]第二获取模块,用于利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离;
[0033]第三获取模块,用于根据所述真实相对距离和所述测量相对距离,获取测量点的测量误差;
[0034]循环获取模块,用于改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所
述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差;
[0035]优化模块,用于基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标。
[0036]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种测量点坐标标定设备,所述测量点坐标标定设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的测量点坐标标定程序,所述测量点坐标标定程序被所述处理器执行时实现所述的测量点坐标标定方法的步骤。
[0037]此外,为实现上述目的,本专利技术还提出一种存储介质,所述存储介质上存储有测量点坐标标定程序,所述测量点坐标标定程序被处理器执行时实现所述的测量点坐标标定程序方法的步骤。
[0038]本专利技术中,通过获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离和基于至少两个测量点获取第一标定点与第二标定点的测量相对距离;进而根据真实相对距离和测量相对距离获得测量误差,再通过改变第一标定点与第二标定点的位置坐标,循环上述测量误差的获取步骤;最后通过最小化测量误差总和,获得测量点优化坐标。本专利技术利用两个标定点对测量点进行标定,通过综合标定点在不同位置时的测量误差,获得测量误差总和最小时对应测量点的优化坐标,将测量点的原始坐标替换为优化坐标,进而获得测量系统中更精确的测量点坐标,最终达到提高测量系统的测量精度的效果。
附图说明
[0039]图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境和测量点坐标标定设备的结构示意图。
[0040]图2为本专利技术实施例提供的一种通信网络系统架构图。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量点坐标标定方法,其特征在于,所述测量点坐标标定方法包括以下步骤:获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离;利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离;根据所述真实相对距离和所述测量相对距离,获取测量点的测量误差;改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差;基于所述多个测量误差的最小化总和,获得所述至少两个测量点的优化坐标。2.如权利要求1所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述利用至少两个测量点获取所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离步骤,具体包括:基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标;根据所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标获得所述第一标定点与所述第二标定点的测量相对距离。3.如权利要求2所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述基于获得的所述至少两个测量点的位置坐标,分别获取所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标步骤,具体包括:测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值;根据每个测量点的位置坐标和所述测量点到所述第一标定点的距离值,以及所述测量点到所述第二标定点的距离值,分别获得所述第一标定点的位置坐标和所述第二标定点的位置坐标。4.如权利要求3所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述测量所述至少两个测量点分别到所述第一标定点和所述第二标定点的距离值步骤,其中:所述距离值的测量方式包括超声波测距、激光测距或红外测距。5.如权利要求1所述的测量点坐标标定方法,其特征在于,所述改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标,返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的多个测量误差步骤,具体包括:在保持所述第一标定点与所述第二标定点的真实相对距离不变的基础上,改变所述第一标定点和所述第二标定点的位置坐标;返回所述获取第一标定点与第二标定点的真实相对距离的步骤,循环至获取所述第一标定点与所述第二标定点在不同位置坐标时的测量点的测量误差。6.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘志愿
申请(专利权)人:深圳市未来感知科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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