光学器件制造技术

一种能结构简单且小型化的检测磁光信号的光学器件。该光学器件包括一个在共衬底上紧靠地安置光发射部分和光接收部分的光学元件（１），其中在光发射部分发射的光由磁光介质（３６）反射后从磁光介质（３６）得到的反射背面光由光接收部分和另一光接收元件（３２）在近共焦点位置上检测。来自磁光介质（３６）的反射背面光被分割。一束反射背面光由光学元件（１）的光接收部分检测，而另一束反射背面光由另一个光接收元件（３２）检测。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于检测磁光信号的光学器件，特别是针对一种包括新光学元件的光学器件。在一种光学器件中，例如一种所谓磁光学盘驱动(magneto-optical disc drive)的磁光学传送单元，光学部分是由偏振元件，如渥拉斯顿菱镜，一个偏振束分离设备(PBS)或类似设备混合组装成的。因此，整个磁光传送的结构变得大而复杂。且光学器件的光学部分还必须以高的光学精确度进行安置。另外，每个光学元件都是昂贵的，因此，要提供一个廉价的磁光传送器是不容易的。本专利技术的一个目的是提供一种检测磁光信号的光学器件，其光学部分的数量可以减少。本专利技术的另一个目的是提供一种检测磁光信号的光学器件，其光学部分能容易地以高精确度进行安置。本专利技术的再一个目的是提供一种检测磁光信号的光学器件，其光学器件的整体结构能简单化并能小型化。本专利技术还有一个目的是提供一种廉价的检测磁光信号的光学器件。根据本专利技术的目标，已提供了一种检测磁光信号的光学器件，其包含具有共用衬底的一个光学元件，一个光发射部分和一个光接收部分，该光发射部分和该光接收部分被靠近地安置在该共用衬底上，从光发射部分发射的光被反射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测磁光信号的光学器件，包含：一个光学元件，该元件具有共用衬底，光发射部分和光接收部分，所说的光发射部分和光接收部分被紧靠地安置在共用衬底上，所说的光接收部分是接收和检测在所说光发射部分发射的光被所说磁光介质反射后，来自磁光介质的反射背面光；以及另一个光接收元件，其中来自所说磁光介质的反射背面光被分离，一束反射背面光由所说光学元件的所说光接收部分接收并检测，而另一束反射背面光则由所说的另一个光接收元件接收和检测。

【技术特征摘要】
JP 1994-3-8 037255/941.一种用于检测磁光信号的光学器件，包含一个光学元件，该元件具有共用衬底，光发射部分和光接收部分，所说的光发射部分和光接收部分被紧靠地安置在共用衬底上，所说的光接收部分是接收和检测在所说光发射部分发射的光被所说磁光介质反射后，来自磁光介质的反射背面光；以及另一个光接收元件，其中来自所说磁光介质的反射背面光被分离，一束反射背面光由所说光学元件的所说光接收部分接收并检测，而另一束反射背面光则由所说的另一个光接收元...

【专利技术属性】
技术研发人员：K佐原，H生井，M土井，O松田，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]