信息记录介质盘及其制备方法技术

本发明专利技术涉及光记录信息盘的跟踪导槽的改进．过去，在导槽中记录地址信号，速度控制信号或类似的信号，是取决于槽的深度的变化．然而，一直存在这样的问题，即检测信号的电平与记录信号的电平不相匹配．根据本发明专利技术，如图１所示，槽的深度是常数而槽的宽度是可变的，如Ｗａ和Ｗｂ，这样，当记录信号时，检测信号电平很容易地达到理想电平．深度是常数而宽度是变化的槽，可用强度可调制的激光束对光阻层爆光的方法制备．（*该技术在2005年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，其中，在跟踪控制操作中使用予先制备的跟踪参考信号产生导槽在下述情况之一生效，或是在两种情况时都生效，即当记录与信息记录介质盘的记录层有关的信息信号时，以及从信息记录介质盘的记录层中再生信息信号时，这样，其槽的宽度可由另一信息信号改变。随着目前在各种
中对高密度记录和信息信号的再生的高度要求，已经提出了各种形式的信息记录介质来高密度记录和再生信息信号。作为信息记录介质，由于该介质可使信息信号容易地记录及再生，而且记录的信息信号可容易地擦去以便重新记录(重写)信息信号，众所周知，磁记录介质通常是由铁磁体材料构成记录层。然而，最近作为能记录、再生和重新记录的信息记录介质，已经提出了一种在衬底上带有记录层的信息记录介质，上述的记录层是由诸如TeOx、Ge、Sn等材料制成的，在材料上加电磁波或电场或是加热而产生从无定形态到晶体态的相变，或是从晶体态到无定形态的相变，或者信息记录介质中的记录层是在衬底上制成，上述的记录层是由磁性膜构成，(磁性膜是MnBi、MnCuBi GdCO)使受到热磁记录(如所谓的居里点温度记录或补偿温度记录)。这种信息记录介质已有效地用在记录和再生信息信号中，它的密度具有比采用一般磁记录介质的通常记录和信息信号的密度高得多。而随之带来的问题是跟踪间距必须缩窄，这样才能满意地实现信息信号的高密度记录和再生，然而在这种窄跟踪间距的情况下，很难精确地追踪一个记录单元，一个再生单元或信息记录介质中的记录槽上的记录和再生单元。因此，采用了各种跟踪控制方法以图解决上述的问题。这个建议依旧包含着需要较高等级的记录密度的问题，作为记录装置，需要极高机械精度的装置，以防止在记录过程中记录槽的越位问题，结果是装置材料昂贵。克服上边提到问题的方法已经被提出了。即是，在一盘型信息记录介质中(一信息记录介质盘)它采用了一很好的光点来实现记录和再生信息信号，在跟踪控制操作中使用予先制备的跟踪参考信号产生导槽或是在下述情况之一生效，或是在两种情况都生效，即当记录与信息记录介质盘的记录层有关的信息信号时，以及从信息记录介质盘的记录层中再生信息信号时，如日本专利57643/83中所公开的那样。如果信息记录介质盘中跟踪参考信号产生导槽，(其中信号产生导槽如前边所述，是予先制备好的)。只是用于产生跟踪参考信号，则这将使槽提供予先确定的宽度和深度得到满足。然而，通常情况下，只利用上述跟踪参考信号产生导槽的一部分，该部分事先定好来记录(在不可擦模式中)其它信息信号。例如，地址信号，速度控制信号及其它所需信号。特别是，如上述所述的，跟踪参考信号产生导槽的一部分是用于固定地记录那里的其它信息信号，到目前为止采用的记录其它信号的模式是如图5所示。跟踪参考信号产生导槽的深度是由要记录在那里的其它信息信号改变的。图5(a)是一个平面图，示出了一个在信息记录介质盘中的跟踪参考信号产生导槽，图5(b)是沿图5(a)的线A-A的纵向剖面侧视图。在跟踪参考轨道信号产生导槽中记录的其它信息信号是根据如图5中示出的深度差别记录的，在信息记录介质盘中，其它信息信号是按槽出现和不出现的状态来记录的。因此，在一再生装置中，其它的信息信号可由读出光束的衍射量的差别来读出。另外，在与信息信号“1”相应的部分中，光反射之间的差别作为信息记录介质盘的记录层中记录的记录和再生的目标，这就提供了记录层〔例如由TeOx、Ge、Sn，材料制成的记录层从而产生了从无定形态到晶态的相变，或是从晶态到无定形态的相变，或者记录层是由磁膜形成的(例如形成磁膜的材料是Mn、Bi、MnCuBiCdCO)受到热磁记录(如所谓的居里点温度记录，或是补偿温度记录)〕，与信息信号“0”相应的部分的光的反射率很低，最大是百分之25。