本发明专利技术提供了一种光学信息再现装置及利用该装置的光学信息再现方法。所述光学信息再现装置包括：光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束，将具有最大光强的再现光束的位置设置为基准位置，并且根据所述参考光束来设置信号区域；以及辅助光束检测器，其将入射到所述信号区域的辅助光束的光强相互进行比较并设置所述参考光束的入射角。因此，可以在从记录介质再现数据时检测倾斜误差并校正该倾斜误差。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术的实施例涉及光学信息再现装置，更具体地说，涉及一种可以利用参考光束和一对辅助光束检测倾斜误差并校正检测到的倾斜误差的光学信息再现装置及光学信息再现方法。
技术介绍
作为光学数据处理装置，已知有数字多功能盘(DVD)、高清晰度DVD(HD-DVD)、蓝光盘(BD)、近场光学信息处理装置以及全息光学信息处理装置。全息光学信息处理装置通过以相互交叉的方式向记录介质照射被光学调制的信号光束和用于在所述记录介质上形成干涉图案的参考光束来记录数据。全息光学信息处理装置通过以下步骤来再现所记录的数据仅向记录介质照射参考光束；通过利用检测器来检测从记录介质再现的再现光束；并且处理所检测到的再现光束。全息光学信息处理装置可以通过利用各种复用方法按照三维方式在光学信息记录介质的同一位置处重复地记录数据。因此，可以显著地提高面积有限的光学信息记录介质的存储容量。复用方法的示例可包括角度复用方法、相位码复用方法、波长复用方法、分维(fractal)复用方法、移位复用方法以及旋转(peristrophic)复用方法。光学信息不可能仅存储在存储介质上的一个位置处。也就是说，各种光学信息可记录在记录介质上的各个位置处。从而，应将记录介质移动到用于再现光学信息的位置处以再现存储在记录介质中的光学信息。例如，当记录介质是盘型时，在盘转动的同时再现光学信息。在Psaltis等人提交的题为“NON-VOLATILE READOUT OF SHIFTMULTIPLEXED HOLOGRAMS”的美国专利No.5,978,112中描述了一种移动记录介质的方法。该美国专利公开了一种倾斜记录介质的结构和方法。也就是说，依据在记录光学信息时该光学信息在记录介质上的记录位置，使得能够利用移位伺服来移动记录介质。如在该美国专利中所述，连续移动以再现光学信息的记录介质必须进行机械运动，例如转动和平移运动。因而，可连续地改变参考光束和记录介质的倾角。当像该美国专利一样采用体积全息照相时，参考光束应入射到角度选择性较大的体全息区域上，以提高再现光束的再现效率。当入射到存储有光学信息的记录介质上的参考光束的入射角处在布拉格(Brag)角范围内时，提高了响应于参考光束而再现的再现光束的再现效率。根据记录介质的倾角来确定参考光束的入射角。入射到记录介质上的参考光束的衍射效率取决于参考光束的入射角(即，记录介质的倾角)。当依据记录介质的倾角而变化的参考光束的入射角偏离布拉格角的范围时，再现光束的再现效率显著降低。因此，当在记录介质上记录数据时或者当从记录介质再现数据时，必须检测参考光束与记录介质之间是否出现倾斜误差并且必须校正该倾斜误差。
技术实现思路
本专利技术的实施例被设计用于解决上述问题。本专利技术的某些方面的优点在于提供了一种可以通过在再现光学信息时向记录介质输入辅助光束来检测记录介质的倾角并且校正倾斜误差的光学信息再现装置和光学信息再现方法。根据本专利技术的一方面，提供了一种光学信息再现装置，该光学信息再现装置包括光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束再现的再现光束；以及辅助光束检测器，其检测由光学信息衍射的辅助光束的光强，以读出所述记录介质的倾角。根据本专利技术的另一方面，提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤向存储有复用的光学信息的记录介质输入参考光束和辅助光束；检测由光学信息衍射的辅助光束，来测量所述记录介质的倾角；将所述记录介质的测得的倾角与设定值进行比较；确定所述记录介质的倾角；基于所述记录介质的所确定的倾角，来设定所述参考光束的入射角；以及基于所述参考光束的所设定的入射角来校正所述参考光束的入射角。根据本专利技术的另一方面，提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤向存储有复用的光学信息的记录介质输入参考光束；在倾斜所述参考光束的同时扫描光学信息；根据扫描到的光学信息来检测响应于所述参考光束而发射最大光强的光学信息，并且将发射最大光强的所述光学信息的位置设置为基准位置；基于所述基准位置设置信号区域；以及基于所述信号区域中的光学信息相对于所述基准位置的位置来控制所述参考光束的入射角。根据本专利技术的另一方面，提供了一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤向存储有光学信息的记录介质输入多个辅助光束；检测由所述记录介质衍射的辅助光束；将检测到的辅助光束与辅助光束的设定值进行比较；以及基于比较结果计算所述记录介质的倾角。附图说明图1是例示了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现装置的结构的图。图2是例示了根据本专利技术另一示例性实施例的光学信息记录/再现装置的结构的图，其中示意性地示出了记录光学信息时的光路。图3是例示了根据本专利技术另一示例性实施例的光学信息记录/再现装置的结构的图，其中示意性地示出了再现光学信息时的光路。图4是例示了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法的流程图。