一种元器件封装冲突的检查方法、装置、介质及设备制造方法及图纸

本申请公开了基于一种元器件封装冲突的检查方法、装置、介质及设备，包括对物料清单进行文本处理，获得多个关键词；识别所述多个关键词的封装规格；当所述多个关键词中存在至少两个封装规格时，检测所述至少两个封装规格的相关状态；以及当所述至少两个封装规格的相关状态为冲突状态时，确定所述物料清单存在异常。本申请可以解决在读取物料清单时无法检测物料清单中是否存在数据异常的问题。物料清单中是否存在数据异常的问题。物料清单中是否存在数据异常的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件封装冲突的检查方法、装置、介质及设备


[0001]本申请涉及数据处理
，具体涉及一种元器件封装冲突的检查方法、装置、介质及设备。

技术介绍

[0002]现有的采购系统通常从用户提供的物料清单中获取采购需求信息。但用户提供的物料清单中可能存在参数搭配错误等问题，采购系统在读取物料清单时无法检测物料清单中是否存在数据异常，因此，如果物料清单中出现数据异常，将会影响最终采购系统生成的数据。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，提出了本申请。本申请的实施例提供了一种元器件封装冲突的检查方法、装置、介质及设备，可以解决在读取物料清单时无法检测物料清单中是否存在数据异常的问题。
[0004]根据本申请的一个方面，提供了一种元器件封装冲突的检查方法，包括：对物料清单进行文本处理，获得多个关键词；识别所述多个关键词的封装规格；当所述多个关键词中存在至少两个封装规格时，检测所述至少两个封装规格的相关状态；以及当所述至少两个封装规格的相关状态为冲突状态时，确定所述物料清单存在异常。
[0005]在一实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种元器件封装冲突的检查方法，其特征在于，包括：对物料清单进行文本处理，获得多个关键词；识别所述多个关键词的封装规格；当所述多个关键词中存在至少两个封装规格时，检测所述至少两个封装规格的相关状态；以及当所述至少两个封装规格的相关状态为冲突状态时，确定所述物料清单存在异常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当所述多个关键词中存在至少两个封装规格时，检测所述至少两个封装规格的相关状态包括：将所述至少两个封装规格进行两两对比，获得对比结果；根据所述对比结果，确定所述至少两个封装规格的相关状态。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述至少两个封装规格进行两两对比，获得对比结果包括：单次将所述至少两个封装规格代入函数中，获得两个函数值；其中，所述函数包括散列函数；对比所述两个函数值和数据封装字典，获得所述两个函数值对应的两个预设封装规格；当所述两个预设封装规格相等时，确定所述两个函数值对应的两个封装规格具有相同含义。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述对比结果，确定所述至少两个封装规格的相关状态包括：当所述对比结果为所述两个函数值对应的两个封装规格具有不同含义时，确定所述两个函数值对应的两个封装规格的相关状态为冲突状态。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述识别所述多个关键词的封装规格包括：对比所述多个关键词和所述数据封装字典，确定所述多个关键词的封装规格。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对比所述多个关键词和数据封装字典，确定所述多个关键词的封装规格包括：当所述关键词与所述数据封装字典里的数据相同时，确定所述关键词的封装规格。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对物料清单进行文本处理，获得多个关键词包括：获取物料清单文件；对所述物料清单进行解析，获取所述物料清单的目标BOM数据；根据所述目标BOM数据，获取所述目标BOM数据中的列头数据以及每种单品的元件数据；其中，所述物料清单中包含多个单品的物料信息；根据所述列头数据，对所述元件数据进行清洗以及转换，生成解析电子元件数据；以及根据所述列头数据以及所述解析元件数据，封装...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢国清，林颖朝，
申请(专利权)人：深圳市云采网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：