光学刻录装置及其刻录功率控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学刻录装置及其刻录功率控制方法。上述光学刻录装置包括：光发射单元驱动器，根据预定目标值执行最佳化功率校准程序以得到参考刻录功率，并调整参考刻录功率以得到测试刻录功率；信号处理装置，从预定测试区域中分别取得对应于参考刻录功率以及测试刻录功率的刻录质量；处理器，根据刻录质量取得最佳化刻录功率，并取得对应于最佳化刻录功率的最佳化目标值。最佳化目标值随后被用于数据刻录。上述光学刻录装置可通过对比测试数据的刻录质量来提高最佳化刻录功率的准确性，并借此提高刻录质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术有关于一种光学刻录装置，特别有关于一种光学刻录装置及其刻录 功率控制方法。
技术介绍
传统光学刻录系统(例如可擦写光盘驱动器(rewritable optical disc drive ))， 在将所需数据实际刻录至光学存储纟某体前，必须先执行刻录功率最佳化校准程 序(Optimum Power Calibration, OPC )以得到最佳化刻录功率。上述光学存储i某 体包括可刻录光盘(Compact Disc-Recordable, CD-R)、可刻录it字^L频光盘 (Digital Video Disc-Recordable: DVD-R， DVD+R, DVD+RDL， DVD-RDL )、可 擦写数字^见频光盘(Digital Video Disc-Rewritable: DVD-RW, DVD+RW, DVDRWDL)以及蓝光光盘(例如，Blu-Ray及HD DVD )等。在此，以下所称 的刻录功率代表在将数据刻录至光盘或重制(reproduce)光盘的数据时， 用来产生所需信号的光发射单元(例如激光二极管)的光发射强度。执行刻录 功率最佳化校准程序时，刻录功率在不同数据区段(sector)可调整成多个功率 等级(step)，例如在16个数据区段使用16个不同的功率等级，并将测试数据 刻录至位于光盘预定位置的测试区域，之后，数据区段的测试数据被重制以评 估对应的刻录质量。刻录功率最佳化校准程序是根据参考目标值(target value)执行的，例如适 用于可刻录凄t字一见频光盘(DVD-R、 DVD+R、 DVD+RDL、 DVD-RDL)的贝它 目标值(beta target value )或适用于可擦写凄t字一见频光盘(DVD-RW、 DVD+RW、 DVD-RWDL )的伽马目标值(gamma target value )。参考目标值是从预存在光 盘刻录装置的緩存器的表格中取得。 一般来说，具有相同制造商以及相同刻录 参数(例如刻录速度以及光盘类型)的光盘，会配置相同的目标值。然而，由于光盘的制作以及材料的差异，或不同类型的激光二极管的差异， 根据固定目标值所得到最佳化刻录功率的准确性可能会降低，从而导致刻录质量降低。
技术实现思路
为了提高最佳化刻录功率的准确性，并借此提高刻录质量，特提供以下技术方案本专利技术的实施方式提供一种刻录功率控制方法，适用于将数据刻录至光学 存储J 某体，包括根据预定目标值执行最佳化功率校准程序以得到参考刻录功 率；调整参考刻录功率以得到多个测试刻录功率；根据参考刻录功率以及多个 测试刻录功率分别将测试数据刻录至光学存储i某体的多个预定测试区域；从多 个预定测试区域中分别取得对应于参考刻录功率以及多个测试刻录功率的刻录 质量；根据刻录质量取得最佳化刻录功率；取得对应于最佳化刻录功率的最佳 化目标值；以及根据最佳化刻录目标值将数据刻录至光学存储媒体。本专利技术的实施方式还提供另 一种刻录功率控制方法，适用于将数据刻录至 光学存储媒体，包括根据预定刻录功率该光学存储媒体的第一预定测试区域 刻录测试数据；调整预定刻录功率以得到多个测试刻录功率；根据多个测试刻 录功率在光学存储々某体的多个第二预定测试区域分别刻录测试数据；从第一预 定测试区域中取得对应于预定刻录功率的刻录质量，并/人多个第二预定测试区 域中分别取得对应于多个测试刻录功率的刻录质量；根据刻录质量取得参考刻 录功率；根据参考刻录功率执行最佳化功率校准程序以得到最佳化刻录功率； 以及取得对应于最佳化刻录功率的最佳化刻录目标值。本专利技术的实施方式又提供一种光学刻录装置，用来将数据刻录至包括多个 预定测试区域的光学存储媒体，包括光发射单元驱动器、信号处理装置以及 处理器。