研磨抛光模拟方法、系统及研磨抛光工艺转移方法技术方案

一种研磨抛光模拟方法、系统及研磨抛光工艺转移方法，研磨抛光模拟方法包括以下步骤：取得研磨抛光设备进行工件的研磨或抛光作业的感测信息；依据此感测信息识别出多个模型参数；依据加工路径、多个工艺参数以及此些模型参数计算出至少一品质参数。参数计算出至少一品质参数。参数计算出至少一品质参数。

【技术实现步骤摘要】
研磨抛光模拟方法、系统及研磨抛光工艺转移方法


[0001]本专利技术涉及一种模拟方法、系统及工艺转移方法，尤其涉及一种研磨抛光模拟方法、系统及研磨抛光工艺转移方法。

技术介绍

[0002]随着工业的发展，许多加工程序已经自动化，尤其在研磨抛光程序中，以往需通过大量人工来执行，现都以机器手臂或机器人代替人工。虽研磨抛光程序已逐渐自动化，但针对不同的产品、加工需求与不同硬体设备配置下，仍需要繁琐冗长的人工来调整设备的各种参数，以确保加工品质。另一方面，在目前技术中也有无法跨产线转移研磨抛光工艺的缺点。
[0003]因此，需要一种模拟系统及方法，模拟研磨抛光程序，以克服需要大量人力及时间调整设备的各种参数的缺点，并需要一种工艺转移方法，以克服无法跨产线转移研磨抛光工艺的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术有关于一种研磨抛光模拟方法、系统及研磨抛光工艺转移方法，其利用模拟研磨抛光作业的方式，减少人工调整设备参数的时间。并可依据不同产线之间的共通性及差异信息，在不同的产线之间转移研磨抛光工艺。
[0005]根据本专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种研磨抛光模拟系统，包括：感测单元，用以取得研磨抛光设备进行工件的研磨或抛光作业的感测信息；识别单元，用以依据该感测信息识别出多个模型参数；以及模拟单元，用以依据加工路径、多个工艺参数及该些模型参数计算出至少一品质参数。2.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中更包括：加工路径生成单元，用以依据该工件生成该加工路径。3.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该识别单元定义范围、自该感测单元接收一机器人引导该工件于该范围中与该研磨抛光设备的多个接触点的该感测信息、自该模拟单元接收该至少一品质参数，并计算该感测信息与该至少一品质参数之间的误差、以及取得该误差低于门槛值时该至少一品质参数所对应的该些模型参数，以识别出该些模型参数。4.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该模拟单元根据该研磨抛光设备建立研磨抛光设备物理模型、根据该工件建立工件物理模型、以及将该加工路径、该些工艺参数及该些模型参数输入至该研磨抛光设备物理模型及该工件物理模型以计算出该至少一品质参数。5.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该些工艺参数包括研磨抛光接触点、砂带番号、工件速度、砂带/抛光机速度、进给深度、工件材质、或工件原始表面品质。6.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该些模型参数包括研磨抛光设备及工件的几何参数、砂带张力、变形校正参数、或磨耗校正参数。7.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该至少一品质参数包括正向/切线力分布、材料移除率、表面粗糙度、或覆盖率。8.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，其中该感测信息包括六轴力信息、工件几何变化量、表面粗糙度、或工件表面状态。9.如权利要求1所述的研磨抛光模拟系统，更包括：外部感测单元，用以自该研磨抛光设备及该工件获得该些模型参数。10.一种研磨抛光模拟方法，包括：取得研磨抛光设备进行工件的研磨或抛光作业的感测信息；依据该感测信息识别出多个模型参数；以及依据加工路径、多个工艺参数以及该些模型参数计算出至少一品质参数。11.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，更包括：依据该工件生成该加工路径。12.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中依据该感测信息识别出该些模型参数的步骤中包括：定义范围；接收机器人引导该工件于该范围中与该研磨抛光设备的多个接触点的该感测信息；接收该至少一品质参数，并计算该感测信息与该至少一品质参数之间的误差；以及取得该误差低于门槛值时该至少一品质参数所对应的该些模型参数，以识别出该些模型参数。13.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中依据该加工路径、该些工艺参数以及
该些模型参数计算出该至少一品质参数的步骤中包括：根据该研磨抛光设备建立研磨抛光设备物理模型；根据该工件建立工件物理模型；以及将该加工路径、该些工艺参数及该些模型参数输入至该研磨抛光设备物理模型及该工件物理模型以计算出该至少一品质参数。14.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中该些工艺参数包括研磨抛光接触点、砂带番号、工件速度、砂带/抛光机速度、进给深度、工件材质、或工件原始表面品质。15.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中该些模型参数包括研磨抛光设备及工件的几何参数、砂带张力、变形校正参数、或磨耗校正参数。16.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中该至少一品质参数包括正向/切线力分布、材料移除率、表面粗糙度、或覆盖率。17.如权利要求10所述的研磨抛光模拟方法，其中该感测信息包括六轴力信息、工件几何变化量、表面粗糙度、或工件表面状态。18...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗元玠，王右勋，林沛群，施志轩，黄甦，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：