一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置制造方法及图纸

一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，包括顶极板和底电极板，顶极板和底电极板形成一个多边形圆柱体且两侧为开放型，通过两侧的绝缘部件进行支撑；所述的顶极板1和底电极板两侧通过N型头和负载相连，所述的顶部板设置一个放置聚四氟乙烯圆盘的圆孔，圆盘用来放置被测特高频传感器，N型头接入射频信号发生器，负载用于阻抗匹配，顶极板和底电极板之间产生稳定的电磁场，被测特高频传感器耦合该电磁场信号，被测特高频传感器与频谱分析仪连接，调节射频信号源频率和幅度，可以通过频谱分析仪记录传感器频谱响应特征；本实用新型专利技术结构小巧，便于使用，为传感器出厂检验提供帮助。助。助。

【技术实现步骤摘要】
一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置


[0001]本技术涉及变电设备绝缘监测
，特别涉及一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置。

技术介绍

[0002]局部放电特高频传感器设计完成后，一般会有完整的测试检验过程，但是在批量生产加工后，不可能进行之前的检验测试过程，因为检测费用昂贵，并且花费很大的时间。
[0003]目前行业内的特高频传感器检测装置，主要集中在检验机构及研究所使用，结构尺寸比较大，需要借助高速示波器，成本较高。企业一般没有类似平台进行传感器出厂测试。

技术实现思路

[0004]为了克服上述现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，结构小巧，便于使用，为传感器出厂检验提供帮助。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是：
[0006]一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，包括顶极板1和底电极板2，顶极板1和底电极板2形成一个多边形圆柱体且两侧为开放型，通过两侧的绝缘部件3进行支撑；所述的顶极板1和底电极板2两侧通过N型头4和负载5相连，所述的顶部板1设置一个圆孔6。
[0007]所述的顶极板1和底电极板2为铝制金属板。
[0008]所述的绝缘部件3为聚四氟乙烯。
[0009]所述的多边形圆柱体为六边形圆柱体或八边形圆柱体。
[0010]所述的顶极板1截面为等边梯形形状，角度165
°
[0011]所述的底电极板2截面为等边梯形形状，角度165
°
[0012]本技术的有益效果：N型头4和负载5相连，顶极板1和底电极板2形成一个多边形圆柱体且两侧为开放型，确保顶极板1和底电极板2之间在信号相同下能够产生稳定的电磁场信号，确保每次检测过程输出信号一致。
[0013]本技术得益于特高频TEM开放型检测装置优点，利用顶层开具的圆孔，作为特高频传感器测试频带和增益的对比一致性测试区域，向特高频TEM开放型检测装置注入射频信号，射频信号在小室内进行传播并在开孔处形成电场，被测传感器将测试区域的电场转化为电压信号输出到频谱分析仪中，保存在整个频带内的曲线。
[0014]本技术的特高频传感器TEM开放型检测装置，工作频率从100MHz到3000MHZ，完全满足目前传感器检测频带及增益测试要求，造价远远低于通信行业的微波暗室的造价，所选用的仪器配置也是满足行业要求即可，资源充分利用，用于生产厂家特高频传感器检验平台，可以有效提高检验效率和准确性，对产品一致性提供可靠检测。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构示意图。
[0016]图2为本技术的结构侧视图。
具体实施方式
[0017]下面结合附图和实施例对本技术作进一步详细说明。
[0018]如图1图2所示，一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，包括顶极板1和底电极板2，顶极板1和底电极板2形成一个六边形圆柱体且两侧为开放型，通过两侧的绝缘部件3进行支撑；所述的顶极板1和底电极板2两侧通过N型头4和负载5相连，所述的顶部板1设置一个圆孔6，圆孔6上面放置一个圆盘，圆盘用来放置被测特高频传感器。
[0019]本实施中，顶极板1为铝制金属板，圆盘以及绝缘支撑部件3为聚四氟乙烯，聚四氟乙烯对电磁波几乎没有影响，能够保证信号无畸变辐射到被检测传感器放置面，本实施中，负载5为50欧姆，电阻频带3GHZ。
[0020]本技术的工作原理：在顶部板1的圆孔6上面放置一个圆盘，圆盘用来放置被测特高频传感器，N型头4接入射频信号发生器，负载5负载电阻，用于阻抗匹配，顶极板1和底电极板2之间产生稳定的电磁场，被测特高频传感器耦合该电磁场信号，被测特高频传感器与频谱分析仪连接，调节射频信号源频率和幅度，可以通过频谱分析仪记录传感器频谱响应特征。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，其特征在于，包括顶极板(1)和底电极板(2)，顶极板(1)和底电极板(2)形成一个多边形圆柱体且两侧为开放型，通过两侧的绝缘部件(3)进行支撑；所述的顶极板(1)和底电极板(2)两侧通过N型头(4)和负载(5)相连，所述的顶极板(1)设置一个圆孔(6)。2.根据权利要求1所述的一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，其特征在于，所述的顶极板(1)和底电极板(2)为铝制金属板。3.根据权利要求1所述的一种用于特高频传感器检测TEM开放型检测装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：张旭，杨晓宏，侯非，郑东举，
申请(专利权)人：西安博源电气有限公司，
类型：新型
国别省市：