一种集成电路测试板制造技术

本发明专利技术公开了一种集成电路测试板，其结构包括托盘、顶盖、套槽、旋转把手、底座，托盘上设置有套槽，且通过旋转把手转动配合在底座上，顶盖安装在套槽上，套槽包括架体、推座、夹具、纠偏组件、扣齿，架体通过旋转把手与夹具间接配合，且连接有推座，推座连接有扣齿，扣齿与纠偏组件间接配合，在纠偏组件上设置有拉举结构和侧夹装置，利用拉举结构和侧夹装置在调节格内相配合，当芯片一侧倾斜脱离与套槽内侧的测试位置时，另一侧将会滑动挤压拉举结构靠近调节格底部的弯折处，使得拉举结构配合侧夹装置带动芯片同侧下降延展，增大接触面积，有效对其进行稳固的夹持。其进行稳固的夹持。其进行稳固的夹持。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试板


[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，特别的，是一种集成电路测试板。

技术介绍

[0002]在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中，为保证芯片的质量和性能，集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试，当前，多采用集成电路测试板来完成芯片的测试，现有的集成电路测试板为能够快速的了解到芯片整体功能的测试情况，一般会推动设置的旋转把手，带动底座转动，套槽内的芯片会随着底座转动方向而转动至垂直状态，因底座转动同时，会与套槽内侧为支点，使得芯片一侧转动偏移，容易呈扇叶摆动在套槽内侧的测试位置上，以致于后续离心力加强，芯片无法保持测试时所需要的居中直立状态，并逐步摆动脱离套槽内侧，从而影响测试板的测试效果。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供一种集成电路测试板，其结构包括托盘、顶盖、套槽、旋转把手、底座，所述托盘上设置有套槽，且通过旋转把手转动配合在底座上，所述顶盖安装在套槽上，所述套槽包括架体、推座、夹具、纠偏组件、扣齿，所述架体通过旋转把手与夹具间接配合，且连接有推座，所述推座连接有扣齿，所述扣齿与纠偏组件间接配合。
[0004]作为本专利技术的进一步改进，所述纠偏组件包括开合套、拉举结构、测试框、调节格、侧夹装置，所述开合套连接在调节格上，所述调节格通过拉举结构间接配合在扣齿上，且连接有测试框。
[0005]作为本专利技术的进一步改进，所述测试框与调节格之间过渡配合有拉举结构，保证有充分维持定向支撑的有利条件，可以良好控制芯片复位的行进位置。
[0006]作为本专利技术的进一步改进，所述拉举结构包括压制轨、侧翼、分叉、制衡盘、纳锉，所述压制轨一端连接在制衡盘上，另一端设置有纳锉，所述制衡盘滑动配合在测试框内，且连接有侧翼，所述侧翼通过分叉活动卡合在压制轨之间。
[0007]作为本专利技术的进一步改进，所述纳锉包括滚珠、联动带、隔板、摆叶，所述滚珠连接在有摆叶，所述摆叶通过联动带套接连接在压制轨上，所述联动带之间活动卡合有隔板。
[0008]作为本专利技术的进一步改进，所述隔板间接配合在侧夹装置上，在之间的外围彼此搭接以及相互借力，保证隔板能始终与侧夹装置保持接触进行防滑。
[0009]作为本专利技术的进一步改进，所述侧夹装置包括磨合斗、牵平件、顶出杆、转轴、承接角、固定把，所述磨合斗通过固定把转动配合在扣齿上，且连接有承接角，所述承接角活动卡合在开合套上，所述固定把上连接有转轴，所述转轴通过顶出杆间接配合在牵平件上。
[0010]作为本专利技术的进一步改进，所述牵平件包括拉杆、限位块、弹簧、护板，所述拉杆通过弹簧滑动配合在承接角之间，且连接在护板上，所述护板上连接有限位块，所述限位块与滚珠过渡配合。
[0011]有益效果
[0012]与现有技术相比，本专利技术的有益效果：
[0013]1、本专利技术在纠偏组件上设置有拉举结构和侧夹装置，利用拉举结构和侧夹装置在调节格内相配合，当芯片一侧倾斜脱离与套槽内侧的测试位置时，另一侧将会滑动挤压拉举结构靠近调节格底部的弯折处，使得拉举结构配合侧夹装置带动芯片同侧下降延展，增大接触面积，有效对其进行稳固的夹持。
[0014]2、本专利技术由于分叉的开口能刚好与调节格弯折处套接在一起，并利用侧翼的偏转，能更好的旋拧在调节格上，并夹紧达到准确居中定位的目的。
[0015]3、本专利技术通过拉杆在承接角的倾斜面上滑动，能有利于承接角直接套接在开合套内部，作为角度改变的引导，也从结构上提高了承接角的支撑强度。
附图说明
[0016]图1为本专利技术一种集成电路测试板的结构示意图。
[0017]图2为本专利技术套槽的俯视结构示意图。
[0018]图3为本专利技术纠偏组件的剖面结构示意图。
[0019]图4为本专利技术拉举结构的平面结构示意图。
[0020]图5为本专利技术纳锉的俯视结构示意图。
[0021]图6为本专利技术侧夹装置的剖面结构示意图。
[0022]图7为本专利技术牵平件的剖面结构示意图。
[0023]图中：托盘
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1、顶盖
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2、套槽
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3、旋转把手
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4、底座
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5、架体
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31、推座
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32、夹具
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33、纠偏组件
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34、扣齿
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35、开合套
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341、拉举结构
