本发明专利技术公开了一种纹波噪声测试探头以及测试装置。纹波噪声测试探头包括：探针组件，包括正极探针和接地探针；至少一个隔直电容组件，包括两个以上隔直电容以及转接电极，各隔直电容包括第一电极和第二电极，各隔直电容的第一电极均与正极探针电连接，转接电极包括第一端和第二端，转接电极和两个以上隔直电容通过其中一者相对另一者变换位置，使得转接电极的第一端与两个以上隔直电容的第二电极择一电连接；同轴电缆，包括探测连接部和接地连接部，探测连接部与转接电极的第二端电连接，接地连接部与接地探针电连接。本发明专利技术实施例提供的纹波噪声测试探头能够设置合理的隔直电容，提高纹波测试的准确性。提高纹波测试的准确性。提高纹波测试的准确性。
【技术实现步骤摘要】
纹波噪声测试探头以及测试装置
[0001]本专利技术涉及电源测试
，具体涉及一种纹波噪声测试探头以及测试装置。
技术介绍
[0002]纹波是叠加在直流信号上的交流干扰信号，是电源测试中的一个重要的标准。纹波会降低电源效率，较强的纹波会在成浪涌电压或电流的产生，导致烧毁电器或者干扰数字电路的逻辑关系，影响直流电源正常工作，因此，在电子设备的制造过程中，为了检测电子设备的性能参数，经常需要对电子设备进行纹波噪声测试。
[0003]现有技术中通常采用无源探头测试纹波和噪声，在测试过程中，在无源探头中会接入隔直电容用于对纹波进行测试，但是不同的电路中需要焊接不同的隔直电容，为了在不同的测试电路中设置合理的隔直电容，在试验过程中需要反复拆卸选取合适的隔直电容，耗时费力，且易对隔直电容造成损伤。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种纹波噪声测试探头、测试装置以及测试方法，纹波噪声测试探头能够快速更换隔直电容，无需将隔直电容进行焊接，减少电磁干扰，提高纹波测试的准确性。
[0005]一方面，本专利技术提供了一种纹波噪声测试探头，包括：探针组件，包括正极探针和接地探针，正极探针用于连接待测电源的正极，接地探针用于连接待测电源的负极；至少一个隔直电容组件，包括两个以上隔直电容以及转接电极，各隔直电容包括第一电极和第二电极，各隔直电容的第一电极均与正极探针电连接，转接电极包括第一端和第二端，转接电极和两个以上隔直电容通过其中一者相对另一者变换位置，使得转接电极的第一端与两个以上隔直电容的第二电极择一电连接；同轴电缆，包括探测连接部和接地连接部，探测连接部与转接电极的第二端电连接，接地连接部与接地探针电连接。
[0006]根据本专利技术实施例的一个方面，隔直电容组件还包括公共电极和两个以上自电极，各隔直电容的第一电极均通过公共电极与正极探针电连接，至少部分两个以上自电极与两个以上隔直电容第二电极一一对应且电连接，转接电极的第一端通过自电极与对应的隔直电容的第二电极电连接。
[0007]根据本专利技术实施例的一个方面，隔直电容组件中的两个以上隔直电容能够绕沿隔直电容组件的轴线转动，转接电极固定设置。
[0008]根据本专利技术实施例的一个方面，隔直电容组件的数量为至少两个，每两个相邻的隔直电容组件相互间隔设置且相互电连接。
[0009]根据本专利技术实施例的一个方面，还包括：切换组件，设置在每两个相邻的隔直电容组件之间，切换组件包括第一状态和第二状态，在第一状态，各隔直电容组件中与转接电极电连接的隔直电容相互串联，在第二状态，各隔直电容组件中与转接电极电连接的隔直电容相互并联。
[0010]根据本专利技术实施例的一个方面，隔直电容组件还包括转动件，转动件与转接电极以及隔直电容中的一者连接。
[0011]根据本专利技术实施例的一个方面，隔直电容组件还包括：壳体，用于容纳两个以上隔直电容，壳体上包括与隔直电容对应的开口，隔直电容能够透过开口安装至壳体内；缓冲件，设置在壳体内；导电弹片，设置在壳体内且与缓冲件连接，缓冲件、导电弹片中的一者与隔直电容连接。
[0012]根据本专利技术实施例的一个方面，探针组件还包括连接件，连接件设置在正极探针与接地探针之间，正极探针、接地探针以及连接件的至少一者能够发生弹性形变以使正极探针和接地探针连接待测电源。
[0013]根据本专利技术实施例的一个方面，正极探针与接地探针相互平行且长度相等。
[0014]另一方面，本专利技术实施例提供一种纹波噪声测试装置，包括上述的纹波噪声测试探头。
[0015]根据本专利技术实施例提供的纹波噪声测试探头以及测试装置，其中，纹波噪声测试探头包括探针组件、隔直电容组件以及同轴电缆，探针组件包括正极探针和接地探针，用于与待测电源的正极和负极连接以对待测电源的纹波噪声进行测试。隔直电容组件包括两个以上隔直电容和转接电极，转接电极和两个以上隔直电容通过其中一者相对另一者变换位置，使得转接电极的第一端与两个以上隔直电容的第二电极择一电连接，从而能够快速选取合理的隔直电容与正极探针电连接，便于更换隔直电容以用于对纹波噪声进行测试，同时能够避免传统技术中将隔直电容焊接在测试电路中而引入较多的电磁干扰和拆卸不便等问题，便于提高对纹波噪声测试的准确性。
