本申请提供了一种屏幕缺陷的测量方法，该方法包括：获取待处理图像，待处理图像包括原始缺陷；对待处理图像进行增强，得到增强图像；根据增强图像，确定并提取第一缺陷，第一缺陷为增强后的原始缺陷；确定第一缺陷对应的类型，类型包括点缺陷、线缺陷中的至少一种；针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量。本申请提供的方法，可以实现对屏幕缺陷的精确测量。对屏幕缺陷的精确测量。对屏幕缺陷的精确测量。
【技术实现步骤摘要】
一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质
[0001]本申请属于屏幕缺陷检测
，尤其涉及一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]屏幕作为移动终端重要的构成部分，屏幕的质量好坏直接关系到产品的正常使用。当屏幕上的存在缺陷时，会影响产品的光学特性，严重破坏使用价值。音系，对屏幕的缺陷进行检测以及测量十分重要。
[0003]目标，对屏幕的检测大多只是将缺陷检测出来，而无法达到工业界需求的精确测量的程度。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种屏幕缺陷的测量方法、装置及计算机可读存储介质，可以解决不能对屏幕缺陷进行精确测量的问题。
[0005]第一方面，本申请提供了一种屏幕缺陷的测量方法，该方法包括：获取待处理图像，待处理图像包括原始缺陷；对待处理图像进行增强，得到增强图像；根据增强图像，确定并提取第一缺陷，第一缺陷为增强后的原始缺陷；确定第一缺陷对应的类型，类型包括点缺陷、线缺陷中的至少一种；针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量。
[0006]第一方面提供的方法，通过获取含有原始缺陷的待处理图像，将该待处理图像进行增强处理，得到增强图像。根据增强图像确定第一缺陷。并且，将第一缺陷从待处理图像中进行提取，该第一缺陷是指增强后的原始缺陷，相比于原始缺陷，第一缺陷的轮廓更加清晰。为了实现精准测量，将第一缺陷进行分类，确定第一缺陷为点缺陷或者线缺陷。根据第一缺陷的类型，利用不同的方法对第一缺陷的尺寸进行测量，实现对缺陷的精准测量。
[0007]可选的，利用配置远心镜头的相机，对屏幕局部区域进行拍摄，得到对应的待处理图像。该种实现方式中，利用配置远心镜头的相机可以对屏幕缺陷进行激光定位，精准找到屏幕缺陷后，进行局部区域图像的拍摄，从而可以获取高质量的缺陷图。
[0008]可选的，对待处理图像进行图像增强，得到增强图像，包括：利用待处理图像的像素点的通道进行求和，得到增强图像。该种实现方式中，通过将待处理图像中的像素点的红、绿、蓝通道进行通道求和，将原始图像的像素点进行增强，得到增强图像。
[0009]可选的，根据增强图像，提取第一缺陷，包括：利用待处理图像和基准图像进行差分，得到差分图像，差分图像包括第一缺陷和杂质。该种实现方式中，利用包含有原始缺陷的待处理图像和没有缺陷的基准图像进行差分，可以快速提取第一缺陷。
[0010]可选的，可以利用聚类算法，从差分图像中提取第一缺陷。该种实现方式中，利用聚类算法可以将差分图像中的第一缺陷和杂质进行区分。
[0011]可选的，根据增强图像，提取第一缺陷，包括：利用灰度直方图，从待处理图像中提
取第一缺陷。该种实现方式中，直接利用灰度直方图，设置像素点阈值，将第一缺陷从待处理图像中提取出来。
[0012]可选的，针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量，包括：当第一缺陷为点缺陷时，根据点缺陷的外接矩形的长和宽，确定点缺陷的尺寸。该种实现方式中，由于点缺陷占外接矩形的比值较高，因此，可以根据点缺陷的外接矩形直接作为点缺陷的尺寸。
[0013]可选的，针对不同类型的第一缺陷，利用不同方法对第一缺陷的尺寸进行测量，包括：当第一缺陷为线缺陷时，根据Rosenfeld算法提取线缺陷的中心线；基于中心线的长度确定线缺陷的长度；基于中心线到线缺陷的轮廓边缘的距离确定线缺陷的宽度。该种实现方式中，为了便于对线缺陷进行测量，可以根据提取到的线缺陷的中心线的长度作为线缺陷的长度，根据中心线到缺陷的轮廓边缘的距离确定线缺陷的宽度，从而实现对线缺陷的精确测量。
[0014]第二方面，提供了一种装置，该装置包括用于执行以上第一方面或者第一方面的任意一方面可能的实现方式中的各个步骤的单元。
[0015]第三方面，提供了一种装置，该装置包括远心镜头和至少一个处理器和存储器，该至少一个处理器用于执行以上第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法。
[0016]第四方面，提供了一种装置，该装置包括至少一个处理器和接口电路，该至少一个处理器用于执行以上第一方面或者第一方面中的任意一方面可能的实现方式中的方法。
