具有内建自测功能的存储模块和存储部件，以及相应的测试方法技术

一种具有内建自测功能的存储部件包括存储器阵列。输入／输出接口耦合到存储器阵列并具有反馈回路。提供控制器以向存储器阵列传输存储器阵列测试数据，以便储存存储器阵列测试数据，并从存储器阵列读取存储器阵列测试数据。还提供比较寄存器以便将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、专利
本专利技术一般涉及存储系统，特别涉及具有内建自测功能的存储模块和存储部件，如存储器件或存储器缓冲器。2、
技术介绍
集成电路器件如随机存取存储器(RAM)在制造期间通常经受器件检验测试。通常，设计这种检验测试以检测存储器阵列中的静态和动态缺陷。静态缺陷例如包括集成电路器件中的开路和短路缺陷。动态缺陷包括如产生计时灵敏缺陷的弱高导通或低导通晶体管等缺陷。通常采用专用的集成电路器件测试器以进行制造检验测试。例如，这种集成电路器件测试器可用于对存储器阵列进行读/写检验周期测试。通常相对低速(例如20MHz)、低成本集成电路器件测试器足够用于检测存储器阵列中的静态缺陷。然而，需要极其昂贵的集成电路测试器来检测超高速存储器阵列中的动态缺陷。这种昂贵的高速集成电路测试器增加了这种器件的总制造成本。此外，对于包括大存储器阵列的集成电路器件，进行这种读/写测试所需要的周期时间与阵列的尺寸成比例增加。为克服涉及测试集成电路器件的困难而做的尝试包括实现内建自测功能(BIST)电路。例如，集成电路高速缓冲存储器阵列可包含在存储器阵列上进行标准静态随机存取存储器(SRAM)13N Marc本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有内建自测功能的存储部件，包括：耦合到存储器阵列并具有反馈回路的输入／输出接口；控制器，其向输入／输出接口传输输入／输出测试数据，并从输入／输出接口的反馈回路接收输入／输出测试数据；和比较寄存器，将传输给输入／输出接口的输 入／输出测试数据与从输入／输出接口接收的输入／输出测试数据进行比较。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】US 2000-9-18 09/664,9101.一种具有内建自测功能的存储部件，包括耦合到存储器阵列并具有反馈回路的输入/输出接口；控制器，其向输入/输出接口传输输入/输出测试数据，并从输入/输出接口的反馈回路接收输入/输出测试数据；和比较寄存器，将传输给输入/输出接口的输入/输出测试数据与从输入/输出接口接收的输入/输出测试数据进行比较。2.根据权利要求1的存储部件，其中该存储部件是动态随机存取存储器(DRAM)。3.根据权利要求1的存储部件，其中该存储部件是缓冲器。4.根据权利要求3的存储部件，其中该缓冲器是地址和指令缓冲器。5.根据权利要求3的存储部件，其中该缓冲器是数据缓冲器。6.根据权利要求3的存储部件，其中该缓冲器是地址和指令以及数据缓冲器。7.根据权利要求1的存储部件，其中比较寄存器根据传输给输入/输出接口的输入/输出测试数据与从该输入/输出接口接收的输入/输出测试数据的比较而产生一个测试结果。8.根据权利要求1的存储部件，其中控制器适于向存储器阵列传输存储器阵列测试数据以在其中储存测试数据，并且从存储器阵列读取存储器阵列测试数据，以及比较寄存器适于将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。9.一种具有内建自测功能的存储部件，包括存储器阵列；耦合到存储器阵列并具有反馈回路的输入/输出接口；控制器，其向存储器阵列传输存储器阵列测试数据以储存存储器阵列测试数据，并从存储器阵列读取存储器阵列测试数据；和比较寄存器，将传输给存储器阵列的的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据进行比较。10.根据权利要求9的存储部件，其中该存储部件是动态随机存取存储器(DRAM)。11.根据权利要求9的存储部件，其中该存储部件是缓冲器。12.根据权利要求11的存储部件，其中该缓冲器是地址和指令缓冲器。13.根据权利要求11的存储部件，其中该缓冲器是数据缓冲器。14.根据权利要求11的存储部件，其中该缓冲器是地址和指令以及数据缓冲器。15.根据权利要求9的存储部件，其中比较寄存器根据传输给存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储阵列测试数据的比较而产生一个测试结果。16.一种测试具有内建自测功能的存储部件的方法，包括向具有反馈回路的输入/输出接口传输输入/输出测试数据；从输入/输出接口的反馈回路接收输入/输出测试数据；和将传输到输入/输出接口的输入/输出测试数据与从输入/输出接口接收的输入/输出测试数据相比较。17.根据权利要求16的方法，其中该存储部件是动态随机存取存储器(DRAM)。18.根据权利要求16的方法，其中该存储部件是缓冲器。19.根据权利要求18的方法，其中该缓冲器是地址和指令缓冲器。20.根据权利要求18的方法，其中该缓冲器是数据缓冲器。21.根据权利要求18的方法，其中该缓冲器是地址和指令以及数据缓冲器。22.根据权利要求16的方法，其中比较寄存器根据传输给输入/输出接口的输入/输出测试数据与从该输入/输出接口接收的输入/输出测试数据的比较而产生一个测试结果。23.根据权利要求16的方法，还包括向存储器阵列传输存储器阵列测试数据；在存储器阵列中储存存储器阵列测试数据；从存储器阵列读取存储器阵列测试数据；和将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。24.一种测试具有内建自测功能的存储部件的方法，包括向存储器阵列传输存储器阵列测试数据；在存储器阵列中储存存储器阵列测试数据；从存储器阵列读取存储器阵列测试数据；和将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。25.根据权利要求24的方法，其中该存储部件是动态随机存取存储器(DRAM)。26.根据权利要求24的方法，其中该存储部件是缓冲器。27.根据权利要求26的方法，其中该缓冲器是地址和指令缓冲器。28.根据权利要求26的方法，其中该缓冲器是数据缓冲器。29.根据权利要求26的方法，其中该缓冲器是地址和指令以及数据缓冲器。30.根据权利要求24的方法，其中比较寄存器根据传输给存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰哈尔伯特，兰迪搏内拉，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]