一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪，涉及建筑工程技术领域，包括底板，所述底板的顶部对称活动连接有锚杆，所述底板的顶部对称开设有螺纹孔，所述底板的顶部对称固定连接有固定架，所述固定架的一侧固定连接有测量仪，所述固定架内部两侧对称固定连接有齿条板，所述固定架的顶部固定连接有顶板，所述顶板的顶部活动连接有量尺。该用于勘测高层建筑的静探测斜仪，通过齿条板、齿轮、三角架和第二电机的配合设置，对静力探头的高度调节，便于对地基软土层触探，通过凹槽和定位柱的配合设置，对三角架的底端限位调节，防止在触探过程中静力探头倾斜，造成地基软土结构探测不准确，从而影响建筑施工进度。从而影响建筑施工进度。从而影响建筑施工进度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪


[0001]本技术涉及建筑工程
，具体为一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪。

技术介绍

[0002]建筑工程特别是高层建筑，通常都要对地基软土层结构进行测量，常见勘测方法有静力触探。静力触探是利用机械传动将探头压入土中，通过电阻变化信号，传送到地面的测量仪表上，来查明地层的变化。
[0003]在中国技术专利申请号：CN202020347031.5中公开有一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪，该用于勘测高层建筑的静探测斜仪，包括机身，所述机身包括底架和立架，所述立架上设有探杆，立架上设有驱动探杆的驱动机构，所述立架的底端和底架转动连接，所述底架上设有刻度盘，所述刻度盘的圆心和立架的转动点位于同一轴线上，刻度盘和立架滑动连接，刻度盘上设有用于固定立架的固定组件。该用于勘测高层建筑的静探测斜仪，在对高层建筑的地基软土层机构探测时对静力探头的调节不方便，在使用时稳定性差，导致静力探头探测数值不准确，影响建筑施工进度的缺点。
[0004]因此，提出一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪来解决上述问题很有必要。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的顶部对称活动连接有锚杆（2），所述底板（1）的顶部对称开设有螺纹孔（3），所述底板（1）的顶部对称固定连接有固定架（4），所述固定架（4）的一侧固定连接有测量仪（5），所述固定架（4）内部两侧对称固定连接有齿条板（8），所述固定架（4）的顶部固定连接有顶板（17），所述顶板（17）的顶部活动连接有量尺（18），所述量尺（18）的底部固定连接有第一电机（9），所述第一电机（9）的底部固定连接有弯曲板（13）。2.根据权利要求1所述的一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪，其特征在于：所述底板（1）的顶部对称固定连接有凹槽（6），所述凹槽（6）的内部活动连接有定位柱（7），所述定位柱（7）的顶部固定连接有三角架（12）。3.根据权利要求2所述的一种用于勘测高层建筑的静探测斜仪，其特征在于：所述三角...

【专利技术属性】
技术研发人员：张洁松，
申请(专利权)人：山东新世纪工程项目管理咨询有限公司，
类型：新型
国别省市：