聚焦中子单色器的性能测试方法技术

本发明专利技术的实施例提供了一种用于聚焦中子单色器的性能测试方法，其中，所述聚焦中子单色器包括单晶条和支撑件，所述单晶条由多个单晶片堆叠而成，所述单晶片用于对中子束进行反射和聚焦，所述支撑件用于支撑和调整所述单晶片的姿态，所述性能测试方法包括：在将所述单晶片安装到所述支撑件之前，对所述单晶片的晶面取向精度进行测量；在将所述单晶片安装到所述支撑件之后，对所述单晶条的取向进行测量；利用激光检验所述中子单色器的聚焦性能；利用中子检验所述中子单色器的聚焦性能。本发明专利技术的实施例可以调整聚焦中子单色器的参数以提升其性能。其性能。其性能。

【技术实现步骤摘要】
聚焦中子单色器的性能测试方法


[0001]本专利技术的实施例涉及一种中子单色器，特别是涉及一种中子单色器的性能检测。

技术介绍

[0002]白光中子束是指从反应堆中子源水平切向的孔道中引出的中子束，其波长分布与反应堆的慢化剂温度的连续麦克斯韦谱相关。中子单色器可以从白光中子束中获取固定波长与固定带宽的准中子单色束，也即中子单色束。聚焦中子单色器可以在获取固定波长与固定带宽的中子束的同时对中子束进行聚焦。聚焦中子单色器可以对中子单色束同时或者分别在水平方向和垂直方向进行聚焦。

技术实现思路

[0003]本专利技术的实施例一方面提供了一种用于聚焦中子单色器的性能测试方法，其中，所述聚焦中子单色器包括单晶条和支架，所述单晶条由多个单晶片堆叠而成，所述单晶片用于对中子束进行反射和聚焦，所述支撑件用于支撑和调整所述单晶片的姿态，所述性能测试方法包括：在将所述单晶片安装到所述支撑件之前，对所述单晶片的晶面取向精度进行测量；在将所述单晶片安装到所述支撑件之后，对所述单晶条的取向进行测量；利用激光检验所述中子单色器的聚焦性能；利用中子检验所述中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于聚焦中子单色器的性能测试方法，其中，所述聚焦中子单色器包括单晶条和支撑件，所述单晶条由多个单晶片堆叠而成，所述单晶片用于对中子束进行反射和聚焦，所述支撑件用于支撑和调整所述单晶片的姿态，所述性能测试方法包括：在将所述单晶片安装到所述支撑件之前，对所述单晶片的晶面取向精度进行测量；在将所述单晶片安装到所述支撑件之后，对所述单晶条的取向进行测量；利用激光检验所述聚焦中子单色器的聚焦性能；利用中子检验所述聚焦中子单色器的聚焦性能。2.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述单晶片中的每个单晶片的取向进行测量。3.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述单晶片中的每个单晶片的取向进行测量，基于所述测量结果获得的取向精度，将所述单晶片分成若干组，将所述取向精度最低的一组单晶片再次进行单晶片的取向测量。4.根据权利要求1所述的方法，其中，在将所述单晶片安装到所述支撑件之后，对所述单晶条的取向进行测量的步骤中，中子束经过调整之后，射入所述聚焦中子单色器。5.根据权利要求4所述的方法，其中，对所述中子束的束斑进行调整。6.根据权利要求1所述的方法，其中，在将所述单晶片安装到所述支撑件之后，对所述单晶条的取向进行测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈东风，孙凯，王子军，李天富，余周香，李玉庆，马小柏，刘荣灯，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：