光读出装置制造方法及图纸

本发明专利技术揭示一种光读出装置，包括使从光源出射的光束聚焦的物镜、配置于光源与物镜之间分离来自光源出射的光束和通过物镜入射的光束的分束器、接收由分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器。这种光读出装置基于凹凸部或倾斜面，使光源出射的光束在通过分束器时产生的杂光成分散射，防止入射到光检测器上，以谋得改善光检测器的检测精度。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及对象作为信息信号的记录媒体的光盘那样的光学记录媒体进行信息信号的写入或读出用的光读出装置。
技术介绍
目前，作为用于读出在如光磁盘那样的光盘上记录的信息信号的光读出装置，使用如附图说明图1所示结构的装置。如图1所示，这种光读出装置，包括半导体激光器2和物镜3，前者是出射照射光盘1的光束L1的光源，后者是将从半导体激光器出射的光束L1加以聚焦并照射光盘。如图1和图2所示，在从半导体激光器2到物镜3的光束L1的光路中，位于半导体激光器2的侧面、将该半导体激光器2出射的光束L1分离成0次及±1次光的至少3束衍射光光束的光栅。为说明简单起见，在图1及图2中用1束光束表示至少3束衍射光束，图中将总共3束衍射光束简单地称为光束。而且，在从光栅4到物镜3的光路中，设置有分离从半导体激光器2出射的光束L1和由光盘1反射、通过物镜入射的光束L2的光束分离器(分束器)5，和将通过分束器5的光束L1偏转90°、入射到物镜上，同时将光盘1反射、通过物镜3的光束L2偏转90°入射到分束器上的反射镜6。在该光读出装置中，设置有由检测从光盘反射回来的光束L2、读出光盘1上记录的信息信号、同时检测聚焦误差信号和循迹误差信号的光电二极管等光检测元件组成的光检测器7。该光检测器7在与半导体激光器2至物镜3的光路相正交的位置上与分束器5相对地配设，使能检测上分束器5的分界面5a所反射、光路变更90°返回的光束L2。分束器5的分界面5a对于入射到分束器5的光束的光轴成45°倾斜，使入射到该分束器5上的光束的光路变更90度。在从分束器5到光检测器7的光路中，配设有检测由光盘反射回来的光束的克尔(kerr)旋转角的偏光棱镜(渥拉斯顿棱镜)8和光束L2产生像差用的圆柱形透镜9。偏光棱镜成一体地安装于分束器5上。该光读光装置中为控制半导体激光器2使半导体激光器2出射的光束输出级大致为一定值，设置检测从半导体激光器2的前面一侧出射的光束L1的一部分的光电二极管10。光电二极管10配置在与半导体激光器2至物镜3的光路成正交的位置上的与分束器相对的位置上，使能检测由分束器5的分界面5a所反射和光路变更90°的半导体激光器出射的光束L1的一部分。光电二极管10的输出供给自动输出控制电路，控制由驱动半导体激光器2的驱动源11提供的驱动电流的大小。自动输出控制电路12根据光电管10的输出，控制驱动源11提供的驱动电流使半导体激光器2出射一定输出级的光束L1。入射到光检测器7的返回光束L2与入射到光电二极管10的从半导体激光器2出射的光束L1的一部分L3，由于由一个分束器5的共用分界面5a所反射，变更光路，因此如图2所示，光检测器7与光电二极管10在把分束器5夹在中间的相对位置上使光轴一致地加以配设。含有这样结构的光读出装置，由驱动源提供的驱动电流一经驱动半导体激光器2，就从半导体激光器2出射光束L1。从半导体激光器前面出射的光束L1，通过光栅分离成至少3束衍射光束，然后入射到分束器5。入射到分束器5的光束L1，其一部分L3由分束器5的分界面5a所反射使光路变更90°。由分束器5的分界面5a 90°变更光路的半导体激光器来的出射光束L1的一部分L3由光电二极管10接收，将光束L1的强度变换成电信号加以检测。该检测输出供给控制电路12，控制由驱动源11供给半导体激光器2的驱动电流，控制半导体激光器2的驱动使半导体激光器出射的光束L1成一定的输出级。没有被分束器5的分界面5a反射、透过分束器5的光束L1入射到反射镜6上，通过该反射镜光路90°变更，入射到物镜3上。反射镜反射的光束L1由物镜3聚焦在光盘1的信号记录面上。由光盘1的信号记录面反射的光束L2，再次通过物镜3入射到反射镜6上，再由反射镜6变更光路90°，经反射镜6变更90°光路的光束L2入射到分束器5，这次由分界面5a所反射。经分界面5a 90°反射的光束L2，入射到偏光棱镜进行克尔效应检测后，通过圆柱形透镜由光检测器7接收。这时，按照物镜3与光盘1的信号记录面之间的距离变化，由圆柱形透镜对分界面5a 90°反射的光束L2产生像差。结果，随着光盘1的信号记录面与物镜3之间的距离的变化，光检测器7的受光面上光点的形状起变化，因此能够根据光检测器7的输出信号产生聚焦误差信号。另一方面，将光盘1的信号记录面上照射的上述0次衍射光的光点夹在中间的前后±次衍射光的各光点由于相对于光盘1的记录磁道的某种程度偏移，在光检测器7的受光面上相对应的±1次衍射光的各光点就移动。结果由于光检测器的输出信号起变化，因此能产生根据该光检测器7的输出信号的变化的循迹误差信号。而且，根据接收来自光检测器7的0次衍射光的输出信号能够读出光盘1上记录的信息信号。为了控制半导体激光器2出付的光束L1成为一定的输出级，如上述构成的光读出装置将检测半导体激光器2出射光光束L1的光电二极管10配设于从半导体激光器2到物镜3的光束L1的光路侧面上。光电二极管10因为是检测由分束器5分界面5a反射的光束L1的一部分的，因此要配置在相对于自半导体激光器2至物镜3的光束L1的光路成正交的位置上，而且要配置在与检测光盘反射回来的光束L2的光检测器7把分束器5夹在中间的相对的位置上。如果这样地配置光电二极管10，则与自半导体激光器2至物镜3的光路相正交的方向的宽度就变大，光读出装置本身也大型化了。如果光读出装置大型化了，则采用这种光读出装置的光盘记录和/或复现装置也大型化。因此，谋求光读出装置本身的小型化，使采用光读出装置时光盘记录和/或复现装置的小型化成为可能，同时设计如图3所示的结构的装置作为防止出射光束输出级变动，能够大致为一定值地进行控制的光读出装置。图3所示的光读出装置，在半导体激光器2的置放盒内设置接收在半导体激光器2的背面出射的光束的光电二极管15，由该光电二极管15检测在半导体激光器背面一侧出射的光束强度。这一检测输出供给控制由驱动源11提供的驱动半导体激光器2的驱动电流的大小的自动控制电路12。自动控制电路12根据光电二极管15检测的输出控制由驱动源11提供的驱动电流的大小。这样，通过根据半导体激光器2出射光束强度控制驱动电流大小并驱动，半导体激光器2总是出射一定输出等级的光束L1。通过设置检测在半导体激光器2背面一侧出射的光束的光电二极管15，由于不必设置检测在半导体激光器2前面一侧出射的光束L1的一部分的光电二极管10，因此与自半导体激光器2至物镜3的光路相正交方向的宽度能减小，能使光读出装置自身小型化。谋求采用这种光读出装置的光盘记录和/或复现装置的小型化也就可能。然而，从半导体激光器2出射、入射到分束器5的光束L1的一部分由分束器5的分界面5a所反射。由5a反射的光束L1的一部分L3，光路变更90°，转向支持分束器5和光栅等光学零件的基座16等。由于基座由铝等金属制成，反射率高。因此，转向基座16的光束L3，由基座16的表面所反射，再次返回分束器5一侧。反射到分束器5的光束L3，成为杂光，通过分束器5入射到光检测器7。在光检测器7上除光盘1反射的返回光束L2外，作为光束L3的杂光一入射到光检测器7，就不能由检测器7正确地检测返回光束L2。如果不能正确地进行返回光束L2的检测，就不能正确地检测聚焦误差信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光读出装置，其特征在于，包括：光源；使从所述光源出射的光束聚焦的物镜；配置于所述光源和所述物镜之间、分离从所述光源出射的光束和通过所述物镜入射的光束的分束器；接收由所述分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器；以及 除去从所述光源出射的光束在通过所述分束器时产生的杂光成分的除去装置。