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342、测试框
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343、调节格
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344、侧夹装置
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345、压制轨
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2a1、侧翼
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2a2、分叉
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2a3、制衡盘
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2a4、纳锉
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2a5、滚珠
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a51、联动带
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a52、隔板
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a53、摆叶
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a54、磨合斗
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5b1、牵平件
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5b2、顶出杆
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5b3、转轴
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5b4、承接角
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5b5、固定把
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5b6、拉杆
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b21、限位块
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b22、弹簧
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b23、护板
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b24。
具体实施方式
[0024]基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]实施例1
[0026]如图1
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图3所示，本专利技术提供一种集成电路测试板，其结构包括托盘1、顶盖2、套槽3、旋转把手4、底座5，所述托盘1上设置有两个以上的套槽3，且通过旋转把手4转动配合在底座5上，所述顶盖2安装在套槽3顶部，所述套槽3包括架体31、推座32、夹具33、纠偏组件34、扣齿35，所述架体31通过旋转把手4与夹具33内部间接配合，且上方焊接连接有推座32，所述推座32内侧固定连接有扣齿35，所述扣齿35与纠偏组件34间接配合，所述纠偏组件34包括开合套341、拉举结构342、测试框343、调节格344、侧夹装置345，所述开合套341设有两个，分别铰接连接在调节格344两侧，所述调节格344通过拉举结构342间接配合在扣齿35上，且顶部焊接连接有测试框343，所述测试框343为中空结构，其开口端与调节格344底部弯折处之间过渡配合有拉举结构342，保证有充分维持定向支撑的有利条件，可以良好控制芯片复位的行进位置，在纠偏组件34上设置有拉举结构342和侧夹装置345，利用拉举结构342和侧夹装置345在调节格344内相配合，当芯片一侧倾斜脱离与套槽3内侧的测试位置
时，另一侧将会滑动挤压拉举结构342靠近调节格344底部的弯折处，使得拉举结构342配合侧夹装置345带动芯片同侧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试板，其特征在于：其结构包括托盘(1)、顶盖(2)、套槽(3)、旋转把手(4)、底座(5)，所述托盘(1)上设置有套槽(3)，且通过旋转把手(4)转动配合在底座(5)上，所述顶盖(2)安装在套槽(3)上，所述套槽(3)包括架体(31)、推座(32)、夹具(33)、纠偏组件(34)、扣齿(35)，所述架体(31)通过旋转把手(4)与夹具(33)间接配合，且连接有推座(32)，所述推座(32)连接有扣齿(35)，所述扣齿(35)与纠偏组件(34)间接配合。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述纠偏组件(34)包括开合套(341)、拉举结构(342)、测试框(343)、调节格(344)、侧夹装置(345)，所述开合套(341)连接在调节格(344)上，所述调节格(344)通过拉举结构(342)间接配合在扣齿(35)上，且连接有测试框(343)。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述测试框(343)与调节格(344)之间过渡配合有拉举结构(342)。4.根据权利要求2所述的一种集成电路测试板，其特征在于：所述拉举结构(342)包括压制轨(2a1)、侧翼(2a2)、分叉(2a3)、制衡盘(2a4)、纳锉(2a5)，所述压制轨(2a1)一端连接在制衡盘(2a4)上，另一端设置有纳锉(2a5)，所述制衡盘(2a4)滑动配合在测试框(343)内，且连接有侧翼(2a2)，所述侧翼(2a...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙瑞，
申请(专利权)人：孙瑞，
类型：发明
国别省市：