【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光学拾取系统；且更具体地，涉及一种改进的可提供一提高的光学效率的光学拾取系统。众所周知，由于聚焦光束的误差而导致了与用于读取光盘，例如数字声盘或紧致盘上记录的信息的光学拾取系统相关联的主要困难，并且已介绍一种光束大小的方法来解决这一问题。在附图说明图1A中，示有一种采用该光束大小的方法的现有技术的光学拾取系统100，其在美国专利第5,396,061号，题为“具有一吸光膜和一全反射膜的光磁记录偏振光学装置”的专利中被公开，该光学拾取系统100包括形成在一硅基底120上的一对光电二极管122、126，带有通过使用粘结剂而被固定在光电二极管122、126项上的第一和第二表面132、134的棱镜130，形成在一子支座116顶上的用于产生一光束的光源110，其中该子支座116的底表面通过焊接及类似方法被固连至该硅基底120，和一物镜140。在该光学拾取系统100中，自光源110发射的一部分光束160首先从棱镜130的第一表面132被部分地反射，其中该被反射的部分光束160然后透射过该物镜140；及然后被聚焦到光盘150上以通过使用该光学拾取系统100...
【技术保护点】
一种光学拾取系统，用于再现包括有一记录表面的一光盘上存储的信息信号，该光学拾取系统包括：用于产生一光束的装置；用于将该光束聚焦在该光盘的记录表面上的装置；光学装置，用于将该光束部分地透射到该光盘的记录表面上，其中该光学装置的中心 点位于由该产生装置的中心点和该聚焦装置的焦点形成的一光轴上；及用于检测自该光盘的记录表面反射的光束的装置，其中该检测装置带有第一和第二光学检测器，各光学检测器相对于该光学装置的中心点而被相对立地配置。
【技术特征摘要】
KR 1996-7-31 31954/96;KR 1996-7-31 31967/961.一种光学拾取系统，用于再现包括有一记录表面的一光盘上存储的信息信号，该光学拾取系统包括用于产生一光束的装置；用于将该光束聚焦在该光盘的记录表面上的装置；光学装置，用于将该光束部分地透射到该光盘的记录表面上，其中该光学装置的中心点位于由该产生装置的中心点和该聚焦装置的焦点形成的一光轴上；及用于检测自该光盘的记录表面反射的光束的装置，其中该检测装置带有第一和第二光学检测器，各光学检测器相对于该光学装置的中心点而被相对立地配置。2.根据权利要求1的光学拾取系统，其中该光学装置被配置成使其相对于该光轴倾斜一预定的角度。3.根据权利要求2的光学拾取系统，其中该预定的角度为45度。4.根据权利要求3的光学拾取系统，其中第一光学检测器与该光学装置的中心点之间的距离等于第二光学检测器与该光学装置的中心点之间的距离。5.根据权利要求4的光学拾取系统，其中第一光学检测器与该光学装置的中心点之间的距离为该产生装置的中心点与该光学装置的中心点之间的距离的一半。6.根据权利要求5的光学拾取系统，其中第一光学检测器接收一部分入射到其上的光束并将其余部分的光束反射到第二光学检测器。7.一种光学拾取系统，用于再现包括有一记录表面的一光盘上存储的信息信号，该光学拾取系统包括用于产生一包括有P和S偏振分量的光束的装置；用于将该光束聚焦在该光盘的记录表面上的装置；用于透射该光束的偏振分量到该光盘的记录表面的装置，其中该透射装置的中心点位于由该产生装置的中心点和该聚焦装置的焦点形成的光轴上；第一光学装置，用于对自该光盘的记录表面反射的光束的该偏振分量进行调制，从而使该调制后的光束由该透射装置所反射；第二光学装置，用于改变该调制后的光束的偏振分量，从而使该改变后的光束通过该透射装置；及用于检测自该光盘的记录表面反射的光束的装置，其中该检测装置带有第一和第二光学检测器，各光学检测器相对于该透射装置的中心而相对立地配置。8.根据...
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