显示屏烧录Flicker方法、装置、计算机及可读存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种显示屏烧录Flicker方法、装置、计算机及可读存储介质，其中，该显示屏烧录Flicker方法包括以下步骤：对当前显示屏上电并读取所述显示屏的设备编码；进行烧录Flicker，所述显示屏在烧录Flicker后保持亮屏；检测所述显示屏亮屏下的光学参数；对所述显示屏的设备编码以及光学参数进行存储；校验所述光学参数是否在预设范围区间内：若否，则标记所述显示屏为不良品。通过本申请，解决了相关技术中在完成烧录Flicker工序后无法实现对显示屏烧录后亮度和色坐标等光学参数进行管控的问题，实现了烧录Flicker工序过程中制程不良的溯源追查。程不良的溯源追查。程不良的溯源追查。

【技术实现步骤摘要】
显示屏烧录Flicker方法、装置、计算机及可读存储介质


[0001]本申请涉及显示屏调试
，特别是涉及显示屏烧录Flicker方法、装置、计算机及可读存储介质。

技术介绍

[0002]液晶面板(简称LCD)的闪烁(Flicker)不仅会影像其品质，也会对人眼产生比较大的伤害，因此，在制程工序中，每一台液晶显示屏出厂前都需要进行严格的调校，随着技术的进步，闪烁的调校逐渐从模拟到数字化、从手动调校到自动化检测的转变。
[0003]Flicker调节是通过调整液晶分子偏转的参考电压(Vcom电压)，消除正负周期电压差异造成的亮度不均，进而消除画面闪烁现象。自动Flicker调节是通过光探测器(CA310)检测LED闪烁值，利用逐级演算法找到最佳值，然后利用信号产生器的写入到IC内部，达到精准调整Vcom电压消除画面闪烁的目的。
[0004]烧录Flicker工序要实现对LCD的亮度和色坐标进行管控，由于背光一致性的问题，需要每片产品的亮度和色坐标满足客户验收标准，然而，现阶段无法对每片产品的亮度和色坐标管控，以使得在烧录Flicker工序中无法对烧录后产品的光学参数进行判定，也不能在烧录工序后保存测试出来的光学参数，使得当存在批次性产品不良时，无法进行溯源追查。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种显示屏烧录Flicker方法、装置、计算机及可读存储介质，以至少解决相关技术中在完成烧录Flicker工序后无法实现对显示屏烧录后亮度和色坐标等光学参数进行管控的问题。
>[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种显示屏烧录Flicker方法。包括：
[0007]对当前显示屏上电并读取所述显示屏的设备编码，
[0008]进行烧录Flicker，所述显示屏在烧录Flicker后保持亮屏；
[0009]检测所述显示屏亮屏下的光学参数，其中，所述光学参数包括亮度、色坐标以及色温；
[0010]对所述显示屏的设备编码以及光学参数进行存储；
[0011]校验所述光学参数是否在预设范围区间内：
[0012]若否，则标记所述显示屏为不良品。
[0013]优选的，所述标记所述显示屏为不良品的步骤之后，还包括：
[0014]查询所述显示屏的设备编码；
[0015]根据所述设备编码调取所述显示屏的光学参数信息；
[0016]根据所述光学参数确定超范围的参数类型；
[0017]根据所述参数类型对应显示错误码。
[0018]优选的，所述进行烧录Flicker的步骤包括：
[0019]判断光探测器是否处于探测区域内；
[0020]若是，则以递增或者递减的方式写入Vcom电压值，并对应测试Flicker值；
[0021]确定最佳Flicker值，并记录对应的Vcom电压值；
[0022]将最佳Flicker值对应的Vcom电压值固化至集成电路(IC)内。
[0023]优选的，所述进行烧录Flicker的步骤之前包括：
[0024]检测所述显示屏是否进行过烧录：
[0025]若否，则执行所述判断光探测器是否处于探测区域内步骤。
[0026]第二方面，本申请实施例提供了一种显示屏烧录Flicker装置，包括：
[0027]上电模块：用于对当前显示屏上电并读取所述显示屏的设备编码；
[0028]烧录模块：用于进行烧录Flicker；所述显示屏在烧录Flicker后保持亮屏；
[0029]检测模块：用于检测所述显示屏亮屏下的光学参数，其中，所述光学参数包括亮度、色坐标以及色温；
[0030]存储模块：用于对所述显示屏的设备编码以及光学参数进行存储；
[0031]校验模块：用于校验所述光学参数是否在预设范围区间内：
[0032]标记模块：用于在所述光学参数是不在预设范围区间内时，标记所述显示屏为不良品。