光发射单元驱动器用来根据至少一个预定目标值执行最佳化功率校准 程序而得到至少一个参考刻录功率，并调整参考刻录功率以得到至少一个测试 刻录功率。信号处理装置用来从多个预定测试区域中分别取得对应于参考刻录 功率以及测试刻录功率的至少 一个刻录质量。处理器用来根据刻录质量取得最 佳化刻录功率，并取得对应于最佳化刻录功率的最佳化目标值。本专利技术的实施方式提供再一种光学刻录装置，用来将数据刻录至光学存储 媒体，包括光学读写单元、光发射单元驱动器、信号处理装置以及处理器。 光学读写单元用来根据预定刻录功率在光学存储J 某体的第 一预定测试区域刻录 测试数据，并分别根据多个测试刻录功率在光学存储々某体的多个第二预定测试区域刻录测试数据。光发射单元驱动器用来提供预定刻录功率，并调整预定刻 录功率以得到多个测试刻录功率，以及根据参考刻录功率执行最佳化功率校准 程序以得到最佳化刻录功率。信号处理装置用来从第一预定测试区域中取得对 应于预定刻录功率的刻录质量，并从多个第二预定测试区域中分别取得对应于 多个测试刻录功率的刻录质量。处理器根据刻录质量取得参考刻录功率，并取 得对应于最佳化刻录功率的最佳化目标值。以上所述的光学刻录装置及刻录功率控制方法，可通过对比测试数据的刻 录质量来提高最佳化刻录功率的准确性，并借此提高刻录质量。附图说明图1是^f艮据本专利技术实施例所述的光学刻录装置的方块图。图2是根据本专利技术实施例所述的应用于将数据刻录至光学存储媒体的刻录 功率控制方法的流程图。图3是根据本专利技术另一实施例所述的应用于将数据刻录至光学存储媒体的 刻录功率控制方法的流程图。图4是根据本专利技术又一实施例所述的应用于将数据刻录至光学存储媒体的 刻录功率控制方法的流程图。具体实施例方式在说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的元件。所属技术 领域的技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同 一个元件。 本说明书及权利要求书并不以名称的差异作为区分元件的方式，而是以元件在 功能上的差异作为区分的准则。在通篇说明书及权利要求项中所提及的「包括J 为一开放式的用语，故应解释成「包括但不限定于」。此外，r耦接」一词在此 包括任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接于第二 装置，则代表第一装置可直接电气连接于第二装置，或透过其它装置或连接手 段间接地电气连接至第二装置。图1是才艮据本专利技术实施例所述的光学刻录装置的方块图。光学刻录装置IO 包括具有主轴马达(spindle motor)的盘片旋转驱动单元12、光学读写单元 (Optical Pickup Unit, OPU )14、光发射单元驱动器16(例如激光二^f及管驱动器)、 信号处理装置18以及处理器19。光学读写单元14包括光发射单元(例如激光二极管)、光接收单元以及聚焦镜头。光发射单元用来使用激光光点照射光学存储媒体11以记录及/或重制数据。聚焦镜头用来聚焦由光发射单元发射至光学存储媒体ll的光束。用于刻录动作的驱动信号DR由光发射单元驱动器16提供，并且数据是以具有3T至14T长度的凹点(pits)形式刻录，在此，单位T为沿光盘轨道方向的刻录图案长度 的参考单位。此外，光发射单元驱动器16产生驱动信号DR以驱动光学读写单元14内部 的激光二极管。在一个实施例中，驱动信号DR的功率可根据预定功率而决定。 在其它实施例中，驱动信号DR的功率可根据预存于外部存储装置或光学存储媒 体11本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种刻录功率控制方法，适用于将数据刻录至光学存储媒体，包括：　根据预定目标值执行最佳化功率校准程序以得到参考刻录功率；　调整该参考刻录功率以得到多个测试刻录功率；　根据该参考刻录功率以及该多个测试刻录功率分别将测试数据刻录至该光学存储媒体的多个预定测试区域；　从该多个预定测试区域中分别取得对应于该参考刻录功率以及该多个测试刻录功率的刻录质量；　根据该刻录质量取得最佳化刻录功率；　取得对应于该最佳化刻录功率的最佳化目标值；以及　根据该最佳化刻录目标值将该数据刻录至该光学存储媒体。

【技术特征摘要】
