包覆率检测装置和方法、图像形成装置及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种包覆率检测装置和方法、图像形成装置及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质，能够精度良好地检测粉末对基底粘着层的包覆率。包覆率检测装置用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率，构成为具备：光源部，将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面；受光部，单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光；以及包覆率检测部，根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。受光量来检测所述包覆率。受光量来检测所述包覆率。

【技术实现步骤摘要】
包覆率检测装置和方法、图像形成装置及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质


[0001]本专利技术涉及包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。

技术介绍

[0002]作为对形成于记录介质上的调色剂图像进行检查的技术，有下述专利文献1所记载的技术。在该专利文献1中记载了《从照射光源41向中间转印带2上的蓝色调色剂图像43首先照射波长为550nm的光，接下来照射波长为650nm的光。
……
预先针对每个调色剂的颜色，作为“检量线”而求出如下绘制线，该绘制线是针对调色剂附着量而绘制出仅中间转印带2(没有调色剂图像43的状态)的探测信号强度与“已知的附着量”的品红色以及青色调色剂图像的“探测信号强度之差”而得到的线。根据仅中间转印带2的热弹性波信号强度和在照射各个波长的光时探测到的热弹性波信号强度，使用所述检量线来计算附着量，并反馈给显影工序而进行“图像浓度控制”。》。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献1：日本特开2013
‑
92691号公报

