基于深度信息的表面缺陷检测系统技术方案

本实用新型专利技术涉及表面缺陷检测领域，特别涉及一种基于深度信息的表面缺陷检测系统，其包括拍摄组件、光源组件、安装支架及分析组件，拍摄组件与安装支架连接，安装支架调整拍摄组件与待测物体之间的相对位置，光源组件提供不同角度的光照以供拍摄组件采集不同角度光照下的图像，分析组件与拍摄组件通信连接并对图像进行分析输出检测结果。通过基于深度信息的表面缺陷检测系统对待测物体进行检测时，检测流程便于操作，能够实现对待测物体表面缺陷的快速检测；同时，能够精确的检测出待测物体表面微小的缺陷，进一步提高了对待测物体表面进行检测时的检测精度，具有较高的实用性及推广价值。值。值。

【技术实现步骤摘要】
基于深度信息的表面缺陷检测系统


[0001]本技术涉及表面缺陷检测领域，特别涉及一种基于深度信息的表面缺陷检测系统。

技术介绍

[0002]当前装备制造业正处于蓬勃发展的阶段，而随着装备制造业的快速发展，对零部件之间的配合精度要求也越来越高，其中零部件表面的好坏直接决定了装配时的配合精度，因此对零部件表面进行质量检测显得尤为重要。
[0003]目前，常用的检测方式是采用光度立体视觉法通过光度信息来检测物体表面的微小缺陷，但是上述检测方式仍然存在对物体表面的缺陷特征反映不足的现象，特别是在检测物体表面上的微小缺陷时，仍然无法达到较高的检测准确率。

技术实现思路

[0004]为解决光度立体视觉法对物体表面的缺陷特征反映不足而无法达到较高的检测准确率的问题，本技术实施例提供了一种基于深度信息的表面缺陷检测系统。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术实施例提供一种基于深度信息的表面缺陷检测系统，用于检测物体表面的缺陷，所述基于深度信息的表面缺陷检测系统包括拍摄组件、光源组件、安装支架及分析组件，所述拍摄组件与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于深度信息的表面缺陷检测系统，用于检测物体表面的缺陷，其特征在于：所述基于深度信息的表面缺陷检测系统包括拍摄组件、光源组件、安装支架及分析组件，所述拍摄组件与所述安装支架连接，所述安装支架调整所述拍摄组件与待测物体之间的相对位置；所述光源组件提供不同角度的光照以供所述拍摄组件采集不同角度光照下的图像；所述分析组件与所述拍摄组件通信连接并对所述图像进行分析输出检测结果。2.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述基于深度信息的表面缺陷检测系统进一步包括用以放置待测物体的安装平台；通过调节所述安装支架与所述安装平台之间的位置以调整所述拍摄组件与待测物体之间的相对位置。3.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源组件发出的光源为红外光源。4.如权利要求2所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述安装平台进一步设有放置待测物体的安装面，所述拍摄组件正对所述安装面，所述光源组件投射的光线与所述安装面之间的夹角为...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱勇建，谢润林，
申请(专利权)人：广西师范大学，
类型：新型
国别省市：