当前位置: 首页 > 专利查询>黎兴荣专利>正文

耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质技术方案

技术编号:30691533 阅读:15 留言:0更新日期:2021-11-06 09:25
本申请公开一种耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质,其中,耳机产测校准方法,应用于耳机测试系统,耳机测试系统包括:用于对待测耳机进行测试的测试设备,测试设备与待测耳机通信连接;耳机产测校准方法包括:控制测试设备向待测耳机发送测试信号;基于测试信号,以及待测耳机与测试设备的交互信号,计算待测耳机的校准参数;将校准参数发送至待测耳机;控制待测耳机配置校准参数至待测耳机,并控制测试设备对配置校准参数后的待测耳机进行测试。本申请旨在解决耳机在现有产测方法中产品良率不高的问题。法中产品良率不高的问题。法中产品良率不高的问题。

【技术实现步骤摘要】
耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质


[0001]本申请涉及耳机产测
,尤其涉及一种耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质。

技术介绍

[0002]耳机在出厂前一般会进行测试,频响指标(也称之为频响曲线)的产测是核心测试项之一。
[0003]在待测耳机组装完成之后,放入专业的测试设备,进行测试以检查是否满足出厂标准。具体方法是,将待测耳机放入测试设备的人工耳,测试设备和待测耳机通过蓝牙信号建立连接,完成数据和命令的传输;测试过程中,待测耳机播放测试信号;人工耳麦克风拾取耳机内置扬声器播放的声音信号并转换为电信号,送给测试仪。测试仪根据人工耳拾取到的信号进行分析,计算出耳机的频响曲线,并根据测试结果从多组预设频域均衡器参数(即EQ参数)中选择一组更合适的参数配置到耳机内置的频域均衡器,直到频响曲线满足出厂标准或者穷尽所有预设频域均衡器参数仍然无法通过产测标准而被判定为不良品。
[0004]目前现有方案由于频域均衡器无法针对每个耳机的元器件电气特性公差(比如耳机内置麦克风频响曲线公差、耳机扬声器单元频响曲线公差)和装配公差(点胶量的公差,耳机前后腔体密封性公差等等)进行EQ参数的精准匹配,而是根据待测试耳机一个典型电声学特性给EQ滤波器的一个公版EQ参数,从而待测耳机的频域均衡器由于元器件差异、装配个体差异等具体情况缺乏一个精确匹配EQ参数的方法,导致现有耳机测试中存在产品良率不高的问题。
[0005]另外,对于主动抑噪耳机而言,抑噪耳机的抑噪指标的产测是核心测试项之一。<br/>[0006]现有主动抑噪耳机的测试方法如下:在待测耳机组装完成之后,放入专业的测试设备,进行测试以检查是否满足出厂标准。具体方法是,将待测耳机放入测试设备的人工耳,测试设备和待测耳机通过蓝牙信号建立连接,完成数据和命令的传输;测试过程中,测试设备的人工嘴播放预设噪声,噪声经过待测耳机的抑噪之后,在人工耳的残留一定的噪声;人工耳将残留噪声转换为电信号,送给测试设备。测试设备根据残留噪声的大小调整预设抑噪滤波器的增益值或者从多组预设抑噪参数中选择一组更合适的参数配置到抑噪滤波器,直到残留噪声满足出厂标准或者穷尽所有预设抑噪参数仍然无法通过产测标准而被判定为不良品。
[0007]目前现有方案由于抑噪滤波器无法针对每个抑噪耳机的元器件电气特性公差(比如耳机内置麦克风频响曲线公差、耳机扬声器单元频响曲线公差)和装配公差(点胶量的公差,耳机前后腔体密封性公差等等)进行抑噪参数的精准匹配,而是根据抑噪耳机一个典型电声学特性给抑噪滤波器的一个公版抑噪参数,从而待测耳机的抑噪滤波器由于元器件差异、装配个体差异等具体情况缺乏一个精确匹配抑噪参数的方法,导致现有抑噪耳机测试中存在产品良率不高的问题。
[0008]可见,无论是普通耳机还是抑噪耳机在现有检测方法中都存在产品良率不高的问
题。