技术实现思路

[0005]然而，有如下技术：通过将调色剂图像作为基底粘着层，使粉末附着于该基底粘着层，从而形成赋予光泽感的图像。为了检查这样形成的图像是否具有足够的光泽感，需要探测针对调色剂图像的粉末的附着量。然而，在上述检查技术中，虽然能够计算多个颜色的调色剂的附着量，但无法精度良好地探测针对调色剂图像的粉末的附着量(粉末的包覆率)，而是通过目视来实施光泽感的检查从而探测包覆率。
[0006]因而，本专利技术的目的在于，提供能够精度良好地检测粉末对基底粘着层的包覆率的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。
[0007]用于达到这样的目的的本专利技术是一种包覆率检测装置，用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率，其中，所述包覆率检测装置具备：光源部，将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面；受光部，单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光；以及包覆率检测部，根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。
[0008]根据本专利技术，可提供能够精度良好地检测粉末对基底粘着层的包覆率的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质。
附图说明
[0009]图1是实施方式的图像形成装置的结构图。
[0010]图2是实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的结构图。
[0011]图3是示出作为基底粘着层的图像图案的光谱反射特性的图。
[0012]图4是实施方式的包覆率检测装置所具有的第2传感器的结构图。
[0013]图5是示出作为基底粘着层的粉末保持面的光谱反射特性的图。
[0014]图6是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第1变形例的图。
[0015]图7是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第2变形例的图。
[0016]图8是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第3变形例的图。
[0017]图9是示出实施方式的包覆率检测装置所具有的第1传感器的第4变形例的图。
[0018]图10是用于说明实施方式的粉末的包覆率的计算的图。
[0019]图11是说明实施方式的包覆率检测装置所具有的检查信息处理部的结构的框图。
[0020]图12是示出与粉末的包覆率对应的反射光量的包覆率特性的图。
[0021]图13是示出与粉末的包覆率对应的反射光量的差分特性的图。
[0022]图14是示出各粉末的光谱反射特性的图。
[0023]图15是示出包覆率的校正系数的一个例子的图。
[0024]图16是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之一)。
[0025]图17是示出实施方式的包覆率检测方法的一个例子的流程图(之二)。
[0026](符号说明)
[0027]1：图像形成装置；12：粉末保持部件；12a：粉末保持面(基底粘着层)；15：转印部件；20：包覆率检测装置；101a、101a
’
：吸收波长光源；101n、101n
’
：非吸收波长光源；101w：白色光源；102、102
’
：受光元件；103a：吸收波长滤波器；103n：非吸收波长滤波器；201：特性保持部；202：校正系数保持部；203：光源调整部；204：包覆率检测部；205：校正指示部；Ha、Ha
’
：吸收波长光(反射率不同的光)；Hn、Hn
’
：非吸收波长光(反射率不同的光)；Hra、Hra
’
：正反射光(吸收波长光)；Hrn、Hrn
’
：正反射光(非吸收波长光)；Pd：粉末；P：图像图案(基底粘着层)；S：记录介质。
具体实施方式
[0028]以下，根据附图，详细地说明与本专利技术的包覆率检测装置、图像形成装置、包覆率检测方法及储存有包覆率检测程序的计算机可读取的记录介质有关的各实施方式。
[0029]《图像形成装置》
[0030]图1是示出本专利技术的实施方式的图像形成装置1的结构的概略图。图1所示的图像形成装置1用于通过将具有光泽的粉末Pd贴附于在记录介质S的主面上形成的图像图案P而形成光泽图像P1。
[0031]图像图案P还是用于粘附粉末Pd的基底粘着层。这样的图像图案P由通过加热而熔融来展现粘着性并在之后硬化从而粘附粉末Pd的材料构成。另外，图像图案P也可以不论是否加热都具有粘着性。该情况下的图像图案P由在将粉末Pd转印到图像图案P之后通过加热或者光照射而硬化的材料构成。这样的图像图案P例如是调色剂图像或者是墨图像。
[0032]因此，虽然在此省略了图示，但该图像形成装置1连结于向记录介质S形成图像图
案P的图像图案形成装置，也可以具备图像图案形成装置。
[0033]作为一个例子，以上那样的用于将粉末Pd贴附于图像图案P而形成光泽图像P1的图像形成装置1具备预备加热部件11、粉末保持部件12、粉末供给部件13、刮擦部件14、转印部件15、清扫部件16、介质上粉末回收部件17、驱动控制部18以及操作部19。另外，该图像形成装置1具备用于对粉末Pd的包覆率进行检测的包覆率检测装置20。以下，依次说明构成图像形成装置1的各部件的详情，接下来说明图像形成装置1处置的粉末Pd的结构以及设置于图像形成装置1的包覆率检测装置20的详情。
[0034]<预备加热部件11>
[0035]预备加热部件11用于通过加热而使形成于记录介质S的主面上的图像图案P熔融。这样的预备加热部件11例如配置于从图像图案P的形成装置向搬送方向x供给的记录介质S的搬送路径上。由本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种包覆率检测装置，用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率，其中，所述包覆率检测装置具备：光源部，将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面；受光部，单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光；以及包覆率检测部，根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。2.根据权利要求1所述的包覆率检测装置，其中，所述反射率不同的光是被所述基底粘着层吸收的吸收波长光和针对所述基底粘着层的吸收量比所述吸收波长光少的非吸收波长光。3.根据权利要求1或者2所述的包覆率检测装置，其中，所述包覆率检测装置具备特性保持部，该特性保持部保持针对所述包覆率的所述各受光量的特性，所述包覆率检测部计算所述各受光量的差分，根据计算出的所述差分和保持于所述特性保持部的所述特性来检测所述包覆率。4.根据权利要求3所述的包覆率检测装置，其中，所述包覆率检测装置具备校正系数保持部，该校正系数保持部针对所述粉末的每个种类、所述反射率不同的光的每个波长，保持不论所述包覆率如何各所述反射光的受光量都成为1：1的校正系数，在所述包覆率检测部中，根据检测所述包覆率时的所述粉末的种类和所述反射率不同的光的波长，从所述校正系数保持部取得在所述包覆率的检测中使用的校正系数，根据所取得的所述校正系数来校正所述特性保持部保持的特性，并根据校正后的所述特性来检测所述包覆率。5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述反射率不同的光是从相对于所述粉末的附着面而倾斜的方向照射的光，各所述反射光是使所述反射率不同的光在所述粉末的附着面正反射而得到的正反射光。6.根据权利要求1～5中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述光源部具备分别照射所述反射率不同的光的多个光源。7.根据权利要求1～5中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述光源部具备：光源，照射所述反射率不同的所有光；以及多个滤波器，使所述反射率不同的光分别单独地通过，在所述光源的光射出面，调换自如地设置所述多个滤波器。8.根据权利要求1～7中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述受光部具备分别单独地接收由所述粉末的附着面反射的各所述反射光的多个受光元件。9.根据权利要求1～7中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述受光部具备：
受光元件，将由所述粉末的附着面反射的各所述反射光全部接收；以及多个滤波器，使各所述反射光分别单独地通过，在所述受光元件的受光面，调换自如地设置所述多个滤波器。10.根据权利要求1～9中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述包覆率检测装置具备光源调整部，该光源调整部以使对未附着有所述粉末的所述基底粘着层照射所述反射率不同的光而得到的所述各受光量成为预定值的方式，调整与所述受光量对应的来自所述光源部的输出。11.根据权利要求1～10中的任意一项所述的包覆率检测装置，其中，所述包覆率检测装置具备校正指示部，该校正指示部根据由所述包覆率检测部检测到的包覆率，对使所述粉末附着于所述基底粘着层的装置的驱动控制部指示驱动条件的校正。12.一种图像形成装置，用于形成将粉末粘附于形成在记录介质的一个主面上的图像图案而成的图像，其中，所述图像形成装置具备权利要求1～11中的任意一项所述的包覆率检测装置。13.根据权利要求12所述的图像形成装置，其中，所述图像形成装置具备：粉末保持部件，具有通过粘着来保持粉末的粉末保持面；以及转印部件，设置于与所述粉末保持部件的粉末保持面对置的位置，通过在与所述粉末保持面之间夹持形成有所述图像图案的记录介质，从而将通过粘着而保持于所述粉末保持面的所述粉末转印到所述图像图案，所述包覆率检测装置将所述粉末保持面和所述图像图案中的至少一方作为所述基底粘着层，检测所述粉末的包覆率。14.一种包覆率检测方法，用于检测附着于基底粘着层的粉末对所述基底粘着层的包覆率，其中，光源部将所述基底粘着层处的反射率不同的光照射到所述粉末的附着面，受光部单独地接收由所述粉末的附着面反射的所述反射率不同的光的反射光，包覆率检测部根据由所述受光部接收到的所述反射光的各受光量来检测所述包覆率。15.根据权利要求14所述的包覆率检测方法，其中，所述反射率不同的光是被所述基底粘着层吸收的吸收波长光和针对所述基底粘着层的吸收量比所述吸收波长光少的非吸收波长光。16.根据权利要求14或者15所述的包覆率检测方法，其中，特性保持部保持针对所述包覆率的所述各受光量的特性，所述包覆率检测部计算所述各受光量的差分，根据计算出的所述差分和保持于所述特性保持部的所述特性来检测所述包覆率。17.根据权利要求16所述的包覆率检测方法，其中，校正系数保持部针对所述粉末的每个种类、所述反射率不同的光的每个波长，保持不论所述包覆率如何各所述反射光的受光量都成为1：1的校正系数，所述包覆率检测部根据检测所述包覆率时的所述粉末的种类和所述反射率不同的光的波长，从所述校正系数保持部取得在所述包覆率的检测中使用的校正系数，根据所取得的所述校正系数来校正所述特性保持部保持的特性，并根据校正后的所述特性来检测所述
包覆率。18.根据权利要求14～17中的任意一项所述的包覆率检测方法，其中，所述反射率不...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤裕哉，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：