一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，包括被校静电衰减测试仪和衰减时间校准装置，所述输入高端接口和输入低端接口分别与被校静电衰减测试仪的输入端连接；其中，所述衰减时间校准装置包括电源输入端、电源转换单元一、电源转换单元二、可编程显示单元、可编程控制单元、高压开关一和高压开关二。本实用新型专利技术的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，通过校准装置预置的衰减时间和被校仪器测量的衰减时间进行比较，可以实现对静电衰减测试仪衰减时间参数的校准；校准装置具有脉冲信号输出端口，可以通过外接通用计数器对其时间参数进行溯源；该装置具有操作简单，检测效率高的优点。测效率高的优点。测效率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统


[0001]本技术属于检测仪器
，特别涉及一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统。

技术介绍

[0002]离子化静电消除器作为一种通用的防静电设备，在国内得到了大量的应用。据估计，目前我国大约有几十万台套离子化静电消除器应用于电子、石油、制造等领域。对于离子化静电消除器消除静电的能力测试，国际和国内标准都有相应的规定和说明，如《SJ/T10694
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2006电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》和《ESDSTM3.1
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2006 静电放电敏感产品的防护——电离化》等。这些标准中对静电消除器的测试都需要用到一种专用的测试设备——静电衰减测试仪。目前，国家没有公开的校准规范发布，其中IEC 61340
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1:2016《Protection of electronic devices from electrostatic phenomena
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General requirements》给出了静电衰减测试仪衰减时间参数的校准方法，但是目前还没有专门的校准装置可以校准，所以急需研发一种静电衰减时间校准装置，能够对衰减时间参数进行校准，满足其溯源需求。
[0003]静电衰减测试仪的衰减时间是指带电体的电压下降到其起始电压的给定百分比（即停止电压）所需要的时间，根据IEC 61340
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1:2016《Protection of electronic devices from electrostatic phenomena
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General requirements》中的要求，是测量带电体的电压从1000V下降到100V所需要的时间。静电衰减测试仪在对离子化静电消除器的衰减时间测量过程中，板间积累的电荷量很小，板间的电阻非常高（一般为10
15
Ω），而普通的电子信号记录设备输入电阻只有108Ω左右，所以无法通过放电波形采集的方法直接进行测量。