图5是例示了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法中的光束输入步骤的流程图。图6和图7是例示了在根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法中用于校正倾斜误差的光强-角度选择曲线的示意图。图8是例示了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法中的检测处理的流程图。图9到图10是例示了根据本专利技术示例性实施例的光学信息再现方法中的辅助光束检测处理的图。具体实施例方式下面，将参照附图来详细地描述光学信息再现装置、光学信息记录/再现装置以及利用所述装置的光学信息再现方法。在以下描述中，考虑元件的功能来定义其名称。因而，不应将元件的名称理解为限定技术构件，在本领域中也可称作其他名称。首先，将参照图1来描述光学信息再现装置的示例。如图所示，光学信息再现装置100包括光源110、偏振光束分束器120、临时光束分束器130、交叠光学系统140、聚焦光学系统160以及读出单元170。光源110发射具有预定波长的光束L。从光源110发射的光束L优选地为被形成为平行光束且为具有优异相干性的平面波类型的激光束。例如，光束L优选地具有适于存储全息数据的波长。偏振光束分束器120将从光源110发射的光束分为用于再现光学信息的参考光束R以及用于生成第一辅助光束A1和第二辅助光束A2的临时光束A。偏振光束分束器120具有用于起偏并对光束L进行分束的偏振分束面120a。偏振光束分束器120a用于透射临时光束(P偏振光束)A并反射参考光束(S偏振光束)S。可以设置特别的光源调节元件124，该光源调节元件124用于调节由偏振光束分束器120分束出的参考光束R以及第一辅助光束A1和第二辅助光束A2。光源调节元件124可被提供为偏振片、感光滤波器等等。光源调节元件124被设置为精确地调节参考光束R以及第一辅助光束A1和第二辅助光束A2的光强和均匀度，并且可在参考光束R和临时光束A的特性得到保证时不设置该光源调节元件124。可以使用非偏振光束分束器(未示出)来代替偏振光束分束器120。在这种情况下，可以使用S偏振片和P偏振片来代替光源调节元件124，S偏振片和P偏振片分别用于将由非偏振光束分束器所分束本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光学信息再现装置，该光学信息再现装置包括：光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入 所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束；以及辅助光束检测器，其检测由所述光学信息衍射的所述辅助光束的光强，以读出所述记录介质的倾角。
【技术特征摘要】
KR 2006-4-6 10-2006-0031299;KR 2006-4-6 10-2006-001.一种光学信息再现装置，该光学信息再现装置包括光源；分束器，其将从所述光源发射的光束分束为参考光束和临时光束；临时光束分束器，其将所述临时光束分束为一对辅助光束；入射光学系统，其向记录有光学信息的记录介质输入所述参考光束和所述辅助光束；再现光束检测器，其检测响应于所述参考光束而再现的再现光束；以及辅助光束检测器，其检测由所述光学信息衍射的所述辅助光束的光强，以读出所述记录介质的倾角。2.根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述再现光束检测器检测响应于所述参考光束而再现的再现光束、将所述再现光束具有最大光强的位置设置为基准位置、并基于所述基准位置来设置信号区域。3.根据权利要求2所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束检测器将入射到所述信号区域上的所述一对辅助光束的光强相互进行比较，并设置所述参考光束的入射角。4.根据权利要求3所述的光学信息再现装置，其中，将所述参考光束的入射角设置为使得所述辅助光束之间的光强差减小。5.根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束相对于所述参考光束成一倾角入射到所述记录介质上的不同位置处。6.根据权利要求5所述的光学信息再现装置，其中，记录在所述记录介质中的光学信息是全息干涉图案，并且所述辅助光束入射到所述参考光束入射的位置处，并随所述参考光束一同被衍射。7.根据权利要求1所述的光学信息再现装置，其中，所述参考光束和所述辅助光束入射到所述记录介质上的同一位置处，并且其中，所述光学信息再现装置还包括分束器，该分束器将从所述记录介质再现的所述再现光束与通过所述记录介质的所述辅助光束分开。8.根据权利要求7所述的光学信息再现装置，其中，所述辅助光束检测器包括沿控制所述参考光束的倾斜方向排列的多个光电二极管。9.根据权利要求8所述的光学信息再现装置，其中，所述光电二极管的排列长度大于所述辅助光束的入射位置之间的距离和在控制所述倾角时所述参考光束的入射位置的移动距离的总长度。10.一种光学信息再现方法，该光学信息再现方法包括以下步骤向存储有复用的光学信息的记录介质输入参考光束和辅助光束；检测由光学信息衍射的辅助光束，来测量所述记录介质的倾角；将所述记录介质的所测量的倾角与设定值进行比较；确定所述记录介质的倾角；根据所述记录介质的所确定的倾角，来设置所述参考光束的入射角；并且，根据所述参考光束的所设定的入射角来校正所述参考光束...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁奎一，
申请(专利权)人：大宇电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]
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