技术实现思路

[0009]本申请实施例提供一种耳机产测校准方法、设备、耳机测试系统及存储介质,旨在解决耳机在现有检测方法中产品良率不高的问题。
[0010]本申请实施例提供了一种耳机产测校准方法,应用于耳机测试系统,所述耳机测试系统包括:用于对待测耳机进行测试的测试设备,所述测试设备与所述待测耳机通信连接;所述耳机产测校准方法包括:
[0011]控制所述测试设备向所述待测耳机发送第一测试信号;
[0012]基于所述第一测试信号,以及所述待测耳机与所述测试设备的交互信号,计算所述待测耳机的校准参数;
[0013]将所述校准参数发送至所述待测耳机;
[0014]控制所述待测耳机配置所述校准参数至所述抑噪滤波器,并控制所述测试设备对配置后的所述待测耳机进行测试。
[0015]本申请实施例提供了一种耳机产测校准设备,所述设备包括处理器、与处理器连接的异步重采样模块、与处理器通信连接的第一通信触点、与所述处理器电连接的存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的耳机产测校准程序;所述处理器还包括用于无线通信的第一蓝牙通信模块,所述耳机产测校准程序被所述处理器执行时实现所述耳机产测校准方法的步骤。
[0016]本申请实施例提供了一种耳机测试系统,所述耳机测试系统包括用于对待测耳机进行测试的测试设备,以及上述耳机产测校准设备;所述测试设备与所述待测耳机通信连接,所述待测耳机包括用于与所述第一通信触点通信的第二通信触点,频域均衡器,与所述耳机产测校准设备无线通信的第二蓝牙通信模块以及抑噪滤波器。
[0017]本申请实施例还提出一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序,所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行,以实现所述的耳机产测校准方法中的步骤。
[0018]相比在现有检测方法中,根据耳机一个典型电声学特性给待测耳机的频域均衡器或抑噪滤波器的一个公版参数,从而待测耳机由于元器件差异、装配个体差异等具体情况缺乏一个精确匹配频域均衡器参数或抑噪滤波器参数的方法,导致现有耳机在测试中存在产品良率不高。本申请通过根据测试设备的测试信号和待测耳机的交互信号,先计算出该待测耳机电声学特性,并将与该待测耳机的电声学特性的差异(即元器件公差、换能器件公差、装配公差)匹配的定制的校准参数配置到待测耳机。从而对于每个待测耳机就可以有针对性的进行校准补偿,即针对待测耳机的元器件公差、换能器件公差、装配公差的具体情况精确匹配校准参数,实现了每个待测耳机频域均衡器或抑噪滤波器的定制化,以实现提升不同待测耳机之间质量指标一致性的提升,从而提升耳机检测的良率。
附图说明
[0019]图1表示现有的耳机测试系统的一实施例的结构示意图;
[0020]图2为本申请的耳机产测校准设备的一实施例的硬件框架图;
[0021]图3为本申请的耳机产测校准方法的一实施例的流程图;
[0022]图4为本申请的包含反馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的结构示意图;
[0023]图5为本申请的包含反馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的结构示意图;
[0024]图6为本申请的包含反馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的又一结构示意图;
[0025]图7为本申请的包含反馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的又一结构示意图;
[0026]图8为本申请的包含前馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的结构示意图;
[0027]图9为本申请的包含前馈抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的又一结构示意图;
[0028]图10为本申请的包含混合式抑噪耳机的耳机校准系统的一实施例的结构示意图;
[0029]图11为本申请的包含频域均衡器的耳机校准系统的一实施例的结构示意图;
[0030]图12为本申请的耳机产测校准方法的另一实施例的流程图;
[0031]图13为本申请的耳机产测校准装置的一实施例的模块示意图;
[0032]图14为本申请的步骤S221a的一实施例的同步处理示意图;