【技术特征摘要】
JP 1996-6-7 146340/961.一种光读出装置，其特征在于，包括光源；使从所述光源出射的光束聚焦的物镜；配置于所述光源和所述物镜之间、分离从所述光源出射的光束和通过所述物镜入射的光束的分束器；接收由所述分束器分离的、通过所述物镜入射的光束的光检测器；以及除去从所述光源出射的光束在通过所述分束器时产生的杂光成分的除去装置。2.如权利要求1所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还至少包括保持所述分束器的支架，在与所述支架的所述分束器相对的位置上设置所述除去装置。3.如权利要求2所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还至少包括配置所述光源和所述光检测器的基座，所述支架设置有光源来的光束进入的开口部和在通过开口部的直线位置上安装所述分束器的安装单元，同时与所述支架的所述基座的接触面形成平坦的面，并在所述基座上可以移动地加以装配。4.如权利要求3所述的光读出装置，其特征在于，所述光读出装置还包括配置于所述分束器与所述光检测器之间的光学元件，所述光学元件大致正交于通过所述支架的所述开口部的直线，且夹所述分束器配置在所述除去装置相对的位置上。5.如权利要求2所述的光读出装置，其特征在于，所述除去装置由在所述支架的侧面上形...

【专利技术属性】
技术研发人员：川上高，叶田冬希郎，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]