【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及存储器系统中的热控制，并且更具体地涉及确定和传 送固态存储设备的工作温度。
技术介绍
半导体存储器，例如RAM (随机存取存储器)的温度大致上由 其活动水平(读取和写入存储单元的速率)及其环境决定。如果温度 变得太高，则存储器中保存的数据就会损坏或者丢失。另外，随着固态存储器的温度上升，存储器以更快的速率丢失电 荷。如果存储器丢失电荷，它就会丢失在其存储单元内保存的数据。 RAM芯片具有自刷新电路系统，其以周期性间隔恢复丢失的电荷。 随着温度升高，自刷新速率必须提高以避免丢失数据。这将增加功耗。为了保持低的自刷新速率并且避免损坏存储器或者丢失数据，必 须了解一些与存储器温度有关的信息。温度信息越精确，就可以允许 存储器在越高的温度下运行，并且自刷新速率也可以越低，而没有丢 失数据的风险。如果温度信息不可靠或者不精确，那么存储器就必须 以更低的存取速率和更快的自刷新速率运行，以便提供一些误差容 限。精确的温度信息还可以用于控制冷却风扇和其它的热控制。存储器通常封装在其中包含几个类似或者相同IC (集成电路) 芯片，例如DRAM (动态随机存取存储器)...
【技术保护点】
一种装置，包括：多个存储设备，每个设备包含多个存储单元和热传感器；多路复用器，其耦合到每个所述热传感器；电流源，其耦合到所述多路复用器，以向所述热传感器提供电流；电压检测器，用于在施加电流时，检测每个所述热传感器的电压；以及温度电路，用于基于检测电压确定每个存储设备的温度。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1、一种装置，包括多个存储设备，每个设备包含多个存储单元和热传感器；多路复用器，其耦合到每个所述热传感器；电流源，其耦合到所述多路复用器，以向所述热传感器提供电流；电压检测器，用于在施加电流时，检测每个所述热传感器的电压；以及温度电路，用于基于检测电压确定每个存储设备的温度。2、 如权利要求1所述的装置，其中，所述电流源提供多个不同 的电流给每个热传感器，并且所述电压检测器检测每个热传感器的多 个不同的电压，每个不同的电压对应于不同的电流。3、 如权利要求2所述的装置，其中，所述温度电路组合每个热 传感器的不同的检测电压，以确定每个存储设备的温度。4、 如权利要求3所述的装置，其中，所述电路将所述不同的检 测电压施加到每个热传感器的电流/电压曲线，以确定每个存储设备 的温度。5、 一种装置，包括-多个存储设备，每个设备包含多个存储单元和热传感器； 电流源，其耦合到所述热传感器，以依次向每个所述热传感器施 加电流；电压检测器，其耦合到每个所述热传感器，以在施加电流时，检 测每个所述热传感器的电压；温度电路，用于基于所检测的电压确定每个存储设备的温度；以及存储器控制器，用于接收所确定的温度并基于其釆用热措施。6、 如权利要求5所述的装置，还包括用于将所述存储器控制器 连接到所述温度电路的总线，并且其中，所述温度电路使用该总线将 所确定的温度发送给所述存储器控制器。7、 如权利要求5所述的装置，还包括比较器，其用于比较所确 定的温度和阈值，并且用于如果所述多个存储设备中的任一个的温度 超过阈值，就发送警报给所述存储器控制器。8、 一种方法，包括施加第一电流给第一热传感器，所述热传感器嵌入在第一存储设 备内，所述存储设备包含多个存储单元；检测由施加的所述第一电流产生的所述热传感器的电压； 将所检测的电压转换为指示所述第一存储设备的温度的第一温度；在施加所述第一电流给所述第一热传感器之后，施加第二电流给 第二热传感器，所述第二热传感器嵌入在第二存储设备内；检测由施加的所述第二电流产生的所述第二热传感器的电压；以及将所检测的电压转换为指示所述第二存储设备的温度的第二温度。9、 如权利要求8所述的方法，还包括将所述第一和第二温度与 阈值进行比较，并且如果所述第一和第二温度之一超过所述阈值，则 产生警报。10、 如权利要求8所述的方法，还包括将所述第一和第二温度通 过通信总线传送给外部设备。11、 如权利要求8所述的方法，其中，施加第一电流的步骤包括将...
【专利技术属性】
技术研发人员：S贾殷，D怀亚特，J施，A米什拉，J哈尔伯特，M伊斯巴拉，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：US[]
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