[003本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耳机产测校准方法,其特征在于,应用于耳机测试系统,所述耳机测试系统包括:用于对待测耳机进行测试的测试设备,所述测试设备与所述待测耳机通信连接,所述耳机产测校准方法包括:控制所述测试设备向所述待测耳机发送测试信号;基于所述测试信号,以及所述待测耳机与所述测试设备的交互信号,计算所述待测耳机的校准参数;将所述校准参数发送至所述待测耳机;控制所述待测耳机配置所述校准参数至所述待测耳机,并控制所述测试设备对配置后的所述待测耳机进行测试。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测耳机包括内置扬声器以及反馈麦克风,所述抑噪滤波器为反馈抑噪滤波器,所述内置扬声器、所述反馈抑噪滤波器和所述反馈麦克风依次电性连接组成反馈通路,所述测试设备包括测试麦克风;所述测试信号包括第一测试信号,所述第一测试信号为频率范围包含20hz~20000hz频谱的测试信号;所述基于所述测试信号,以及所述待测耳机与所述测试设备的交互信号,计算所述待测耳机的校准参数的步骤包括:获取所述反馈麦克风响应所述内置扬声器产生的第一响应信号;获取所述测试麦克风响应所述内置扬声器产生的第二响应信号;若所述第一测试信号、所述第一响应信号以及所述第二响应信号之间是异步关系,则将所述第一测试信号、所述第一响应信号以及所述第二响应信号进行同步处理;基于同步处理后的第一测试信号、第一响应信号以及第二响应信号计算所述反馈通路的第一传递函数;根据所述第一传递函数和第一子预设目标校准函数计算所述反馈抑噪滤波器的校准参数。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测耳机还包括内置扬声器以及前馈麦克风,所述抑噪滤波器为前馈抑噪滤波器,所述前馈麦克风、所述前馈抑噪滤波器和所述内置扬声器依次电性连接组成前馈通路,所述测试设备包括测试麦克风;所述测试信号包括第一测试信号,所述第一测试信号为频率范围包含20hz~20000hz频谱的测试信号;所述基于所述测试信号,以及所述待测耳机与所述测试设备的交互信号,计算所述待测耳机的校准参数的步骤包括:获取所述前馈麦克风响应所述第一测试信号产生的第三响应信号;获取所述测试麦克风响应所述第一测试信号产生的第四响应信号;若所述第一测试信号、所述第三响应信号以及所述第四响应信号之间是异步关系,则将所述第一测试信号、所述第三响应信号以及所述第四响应信号进行同步处理;基于同步处理后的第一测试信号、第三响应信号以及第四响应信号计算所述前馈通路的第二传递函数;根据所述内置扬声器到所述测试麦克风的传递函数、所述第二传递函数和第二子预设目标校准函数计算所述前馈抑噪滤波器的校准参数。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待测耳机还包括内置扬声器、前馈麦克风以及反馈麦克风,所述抑噪滤波器包括前馈抑噪滤波器和反馈抑噪滤波器,所述内置
扬声器、所述反馈抑噪滤波器和所述反馈麦克风依次电性连接组成反馈通路,所述前馈麦克风、所述前馈抑噪滤波器和所述内置扬声器依次电性连接组成前馈通路;所述测试设备包括测试麦克风;所述测试信号包括第一测试信号,所述第一测试信号为频率范围包含20hz~20000hz频谱的测试信号;所述基于所述测试信号,以及所述待测耳机与所述测试设备的交互信号,计算所述待测耳机的校准参数的步骤包括:获取所述反馈麦克风响应所述内置扬声器产生的第一响应信号;获取所述测试麦克风响应所述内置扬声器产生的第二响应信号;若所述第一测试信号、所述第一响应信号以及所述第二响应信号之间是异步关系,则将所述第一测试信号、所述第一响应信号以及所述第二响应信号进行同步处理;基于同步处理后的第一测试信号、第一响应信号以及第二响应信号计算所述反馈通路的第一传递函数;根据所述第一传递函数和第一子预设目标校准函数计算所述反馈抑噪滤波器的第一子校准参数;获取所述前馈麦克风响应所述第一测试信号产生的第三响应信号;获取所述测试麦克风响应所述第一测试信号产生的第四响应信号;若所述第一测试信号、所述第三响应信号以及所述第四响应信号之间是异步关系,则将所述第一测试信号、所述第三响应信号以及所述第四响应信号进行同步处理;基于同步处理后的第一测试信号、第三响应信号以及第四响应信号计算所述前馈通路的第二传递函数;根据所述内置扬声器到所述测试麦克风的传递函数、所述第二传递函数和第二子预设目标校准函数计算所述前馈抑噪滤波器的校准参数;所述校准参数包括所述第一子校准参数和所述第二子校准参数。5.根据权利要求2或4所述的方法,其特征在于,所述基于同步处理后的第一测试信号、第一响应信号以及第二响应信号计算所述反馈通路的第一传递函数的步骤,包括:基于同步处理后的第一响应信号,计算从所述内置扬声器到所述反馈麦克风的第一子传递函数;基于同步处理后的第二响应信号,计算从所述内置扬声器到所述测试麦克风的第二子传递函数;所述第一传递函数包括所述第一子传递函数和所述第二子传递函数。6....

【专利技术属性】
技术研发人员:黎兴荣
申请(专利权)人:黎兴荣
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1