磁光盘复制系统的光拾取装置制造方法及图纸

一种光拾取装置，包括一光分离器，该分离器包括在对角平面上，具有部分反射镀膜层的棱镜、镜子和偏振束分光面，该棱镜位于矩形六面体的第一角上，镜子装在与第一角相对置的第二角上，偏振光分离器平面形成在棱镜和镜子之间，位于与部分反射镀膜层平行的线上，这条线通过第三角，所述棱镜、镜子和偏振束分离器整体形成在该六面体内，激光束被转换成平行光束，射到偏振束分离器上。第一和第二偏振分量在光检测器内被检测。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于磁光盘复制系统的光拾取装置，尤其是本专利技术涉及一种先进的磁光盘复制系统的光拾取装置，用于读出记录在磁光存储载体上的数据。近来，人们一直试图制造一种数据记录载体，这种载体材料根据其磁状态可具有多变的光学性能，于是人们生产出了磁光盘，根据这种磁光盘记录层的磁状态，它的反射光的偏振状态是变化的。利用各偏振状态的不同，可将数据记录在光盘上或从光盘上读出，并且应用这种原理的磁光盘用作大容量的数据存储载体。为了将数据记录在磁光盘上及读出存在磁光盘内的数据，通过将一个磁头和一个光学头一体化构成一个光拾取装置。一个这样的光拾取装置的实例公开在美国专利文献5,020,041中，该文献的附图说明图1展示了具有传统的光拾取装置的磁光存储系统。图1所示的磁光复制系统的光拾取装置中，磁光盘1由一旋转电机驱动，它包括一磁光记录层101，其上利用磁光效应记录有数据，一个圆盘形透明基底103朝向一个光学头11，一个保护层102朝向一个磁头12。作为光源的半导体激光器2发射的光通过准直透镜3瞄准和指向装在执行机构6上的聚焦透镜5，该光束还穿过一束分离设备4。由聚焦透镜5聚焦后的光束对准圆盘的基底103，从而在记录层101上形成一约为1μm直径的小光点。聚焦的光束根据记录层101的磁状态偏振，然后反射。反射的光再次穿过聚焦透镜，并且被束分离器4所反射，接着瞄准磁光学信号检测光学系统8，光点控制信号检测光学系统9用于检测由束分离器7分离的散焦和脱轨情况。磁光信号检测系统8是一种差分信号检测系统，它包括λ/2板801和偏振光束分离器803。作用到磁光信号检测光学系统8的光通过λ/2板801和透镜802，然后由偏振光束分离器803将光分成两个偏振分量(S和P偏振分量)。这些偏振分量分别由光电检测器804和805检测出，并转换成电信号，这些信号经差分放大器10差分，继而产生一个磁光信号。一个浮动磁头12安置在记录层侧，位于圆盘1的光学头11的相反一侧上。浮动磁头包括一个向记录层101提供磁场的线圈，和一个使磁头组件浮动的滑块，当盘旋转时，滑块依靠圆盘的转动所产生的空气压力使磁头浮动。该浮动磁头12通过一支臂15与光学头11构成一整体，并且这两个头部件之间的距离是一个常数。图1所示的传统的光拾取装置中的光头11包括一个产生光的半导体激光器2，校直光的准直透镜3，光束分离器4，聚光透镜5，用于对穿过束分离器4的光聚光，形成盘记录层上的光点，执行机构6用于驱动聚光透镜，束分离器7用于分离由盘反射的光，使其指向光点控制信号检测光学系统9和电磁光学信号检测光学系统8包括λ/2板801，透镜802，偏振束分离器803和光电检测器804及805。由于上述传统的光拾取头包括大量组件，因而它具有非常复杂的结构，并且很难将这些组件维持在其精确的相互位置上。另一种光拾取装置的实例公开在美国专利5,157,649(颁发给Masayuki Suzuki)中，本说明书的图2展示了上述专利的光拾取装置的示意图。图中的光拾取装置包括一准直透镜33，用于将来自光源31的光变成平行光束，一光整形棱镜34，用于把椭圆形的平行光束变成截面为圆形的光束，一半波板35，用于将圆形平行光束的偏振面旋转90°，一分离面36可垂直反射穿过半波板35的光，以便朝向光盘的径向方向，一光束定向棱镜37用于将由分离面36A反射的光入射到目标透镜38上，穿过目标透镜38，光束定向棱镜37和分离面36A的由光盘反射的光通过一半波板40，总反射棱镜用于对穿过半波板40的光定向，使其正交于光盘的径向方向，一偏振光束分离器41将入射的光分成两束，以及两个光传感器45和46用于分别通过两凸透镜42经偏振光束分离器检测出两个光束分支，其中一个传感器检测路径为凸透镜42、总反射棱镜44和一个筒形透镜43。具有上述结构的光拾取装置沿光盘的径向上没有突起部分，因此光盘机的总体尺寸可以较紧凑。但是，光盘机的结构相当复杂，并且光头变得很大，当制造光盘机时，很难控制这些组件的精确位置。于是促生产成本增加，由于制造困难使光盘机的可靠性也得不到保证。人们需要光盘机结构简化，增加可靠性和降低生产成本。本专利技术的目的是提供一种由相对少得多的元件构成的具有简单结构的光拾取装置。本专利技术的另一目的是提供一种改善了可靠性的光拾取装置，它具有简化的制造工艺。