[0016]进一步的，同轴电缆包括探测连接部和接地连接部，探测连接部与转接电极电连接，进而使得探测连接部通过转接电极、隔直电容与正极探针电连接，接地连接部与接地探针电连接，使得当正极探针与待测电源正极连接、接地探针与待测电源负极电连接时能够形成稳定的测试回路，以对待测电源的纹波噪声进行准确的检测。
附图说明
[0017]通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。
[0018]图1示出本专利技术一个实施例提供的纹波噪声测试探头的结构示意图；
[0019]图2示出本专利技术一个实施例提供的纹波噪声测试探头的主视图；
[0020]图3示出图2中沿A-A方向的剖视图；
[0021]图4示出本专利技术一个实施例提供的第一隔直电容组件和第二隔直电容组件的结构示意图；
[0022]图5示出本专利技术一个实施例提供的第一隔直电容组件、第二隔直电容组件与切换组件之间的电路原理图；
[0023]图6示出本专利技术一个实施例提供的电源纹波测试方法的流程示意图；
[0024]图7示出本专利技术另一个实施例提供的电源纹波测试方法的流程示意图；
[0025]图8示出本专利技术一个实施例提供的纹波噪声测试探头、示波器以及待测电源连接的结构示意图；
[0026]图9示出本专利技术一个实施例提供的纹波噪声测试探头对待测电源的测试结果图；
[0027]图10示出对比例提供的测试探头、示波器以及待测电源连接的结构示意图；
[0028]图11示出对比例提供的测试探头对待测电源的测试结果图。
[0029]附图标记说明：
[0030]100-纹波噪声测试探头；
[0031]10-探针组件；11-正极探针；12-接地探针；13-连接件；
[0032]20-第一隔直电容组件；21-第一公共电极；22-第一自电极；23-第一隔直电容；231-第一电极；232-第二电极；24-第一转接电极；241-第一端；242-第二端；25-第一中轴线；26-第一连接轴；27-第一壳体；28-第一缓冲件；29-第一导电弹片；
[0033]30-同轴电缆；
[0034]40-第二隔直电容组件；41-第二公共电极；42-第二自电极；43-第二隔直电容；431-第三电极；432-第四电极；44-第二转接电极；441-第三端；442-第四端；45-第二中轴线；46-第二连接轴；47-第二壳体；48-第二缓冲件；49-第二导电弹片；
[0035]50-切换组件；51-第三壳体；K1-第一开关；K2-第二开关；
[0036]201-待测电本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种纹波噪声测试探头，其特征在于，包括：探针组件，包括正极探针和接地探针，所述正极探针用于连接待测电源的正极，所述接地探针用于连接所述待测电源的负极；至少一个隔直电容组件，包括两个以上隔直电容以及转接电极，各所述隔直电容包括第一电极和第二电极，各所述隔直电容的第一电极均与所述正极探针电连接，所述转接电极包括第一端和第二端，所述转接电极和所述两个以上隔直电容通过其中一者相对另一者变换位置，使得所述转接电极的所述第一端与两个以上所述隔直电容的所述第二电极择一电连接；同轴电缆，包括探测连接部和接地连接部，所述探测连接部与所述转接电极的所述第二端电连接，所述接地连接部与所述接地探针电连接。2.根据权利要求1所述的纹波噪声测试探头，其特征在于，所述隔直电容组件还包括公共电极，各所述隔直电容的所述第一电极均通过所述公共电极与所述正极探针电连接，和/或，所述隔直电容组件还包括两个以上自电极，至少部分所述两个以上自电极与所述两个以上隔直电容所述第二电极一一对应且电连接，所述转接电极的所述第一端通过所述自电极与对应的所述隔直电容的所述第二电极电连接。3.根据权利要求1所述的纹波噪声测试探头，其特征在于，所述隔直电容组件中的所述两个以上隔直电容能够绕沿所述隔直电容组件的轴线转动，所述转接电极固定设置。4.根据权利要求1所述的纹波噪声测试探头，其特征在于，所述隔直电容组件的数量为至少两个，每两个相邻的所述隔直电容组件相互间隔设置且相互电连接。5.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：何宁，何明，郭洋，
申请(专利权)人：中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：
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