技术实现思路

[0004]技术目的：为了克服以上不足，本技术的目的是提供一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，解决了无法通过放电波形采集的方法来进行静电衰减测试仪衰减时间的测量的问题。本专利申请的目标是设计一款专用的静电衰减时间校准装置，实现对静电衰减时间参数进行校准。作为校准用标准器，该装置要能够溯源，并满足静电衰减时间校准的精度要求。
[0005]技术方案：一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，包括被校静电衰减测试仪和衰减时间校准装置，所述衰减时间校准装置上设有输入高端接口和输入低端接口，所述输入高端接口和输入低端接口分别与被校静电衰减测试仪的输入端连接；其中，所述衰减时间校准装置包括电源输入端、电源转换单元一、电源转换单元二、可编程显示单元、可编程控制单元、高压开关一和高压开关二，所述电源输入端与电源转换单元一的电源输入端连接，所述电源转换单元一的电源输出端支路一和电源转换单元二的电源输入端连接，所述电源转换单元二的电源输出端和可编程显示单元连接，所述可编程显示单元和可编程控
制单元连接，所述电源转换单元一的电源输出端支路二和可编程控制单元连接，所述可编程控制单元的输出端分别与高压开关一和高压开关二连接，所述高压开关一通过电容与输入高端接口和输入低端接口连接，所述高压开关二通过电容与输入高端接口和输入低端接口连接。本技术的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，可以对静电测试仪的衰减时间参数进行校准。该校准装置的高端和低端分别与被校静电衰减测试仪的充电平板和接地端相连接；校准装置对衰减时间进行预置，预置时间范围为1s～600s；被校仪器进行充电，当其充电板的充电大于起始电压后，启动放电按钮，校准装置和被校仪器同时启动计时功能，达到预置的衰减时间后，校准装置和被校仪器同时启动计时功能同时停止计时；通过校准装置预置的衰减时间和被校仪器测量的衰减时间进行比较，可以实现对静电衰减测试仪衰减时间参数的校准；校准装置具有脉冲信号输出端口，可以通过外接通用计数器对其时间参数进行溯源；该装置具有操作简单，检测效率高的优点。
[0006]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述可编程控制单元通过导线连接有校准信号输出端一和校准信号输出端二，所述校准信号输出端一和校准信号输出端二之间串联有电阻一，所述校准信号输出端二所在支路和可编程控制单元之间串联有电阻二。校准信号输出端一和校准信号输出端二用来测量可编程控制单元（定时器）是否准确。
[0007]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述电源转换单元一输出端的正极和校准信号输出端二所在支路连接，所述电阻二位于电阻一与校准信号输出端二所在支路交点和电源转换单元一输出端正极与校准信号输出端二所在支路交点之间。
[0008]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述高压开关一和高压开关二并联连接，所述高压开关一所在的支路连接有高压电容一，所述高压开关二所在的支路连接有高压电容二。
[0009]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述电源输入端为220V交流电源。
[0010]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述电源转换单元一可将电源输入端的220V交流电压转换为24V直流电压，所述电源转换单元二可将电源转换单元一输出的24V直流电压转换为5V直流电压。
[0011]进一步的，上述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，所述可编程显示单元和可编程控制单元之间采用RS232通信。
[0012]本技术还提供一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统的工作方法，包括以下步骤：
[0013]S1、被校静电衰减测试仪的起始电压设置为V1，被校静电衰减测试仪的停止电压设置为V2；
[0014]S2、初始时，高压开关一和高压开关二均处于断开状态，将被校静电衰减测试仪的充电板和衰减时间校准装置的输入高端接口连接，将被校静电衰减测试仪的接地端与和衰减时间校准装置的输入低端接口连接；
[0015]S3、衰减时间校准装置进行衰减时间预置为T0，T0为1s～600s范围内；
[0016]S4、被校静电衰减测试仪进行充电，被校静电衰减测试仪的充电电压高于起始电压V1，此时被校静电衰减测试仪处于电压U
s
状态；
[0017]S5、高压开关一闭合，被校静电衰减测试仪充电板上的电荷瞬间被转移到高压电容一中，被校静电衰减测试仪进行放电，电压U
s
瞬间被拉下，被校静电衰减测试仪充电板上的电压瞬间下降到小于起始电压V1大于停止电压V2的电压值，即被校静电衰减测试仪充电板上的电压下降至U
M
；
[0018]S6、被校静电衰减测试仪和衰减时间校准装置同时启动衰减时间计时功能，在电压保持U
M
状态时，被校静电衰减测试仪和衰减时间校准装置持续计时；
[0019]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，其特征在于：包括被校静电衰减测试仪（100）和衰减时间校准装置（200），所述衰减时间校准装置（200）上设有输入高端接口（201）和输入低端接口（202），所述输入高端接口（201）和输入低端接口（202）分别与被校静电衰减测试仪（100）的输入端连接；其中，所述衰减时间校准装置（200）包括电源输入端（1）、电源转换单元一（2）、电源转换单元二（3）、可编程显示单元（4）、可编程控制单元（5）、高压开关一（6）和高压开关二（7），所述电源输入端（1）与电源转换单元一（2）的电源输入端连接，所述电源转换单元一（2）的电源输出端支路一和电源转换单元二（3）的电源输入端连接，所述电源转换单元二（3）的电源输出端和可编程显示单元（4）连接，所述可编程显示单元（4）和可编程控制单元（5）连接，所述电源转换单元一（2）的电源输出端支路二和可编程控制单元（5）连接，所述可编程控制单元（5）的输出端分别与高压开关一（6）和高压开关二（7）连接，所述高压开关一（6）通过电容与输入高端接口（201）和输入低端接口（202）连接，所述高压开关二（7）通过电容与输入高端接口（201）和输入低端接口（202）连接。2.根据权利要求1所述的静电衰减测试仪的衰减时间校准系统，其特征在于：所述可编程控制单元（5）通过导线连接有校准信号输出端一（8）和校准信号输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：王冠钧，刘娣，
申请(专利权)人：无锡市计量测试院，
类型：新型
国别省市：