US 2007-9-6 11/850,7061. 一种刻录功率控制方法，适用于将数据刻录至光学存储媒体，包括:根据预定目标值执行最佳化功率校准程序以得到参考刻录功率；调整该参考刻录功率以得到多个测试刻录功率；根据该参考刻录功率以及该多个测试刻录功率分别将测试数据刻录至该光学存储媒体的多个预定测试区域；从该多个预定测试区域中分别取得对应于该参考刻录功率以及该多个测试刻录功率的刻录质量；根据该刻录质量取得最佳化刻录功率；取得对应于该最佳化刻录功率的最佳化目标值；以及根据该最佳化刻录目标值将该数据刻录至该光学存储媒体。2. 如权利要求1所述的刻录功率控制方法，其特征在于更包括根据该参 考刻录功率以及预定差异值得到该多个测试刻录功率。3. 如权利要求2所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个测试刻录 功率包括第一测试刻录功率以及第二测试刻录功率，该第一测试刻录功率为该 参考刻录功率与该预定差异值的和，而该第二测试刻录功率为该参考刻录功率 与该预定差异值的差。4. 如权利要求3所述的刻录功率控制方法，其特征在于该最佳化刻录功 率为该第一测试刻录功率或该第二测试刻录功率。5. 如权利要求3所述的刻录功率控制方法，其特征在于该最佳化刻录功 率为该第一测试刻录功率、该参考刻录功率以及该第二测试刻录功率中任意两 者的内插值。6. 如权利要求2所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个测试刻录 功率包括第一测试刻录功率、第二测试刻录功率、第三测试刻录功率以及第四 测试刻录功率，该第一测试刻录功率为该参考刻录功率与两倍的该预定差异值 的和，该第二测试刻录功率为该参考刻录功率与该预定差异值的和，该第三测 试刻录功率为该参考刻录功率与该预定差异值的差，而该第四测试刻录功率为 该参考刻录功率与两倍的该预定差异值的差。7. 如权利要求1所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个预定测试 区域位于该光学存储媒体的内侧区域。8. 如权利要求1所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个预定测试 区域包括该光学存储々某体的内侧区域与外侧区域。9. 如权利要求8所述的刻录功率控制方法，其特征在于该光学存储媒体 的不同区域的该最佳化刻录功率，是根据分别对应于该光学存储媒体的该内侧 区域与该外侧区域的该刻录质量而调整。10. —种刻录功率控制方法，适用于将数据刻录至光学存储纟某体，包括 根据预定刻录功率在该光学存储纟某体的第 一预定测试区域刻录测试数据； 调整该预定刻录功率以得到多个测试刻录功率；根据该多个测试刻录功率在该光学存储媒体的多个第二预定测试区域分别 刻录该测试数据；从该第 一预定测试区域中取得对应于该预定刻录功率的刻录质量，并从该 多个第二预定测试区域中分别取得对应于该多个测试刻录功率的刻录质量；根据该刻录质量取得参考刻录功率；根据该参考刻录功率执行最佳化功率校准程序以得到最佳化刻录功率；以及取得对应于该最佳化刻录功率的最佳化刻录目标值。11. 如权利要求10所述的刻录功率控制方法，其特征在于更包括根据该 预定刻录功率以及预定差异值得到该多个测试刻录功率。12. 如权利要求11所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个测试刻 录功率包括第一测试刻录功率以及第二测试刻录功率，该第一测试刻录功率为 该预定刻录功率与该预定差异值的和，而该第二测试刻录功率为该预定刻录功 率与该预定差异值的差。13. 如权利要求12所述的刻录功率控制方法，其特征在于该参考刻录功 率为该第 一测试刻录功率或该第二测试刻录功率。14. 如权利要求12所述的刻录功率控制方法，其特征在于该参考刻录功 率为该第 一测试刻录功率、该预定刻录功率以及该第二测试刻录功率中任意两 者的内插值。15. 如权利要求11所述的刻录功率控制方法，其特征在于该多个测试刻 录功率包括第一测试刻录功率、第二测试刻录功率、第三测试刻录功率以及第 四测试刻录功率，该第一测试刻录功率为该预定刻录功率与两倍的该预定差异 值的和，该第二测试刻录功率为该预定刻录功率与该预定差异值的和，该第三 测试刻录功率为该预定刻录功率与该预定差异值的差，而该第四测试刻录功率 为该预定刻录功率与两倍的该预定差异值的差。16. ...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鸿祥，黄英峰，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]