[0017]第六方面，提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序在被处理器执行时，用于执行第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法。
[0018]第七方面，提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当该计算机程序被执行时，用于执行第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法。
[0019]第八方面，提供了一种芯片或者集成电路，该芯片或者集成电路包括：处理器，用于从存储器中调用并运行计算机程序，使得安装有该芯片或者集成电路的设备执行第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法。
[0020]可以理解的是，上述第二方面至第八方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
[0021]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0022]本申请通过获取含有原始缺陷的待处理图像，将该待处理图像进行增强处理，得到增强图像。根据增强图像确定第一缺陷。并且，将第一缺陷从待处理图像中进行提取，该第一缺陷是指增强后的原始缺陷，相比于原始缺陷，第一缺陷的轮廓更加清晰。为了实现精准测量，将第一缺陷进行分类，确定第一缺陷为点缺陷或者线缺陷。根据第一缺陷的类型，利用不同的方法对第一缺陷的尺寸进行测量，实现对缺陷的精准测量。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些
实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是本申请实施例提供的一种屏幕缺陷的测量方法的一个实施例的流程图；
[0025]图2是本申请实施例提供的笔记本电脑屏幕的缺陷的示意图；
[0026]图3是本申请实施例提供的利用K
‑
means聚类算法对差分图像中的像素点聚类的示意图；
[0027]图4是本申请实施例提供的屏幕缺陷测量装置400的示意性框图；
[0028]图5是本申请实施例提供的屏幕缺陷测量设备500的示意图。
具体实施方式
[0029]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
[0030]首先，在介绍本申请提供的方法和系统之前，需要对下文中即将提及的部分术语进行说明。当本申请提及术语“第一”或者“第二”本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种屏幕缺陷的测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取待处理图像，所述待处理图像包括原始缺陷；对所述待处理图像进行增强，得到增强图像；根据所述增强图像，确定并提取第一缺陷，所述第一缺陷为增强后的所述原始缺陷；确定所述第一缺陷对应的类型，所述类型包括点缺陷、线缺陷中的任意一种；针对不同类型的所述第一缺陷，利用不同方法对所述第一缺陷的尺寸进行测量。2.根据权利要求1所述的方法，所述获取待处理图像包括：利用配置远心镜头的相机，对屏幕局部区域进行拍摄，得到对应的所述待处理图像。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述待处理图像进行增强，得到增强图像，包括：利用所述待处理图像的像素点的通道进行求和，得到所述增强图像。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述增强图像，提取第一缺陷，包括：利用所述待处理图像和基准图像进行差分，得到差分图像，所述差分图像包括所述第一缺陷和杂质。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：利用聚类算法，从所述差分图像中提取所述第一缺陷。6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述增强图像，提取第一缺陷，包括：利用灰度直方图，从...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑国荣，胡斌，谢松乐，胡一爽，
申请(专利权)人：深圳市鑫信腾科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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