另一方面，在通常的信息记录介质盘中，其它信号，比如，地址信号，速度控制信号和其它所需的信号是予先固定地记录的(以可擦形式)而信息记录介质盘中，跟踪参考信号产生导槽的部分是根据深度的差别设计的，所以，跟踪参考信号产生导槽如上所述是予先设计的，有这样一个问题，即自跟踪参考信号产生导槽所产生的信号的信号强度和基于记录在跟踪参考信号产生导槽部分中的其它信息信号的再生信号的信号强度易于加强以便与一个信息信号的信号强度相比较，该信息信号是作为记录和再生的目标被记录在记录层中的。而后，一个再生信号输出由产生导槽的跟踪参考信号所调制，而当带有跟踪参考信号产生导槽的信息记录介质盘由一个光学显象仪器进行再生时，才能获得该再生信号，这将在下文中详述，并且前面提到的问题也将逐一地解释。(术语“调制”是在比率为一调制因数的定义条件下使用的，比率即是在信息记录介质盘的某一信息信号间由光学显象仪器读出，从光学显象仪器发出至信息记录介质盘的读出光量由跟踪参考信号产生导槽衍射而且再返回到该光学显象仪器的，而且从光学显象仪器发出的读出光投射到信息记录介质盘中，没有跟踪参考信号产生导槽的那部分，并返回得该光学显象仪器。令α(ξ、η)为λ射光在光学显象仪器中物镜光圈处的振幅分布，E(X、Y)为跟踪参考信号产生导槽的相位分布，f(ξ、η)是相对于由跟踪参考信号产生导槽衍射光的物镜的振幅分布，而相对于由跟踪参考信号产生导槽衍射的光的物镜的振幅分布f(ξ、η)由下面的方程式给出。在方程中，i是虚数，K是由光的波长和物镜决定的常数。f ( ξ , η ) =12 η∫∫∞-∞｛E ( X,Y)∫∫∞∞a ( ξ , η) εi k ( x ξ + yη)d ξ d η ｝Xε i k ( X ξ + yη) d x d y]]>因为上述方程所示的f(ξ、η)是与物镜的远场图等价的，所以有可能在数字上计算一个由跟踪参考信号产生导槽所调制的再生信号输出。在图3中，光学显象仪器的物镜的数字光圈NA是0.5，而读出光具有7800埃的波长，其明暗度分布呈高斯分布，而且读出光的光通量(其光强在中心部分是l/e2)是从光学显象仪器投射到信息记录介质盘的。在信息记录介质盘中的跟踪参考信号产生导槽有一个与信息记录介质盘表面垂直的屏障表面。并且在信息记录介质盘中，光的入射面上介质的光折射率是1.5。跟踪参考信号产生导槽的宽度计算为7000埃，9000埃和11000埃，横座标轴表示跟踪参考信号产生导槽的深度d(埃)，而纵座标轴表示调制因数(%)。图3中，曲线(1)、(2)和(3)分别表示跟踪参考信号产生导槽的宽度为7000埃，9000埃和11000埃。在上面所述例子的情况下，跟踪参考信号产生导槽的深度值d(在该处从光学显象仪器中获得跟踪参考信号最大值)是650埃跟踪参考信号产生导槽的信号最大时的深度d按照下面的关系获得，即d＝λ/8η假定光学显象仪器如上述所说明的，用来从常规的信息记录介质盘中再生信息信号(其中以不可擦方式予先固定记录入其它的信息信号，例如地址信号，速度控制信号和其它需要的信号)在信息记录介质盘中跟踪参考信号产生导槽和部位，其跟踪参考信号产生导槽是予先制备的，并且跟踪参考信号产生导槽的深度为d，即650埃，在这一深度处可获得最大的信号，与跟踪参考信号产生导槽相应的光学显象仪器所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息记录介质盘其特征是在跟踪控制操作中使用的予先制备的跟踪参考信号产生导槽在下述两种情况之一或两种情况时有效，即在记录与信息记录介质盘的记录层有关的信息信号时，和从信息记录介质盘的记录层中再生信息信号时，该跟踪参考信号产生导槽，包括其宽度通过事先记录在信息记录介质盘中的信息信号而变化的导槽。

【技术特征摘要】
1.一种信息记录介质盘其特征是在跟踪控制操作中使用的予先制备的跟踪参考信号产生导槽在下述两种情况之一或两种情况时有效，即在记录与信息记录介质盘的记录层有关的信息信号时，和从信息记录介质盘的记录层中再生信息信号时，该跟踪参考信号产生导槽，包括其宽度通过事先记录在信息记录介质盘中的信息信号而变化的导槽。2.制备信息记录介质盘的方法，其特征是具有基本上给定深度的螺旋形和同轴园形槽的宽度是根据信息信号改变来记录信息信号，制...

【专利技术属性】
技术研发人员：系长诚，
申请(专利权)人：日本胜利株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]