【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及#企测领域，尤其涉及一种CPU/DSP的RAM存储空间失效的 牙企测处理方法、装置和系统。
技术介绍
带有随才/U^储器(Random Access Memory, RAM)的器件在其生命周期 中，会由于各种各样的原因导致功能失效， 一般而言，硬件本身发生损坏的， 我们称之为器件硬失效(Firm Error),否则，称之为器件软失效(Soft Error )。软失效主要是由于带电粒子撞击器件的存储单元RAM引起的，这些高能 粒子和半导体存储器的原子相互作用产生电子空穴对，该电子空穴对导致存储 单元中存储信息的改变，进而导致器件功能错误。上世纪70年代末的时候，工程人员就发现了软失效的现象，当时的原因 是器件封装材料放射性杂质衰变发出ct粒子，引起了电离效应，导致存储单元 状态发生改变。随着半导体技术的发展、器件工艺尺寸的降低、工作电压的减 少，现在发现宇宙射线同样也能引起器件软失效，且其影响的程度将比以往严 重的多，因此现在器件软失效再次受到业界的关注。所有带RAM的器件都有可能发生软失效，不过迄今为止业界关注较多的 是基于RAM的现场可编程门阵列...
【技术保护点】
一种随机存储器ＲＡＭ失效的检测处理方法，应用于对中央处理器ＣＰＵ／数字信号处理器ＤＳＰ的ＲＡＭ失效的检测处理，其特征在于，该方法包括：获取所述ＲＡＭ中的程序内容，将获取的程序内容与正确的程序内容进行比对，若所述ＲＡＭ中程序内容出现错误、且错误率低于预定值，则使用正确的程序内容对发生错误的程序内容进行数据修复；通过检测数据修复后的ＣＰＵ／ＤＳＰ的数据处理情况，评估所述数据修复是否成功，若所述评估结果为数据修复失败，则通过复位的方式重新加载ＲＡＭ中的程序内容进行修复。
【技术特征摘要】
1、一种随机存储器RAM失效的检测处理方法，应用于对中央处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理，其特征在于，该方法包括获取所述RAM中的程序内容，将获取的程序内容与正确的程序内容进行比对，若所述RAM中程序内容出现错误、且错误率低于预定值，则使用正确的程序内容对发生错误的程序内容进行数据修复；通过检测数据修复后的CPU/DSP的数据处理情况，评估所述数据修复是否成功，若所述评估结果为数据修复失败，则通过复位的方式重新加载RAM中的程序内容进行修复。2、 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过检测数据修复后的 CPU/DSP的数据处理情况，评估所述数据修复是否成功包括计算相邻;f全测周期内CPU/DSP数据处理异常记录次数的差值，若所述差 值大于第一门限，则评估数据修复失败；或，对CPU/DSP输出的数据进行校验，若计算得到的校验错误率大于第二门 限，则评估数据修复失败；或，计算相邻检测周期内CPU/DSP数据处理异常记录次数的差值，若所述差 值大于第三门限，且对CPU/DSP输出的数据进行校验所得到的校验错误率大 于第四门限，则评估数据修复失败。3、 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括读取所述 RAM中的程序内容，将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对时，若所 述RAM中程序内容的错误率大于或等于所述预定值，则通过复位的方式重新 加载RAM中的程序内容进行》务复。4、 如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括所述正确 的程序内容为高层控制实体存储的正确的程序代码，所述使用正确的程序内容 对发生错误的程序内容进行数据修复包括所述高层控制实体将RAM中发生错误的比特位的程序代码，修复为所述 高层控制实体存储的相应比特位的正确程序代码。5、 如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括若所述高 层控制实体对发生错误的比特位的程序代码进行数据修复后，该发生错误的比 特位的程序代码仍与正确程序代码不一致，则通过复位的方式重新加载RAM 中的程序内容进行修复。6、 如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 对重新加...
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