基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头制造技术

技术编号:30877029 阅读:30 留言:0更新日期:2021-11-18 15:59
本实用新型专利技术提供一种基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头,其包括壳体、入射窗、组织等效材料层、塑料闪烁体、PMMA、SiPM以及信号处理电路;使用时,当γ射线和大于800keV的β射线进入探测器前窗,就会穿过探测器前端的镀铝聚酯薄膜和组织等效材料层进入塑料闪烁体,在塑料闪烁体内沉积能量,产生的光电子进入SiPM,SiPM收集光电信号就会输出脉冲信号,其中脉冲高度与入射射线沉积能量成正比,从而完成射线的收集功能。从而完成射线的收集功能。从而完成射线的收集功能。

【技术实现步骤摘要】
基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头


[0001]本技术涉及辐射场所测量
,具体涉及一种基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头。

技术介绍

[0002]对于定向剂量当量率监测仪研制,是监测剂量率的基础,之前采用塑料闪烁体加PMT(光电倍增管)制作监测仪。随着新型的光电探测器SiPM(硅光电倍增管)在辐射探测中广泛使用,可以基于塑料闪烁体加SiPM制作出新型的探测器,其与PMT制作的监测仪相比,具有探测器体积小、便于携带的优点。

技术实现思路

[0003]针对现有技术中存在的缺陷,本技术的目的在于提供一种基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头,该塑料闪烁体探头其便于携带且能够有效用于辐射场所定向剂量当量率的测定。
[0004]为实现上述目的,本技术采用的技术方案如下:
[0005]一种基于SiPM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头,所述塑料闪烁探头包括:
[0006]壳体;
[0007]入射窗,所述入射窗固定安装在所述壳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于Si PM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头,其特征在于,所述塑料闪烁探头包括:壳体;入射窗,所述入射窗固定安装在所述壳体的前端;组织等效材料层;塑料闪烁体;有机玻璃反散射体;硅光电倍增管;以及信号处理电路;其中,所述入射窗紧密安装在所述组织等效材料层前端面,所述组织等效材料层的后端面紧密安装在所述塑料闪烁体的前端,所述有机玻璃反射散体安装在所述塑料闪烁体与硅光电倍增管之间,所述信号处理电路与所述硅光电倍增管相连,所述组织等效材料层、塑料闪烁体、有机玻璃反散射体、硅光电倍增管以及信号处理电路安装在所述壳体内腔中。2.根据权利要求1所述的一种基于Si PM测量3mm深度处的定向剂量当量率的塑料闪烁探头,其特征在于,所述有机玻璃反散射体与所述塑料闪烁体和硅光电倍增管...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦应靖李蔚铭唐智辉李胤陈双强林海鹏谷伟刚王勇以恒冠崔伟
申请(专利权)人:中国辐射防护研究院
类型:新型
国别省市:

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