上述的本专利技术目的是这样实现的，一种磁光盘复制系统的光拾取装置包括光源，用于产生平行的激光束；棱镜，用于传送从第一方向发送的第一部分激光束，及用于反射第二部分激光束到正交于第一方向的第二方向，还用于反射从与第一方向相反的第三方向发送的光束到与第二方向相反的第四方向；偏振束分离装置，用于反射从第一方向传送的第一部分激光束到正交于第一方向的第五方向，从而将这第一部分光束照射到光盘上，还用于将入射其上所反射的光束的第一偏振分量沿着与第五方向相反的来自盘的第六方向反射，继而将该第一偏振分量照射到处于第三方向的棱镜上，从而向第四方向反射，还将被反射到第四方向的第一偏振分量又反射到第七方向，以及用于发送由与第七方向相对的第八方向射入的光；镜体，用于将透射过偏振束分离装置的第二偏振分量反射到第八方向；以及光电检测器，用于检测第一和第二偏振分量，从而产生数据信号。例如，光源可采用激光二极管，用于发射椭圆形激光束，这些椭圆形光束经由一准直透镜变换成圆形截面的平行光束。可装有一会聚透镜，用于会聚该第一和第二偏振分量，然后让第一和第二偏振分量入射到光电检测器上。根据本专利技术的一个实施例，棱镜，偏振束分离器和镜子共同组装在一六面体内，其中棱镜装在方形六面体的第一个角上，镜子装在与第一个角相对置的第二个角内，偏振束分离器的分离面形成在棱镜和镜子之间的对角线上。根据本专利技术的另一个实施例，棱镜、镜子和偏振束分离器共同组装在一矩形六面体内，其中棱镜装在矩形六面体的第一个角(直角)上，镜子装在与第一角相对置的第二个角上，偏振束分离器的分离面形成在与矩形具有相同的第一角的矩形内的最大内接方形的对角线上，第一和第二偏振光分量具有照射到光电检测器上的单独的光路。此时，第一和第二偏振分量经各自的光路入射到光电检测器上。在这种情况下，光电检测器最好包括检测第一偏振分量的第一光电检测器和检测第二偏振分量的第二光电检测器。本专利技术还提供一种磁光学盘复制系统的光拾取装置，包括光源，用于产生平行的激光束；偏振光束分离装置，用于将激光束照射到盘上，和将反射的光分离为第一偏振分量和第二偏振分量，该偏振束分离装置包括一其对角平面上具有部分反射镀膜层的棱镜，一镜体和一偏振束分离面，该棱镜形成在直角六面体的第一角上，镜体形成在与第一相对置的第二角上，偏振束分离面形成在棱镜和镜体之间，位于平行于部分反射镀膜层的线上，这条线穿过第三角，以及棱镜、镜体和偏振束分离面共同组装在该六面体内。在本专利技术的光拾取装置中，几乎所有组件均一体化形成，因此其结构简单。从而能制造小巧紧凑的光拾取装置。并且组装工艺得以简化，可保证光拾取装置的可靠性。另外，当分离来自盘的反射光后，可对分离的偏振分量进行单独的信号处理，或根据信号处理方式和必要性将这些偏振分量会聚为一束。参照附图通过详细描述优选实施例，本专利技术的上述目的和其他优越性将变得更加清楚明了。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁光学盘复制系统的光拾取装置，它包括：光源，用于产生平行的激光束；棱镜，用于传送从第一方向发送的第一部分激光束，及用于反射第二部分激光束到正交于第一方向的第二方向，还用于反射从与第一方向相反的第三方向透射的光束到与第二方向相反 的第四方向；偏振束分离装置，用于反射从第一方向传送的第一部分激光束到正交于第一方向的第五方向，从而将这第一部分光束照射到光盘上，还用于将入射其上所反射的光束的第一偏振分量沿着与第五方向相反的来自盘的第六方向反射，继而将该第一偏振分量照射 到处于第三方向的棱镜上，从而向第四方向反射，还将被反射到第四方向的第一偏振分量又反射到第七方向，以及用于发送由与第七方向相对的第八方向射入的光束；镜体，用于将透射过偏振束分离装置的第二偏振分量反射到第八方向；以及光电检测器，用于检测 第一和第二偏振分量，从而产生数据信号。

【技术特征摘要】
KR 1993-11-11 23870/931.一种电磁光学盘复制系统的光拾取装置，它包括光源，用于产生平行的激光束；棱镜，用于传送从第一方向发送的第一部分激光束，及用于反射第二部分激光束到正交于第一方向的第二方向，还用于反射从与第一方向相反的第三方向透射的光束到与第二方向相反的第四方向；偏振束分离装置，用于反射从第一方向传送的第一部分激光束到正交于第一方向的第五方向，从而将这第一部分光束照射到光盘上，还用于将入射其上所反射的光束的第一偏振分量沿着与第五方向相反的来自盘的第六方向反射，继而将该第一偏振分量照射到处于第三方向的棱镜上，从而向第四方向反射，还将被反射到第四方向的第一偏振分量又反射到第七方向，以及用于发送由与第七方向相对的第八方向射入的光束；镜体，用于将透射过偏振束分离装置的第二偏振分量反射到第八方向；以及光电检测器，用于检测第一和第二偏振分量，从而产生数据信号。2.根据权利要求1的光拾取装置，其中所述光源包括一产生椭圆激光束的激光二极管和一个准直透镜，它将椭圆激光束转变成圆形的平行光束。3.根据权利要求1的光拾取装置，其中所述光拾取装置还包括一会聚透镜，它将第一和第二偏振分量会聚后照射到所述光电检测器上。4.根据权利要求1的光拾取装置，其中所述棱镜、偏振束分离装置和所述镜体一体化形成在一六面体内，所述棱镜装在方形六面体的第一个角上，所述镜体装在与第一角相对置的第二个角上，和所述偏振束分离装置形成在所述棱镜和镜体之间的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：金镇兑，
申请(专利权)人：大宇电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]