【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存储装置,例如使用自旋阀(spin valve)磁头作为与写磁头集成在一起读磁头的磁盘装置,特别是涉及使用自旋阀磁头的存储装置,读出电流以干扰方向流过自旋阀磁头,产生与引线层(pin layer)中的磁场方向相反的磁场。随着磁盘装置容量的增加,已进一步改善了磁盘介质上的记录密度。由于再生信号电平降低和SN比劣化,使这种超过3G比特/平方英寸的高记录密度很难用作一种装置。因此,为了达到超过3G比特/平方英寸的高记录密度,已将自旋阀磁头投入实用。自旋阀磁头基本上有四层结构,包括一层反铁磁层、一层引线层、一层非磁性层和一层自由层。该结构使得与反铁磁层接触的引线层中的磁化方向固定,并防止由非磁性层分开的自由层具有固定的磁化方向。当以介质的记录磁场的形式向其施加外部磁场时,由外部磁场确定自由层的磁场方向,电阻值依据与引线层的磁场方向有关的差值改变。该电阻值在自由层和引线层中的磁场方向彼此相对为180℃时最大,而在其方向彼此相同时最小。此外,允许读出电流流经自旋阀磁头,以便消除由引线层的磁耦合结果施加到自由层的多余垂直偏置磁场,该磁耦合结果从其效力方面来看可称之为永久磁铁。读出电流流动的方向包括两个方向,即在与引线层相同的方向产生磁场的辅助方向,和与引线层相反的方向产生磁场的干扰方向。通常,干扰方向导致较大的输出和较小的垂直不对称。然而,在读出电流以干扰方向流过自旋阀磁头的情况下,读出电流在与引线层中的磁场相反的方向产生磁场,因此如果因外部温度、元件发热、静电等原因造成反铁磁层的温度超过阻挡温度,会出现引线层中的磁场方向可能偏移的问题。特别是在反铁 ...
【技术保护点】
一种装配有多个磁头的存储装置,每个磁头有已集成在该磁头中的一个读磁头和一个写磁头,所述读磁头包括一个具有多层结构的自旋阀磁头,该多层结构包括一层反铁磁层、一层引线层、一层非磁性层和一层自由层,所述自旋阀磁头响应由读出电流以外部磁场形式施加的介质的记录磁场,从磁阻中的变化电读取记录信息,其中使读出电流以干扰方向流经自旋阀磁头以引起与所述引线层中的磁场方向相反的磁场,所述存储装置包括: 一个引线层磁场偏移判断单元,当断定存在由所述自旋阀磁头的所述引线层中的磁场偏移引起的预定异常时,引线层磁场偏移判断单元使所述读出电流方向反向,如果由此消除了所述预定异常,则断定所述引线层中已出现磁场偏移;和 一个恢复处理单元,当所述引线层磁场偏移判断单元已断定所述引线层中已出现磁场偏移时,该恢复处理单元用于处理从由磁场中的所述偏移产生的异常的恢复。
【技术特征摘要】
JP 1998-2-13 030775/981.一种装配有多个磁头的存储装置,每个磁头有已集成在该磁头中的一个读磁头和一个写磁头,所述读磁头包括一个具有多层结构的自旋阀磁头,该多层结构包括一层反铁磁层、一层引线层、一层非磁性层和一层自由层,所述自旋阀磁头响应由读出电流以外部磁场形式施加的介质的记录磁场,从磁阻中的变化电读取记录信息,其中使读出电流以干扰方向流经自旋阀磁头以引起与所述引线层中的磁场方向相反的磁场,所述存储装置包括一个引线层磁场偏移判断单元,当断定存在由所述自旋阀磁头的所述引线层中的磁场偏移引起的预定异常时,引线层磁场偏移判断单元使所述读出电流方向反向,如果由此消除了所述预定异常,则断定所述引线层中已出现磁场偏移;和一个恢复处理单元,当所述引线层磁场偏移判断单元已断定所述引线层中已出现磁场偏移时,该恢复处理单元用于处理从由磁场中的所述偏移产生的异常的恢复。2.根据权利要求1所述的存储装置,其中当不再能检测到所述记录介质上记录的伺服标记时,所述引线层磁场偏移判断单元判断因所述引线层中的磁场偏移而出现所述异常,和其中所述引线层磁场偏移判断单元使所述读出电流的方向反向,如果因此而能够检测到所述伺服标记,则断定所述引线层中已出现磁场偏移。3.根据权利要求2所述的存储装置,其中当由于将所述读出电流的方向从干扰方向切换到辅助方向而能够检测到所述伺服标记时,所述恢复处理单元使所述读出电流在读操作时以辅助方向流经所述自旋阀磁头。4.根据权利要求3所述的存储装置,其中当由于所述引线层中出现磁场偏移而已将所述读出电流的方向切换到辅助方向时,所述恢复处理单元以与磁头编号对应的方式向非易失性存储器中存储所述读出电流方向为辅助方向,所述恢复处理单元根据所述非易失性存储器的记录内容确定读操作时的所述读出电流方向。5.根据权利要求3所述的存储装置,其中当所述读出电流的方向已切换到辅助方向时,所述恢复处理单元在读操作时使所述读出电流以比切换前在干扰方向的电流值大的电流值流动。6.根据权利要求1所述的存储装置,其中所述引线层磁场偏移判断单元将所述自旋阀磁头的输出电平与其初始值比较,如果差值在预定范围内,则判断所述引线层中已因磁场偏移而出现所述异常。7.根据权利要求1所述的存储装置,其中所述引线层磁场偏移判断单元测量所述自旋阀磁头读取信号的垂直不对称性,如果所述垂直不对称性和其初始值之间的差值已超过某一范围,则判断所述引线层中已因磁场偏移而出现所述异常。8.根据权利要求1所述的存储装置,其中当从所述自旋阀磁头的读取信号解调的读取数据的误差率已超过预定限制值时,所述引线层磁场偏移判断单元断定所述引线层中已因磁场偏移而出现所述异常。9.根据权利要求1所述的存储装置,其中供电后第一次在轨(on-track)时,所述引线层磁场偏移判断单元针对所述多个自旋阀磁头中的全部磁头判断所述引线层中是否已出现磁场偏移。10.根据权利要求1所述的存储装置,其中电源关闭模式时或定时器校正时,所述引线层磁场偏移判断单元针对所述多个自旋阀磁头中的全部磁头判断所述引线层中是否已出现磁场偏移。11.根据权利要求1所述的存储装置,其中当判断所述引线层中已出现磁场偏移时,所述恢复处理单元向仍未存储介质数据的区域...
【专利技术属性】
技术研发人员:富田勇,越川誉生,星野敏规,中村直,金井均,上野博秋,
申请(专利权)人:富士通株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。