[0033]优选的，所述显示屏烧录Flicker装置包括：
[0034]查询模块：用于查询所述显示屏的设备编码；
[0035]调取模块：用于根据所述设备编码调取所述显示屏的光学参数信息；
[0036]比对模块：用于根据所述光学参数确定超范围的参数类型；
[0037]显示模块：用于所述根据参数类型对应显示错误码。
[0038]优选的，所述显示屏烧录Flicker装置包括：
[0039]第一判断单元：用于判断光探测器是否处于探测区域内；
[0040]写入测试单元：用于当光探测器是否处于探测区域内时，以递增或者递减的方式写入Vcom电压值，并对应测试Flicker值；
[0041]最佳值确定单元：用于确定最佳Flicker值，并记录对应的Vcom电压值；
[0042]固化单元：用于将最佳Flicker值对应的Vcom电压值固化至集成电路(IC) 内。
[0043]优选的，所述显示屏烧录Flicker装置包括：
[0044]烧录检测模块：用于检测所述显示屏是否进行过烧录：
[0045]若否，则使所述第一判断单元执行所述判断光探测器是否处于探测区域内步骤。
[0046]第三方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的显示屏烧录Flicker方法。
[0047]第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的显示屏烧录 Flicker方法。
[0048]相比于相关技术，本申请实施例提供的在显示屏烧录Flicker工序中，通过采集烧录Flicker的光学参数信息，以使得实现了对于显示屏亮度以及色坐标等参数的收集管控，解决了产品出现不良时，不能溯源追查其参数的问题。有效的提升了在烧录Flicker工位的参数管控能力。
[0049]本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
附图说明
[0050]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0051]图1为本专利技术第一实施例提出的显示屏烧录Flicker方法流程图；
[0052]图2为本专利技术第一实施例提出的对不良品的不良类型分类的方法流程图；
[0053]图3为本专利技术第一实施例提出的对显示屏进行烧录Flicker的方法流程图；
[0054]图4为本专利技术第一实施例提出的检测显示屏是否烧录的方法流程图；
[0055]图5为本专利技术第二实施例提出的显示屏烧录Flicker装置的结构示意图；
[0056]图6为本专利技术第二实施例中烧录模块的结构示意图。
具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏烧录Flicker方法，其特征在于，包括：对当前显示屏上电并读取所述显示屏的设备编码；进行烧录Flicker，所述显示屏在烧录Flicker后保持亮屏；检测所述显示屏亮屏下的光学参数，其中，所述光学参数包括亮度、色坐标以及色温；对所述显示屏的设备编码以及光学参数进行存储；校验所述光学参数是否在预设范围区间内：若否，则标记所述显示屏为不良品。2.根据权利要求1所述的显示屏烧录Flicker方法，其特征在于，所述标记所述显示屏为不良品的步骤之后，还包括：查询所述显示屏的设备编码；根据所述设备编码调取所述显示屏的光学参数信息；根据所述光学参数确定超范围的参数类型；根据所述参数类型对应显示错误码。3.根据权利要求1所述的显示屏烧录Flicker方法，其特征在于，所述进行烧录Flicker的步骤包括：判断光探测器是否处于探测区域内；若是，则以递增或者递减的方式写入Vcom电压值，并对应测试Flicker值；确定最佳Flicker值，并记录对应的Vcom电压值；将最佳Flicker值对应的Vcom电压值固化至集成电路内。4.根据权利要求3所述的显示屏烧录Flicker方法，其特征在于，所述进行烧录Flicker的步骤之前包括：检测所述显示屏是否进行过烧录；若否，则执行所述判断光探测器是否处于探测区域内步骤。5.一种显示屏烧录Flicker装置，其特征在于，包括：上电模块：用于对当前显示屏上电并读取所述显示屏的设备编码；烧录模块：用于进行烧录Flicker；所述显示屏在烧录Flicker后保持亮屏；检测模块：用于检测所述显示屏亮屏下的光学参数，其中，所述光学参数包括亮度、色坐标以及色温；存储模块：用于对所述显示屏的设备编码以...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺建文，
申请(专利权)人：江西联创万年电子有限公司，
类型：发明
国别省市：